平成 27 年度第 1 回残留ひずみ・応力解析研究会平成 27 年度文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業微細構造解析プラットフォーム第 1 回放射光利用研究セミナー共催：中性子産業利用推進協議会，茨城県中性子利用促進研究会 (一財)総合科学研究機構(CROSS 東海)，SPring-8 ユーザー協同体 JAEA 微細構造解析プラットフォーム，NIMS 微細構造解析プラットフォーム協賛：J-PARC/MLF 利用者懇談会日本材料学会 X 線材料強度部門委員会開催日時：平成 27 年 10 月 13 日(火)10:00-17:05 場所：エッサム神田ホール 401 会議室〒101-0045 東京都千代田区神田鍛冶町 3-2-2 TEL: 03-3254-8787 参加費：参加費は無料ですが，資料代として 5,000 円いただきます．なお，中性子産業利用推進協議会の会員の皆様と大学，研究機関の方は無料です．それ以外の方は事務局までご相談ください．資料代は当日徴収させていただきます．テーマ名：X 線，パルスおよび定常中性子源による残留応力評価趣旨：機械構造部材の強度評価においては溶接や機械加工などにより導入される残留応力の評価が極めて重要である．特に，非破壊手法による残留応力測定技術に対する期待が大きい．本研究会においては，現場用 X 線応力装置とその現場への応用，ならびに，世界のパルス・原子炉中性子源における応力測定装置の概要と実機部材への適用事例を紹介する．プログラム 10:00~10:05 開会挨拶主査秋庭義明（横浜国立大学） 10:05~10:30 J-PARC/MLF の概要と中性子の産業利用林眞琴（茨城県）＜現場用 X 線装置＞ 10:30~11:00 3 軸応力測定を視野に入れた X 線残留応力測定法とその適用例横山亮一（リガク） 11:00~11:30 ポータブル型 X 線残留応力測定装置の基礎と活用事例紹介野末秀和（パルステック工業） 11:30~12:00 2 ディテクター方式による X 線残留応力測定鹿島康雄（ﾌﾟﾛﾄﾏﾆｭﾌｧｸﾁｬﾘﾝｸﾞ） 12:00~13:00 昼食＜放射光装置＞ 13:00~13:30 微細構造解析プラットフォームの概要と SPring-8 における残留応力測定の現状菖蒲敬久（JAEA）＜中性子源応力測定＞ 13:30~14:10 NRU における中性子の産業応用 Ron Rogge (Canadian Nuclear Laboratories，カナダ) 14:10~14:50 ANSTO KOWARI の概要と残留応力測定例 Anna Paradowska (ANSTO，豪州) 14:50~15:00 休憩 15:00~15:40 80mm 厚肉溶接部の中性子による残留応力測定 Wan Chuck Woo (KAERI，韓国) 15:40~16:20 ORNL の VALCAN および NSRF の概要とその産業への応用 A. Payzant (ORNL,USA) 16:20~16:50 J-PARC における匠とそのエンジニアリング科学ハルヨ（J-PARC） 16:50~16:55 閉会挨拶秋庭義明(横国大)/林眞琴(茨城県) 交流会：17:20～19:20 神田駅近くの「ワインホール 130」で交流会を開催します．参加費は 2,000 円です．講演者と参加者のざっくばらんな意見の交換の場になりますので，是非ご参加ください．参加希望者は 10 月 7 日(水)までに登録してください．参加費は当日いただきます．なお，当日キャンセルされた場合には参加費をいただきます．＜参加申込み先＞中性子産業利用推進協議会事務局大内薫 E-mail: [email protected] (1)名前，(2)所属，(3)連絡先(電話番号，E-mail address），(4)交流会への参加の有無 (領収書を発行します) をご記入の上，メールにてお申込みください．＜会場へのアクセス＞＜貸し会議室＞エッサム神田ホール東京都千代田区神田鍛冶町 3-2-2 JR 神田駅北口徒歩 1 分東京メトロ銀座線神田駅 3 出口前 http://www.essam.co.jp/hall/access/ ＜交流会場のご案内＞会費：2,000 円時間：17:20～19:20 会場：ワインホール 130 （右の案内図をご参照ください） http://tabelog.com/tokyo/A1310/A131002/13144314/ 東京都千代田区内神田 3-18-8 ナルミビル 4F TEL: 03-5295-2525 JR神田駅