別　記規　格品　目ゼータ電位・粒径測定システム数量大塚電子㈱製一式（内訳）本体　ELSZ-2000N 1式 pHタイトレータ 1式平板用セルユニット 1個低誘電率セルユニット 1個（搬入，据付，調整を含む）又は，これと同等のもので本学が認めたもの。備考仕　様　書品数納入場その目量所他ゼータ電位･粒径測定システム一式国立大学法人岡山大学新技術研究センター当該物品の供給については，国立大学法人岡山大学が定めた物品供給契約基準によるほか，下記の仕様によるものとする。記（性能・機能に関する要件） 1.本体は、以下の要件を満たすこと。 1-1 粒径測定範囲は、0.6nm～10μmの範囲以上であること。 1-2 ゼータ電位測定範囲は、－200mV～＋200mVの範囲以上であること。 1-3 光源は、半導体レーザーであること。 1-4 10℃～90℃の範囲以上の温度調整機能を有すること。 1-5 リニア相関計とlog相関計の２つの光子相関計を有すること。 1-6 ゼータ電位測定において電気浸透プロットを測定できる機能を有すること。 1-7 平板状やフィルム試料の表面ゼータ電位を測定できる機能を有すること。また、平板サンプルの対応サイズは最小Ｗ34mm×Ｄ14mm～最大Ｗ36mm×Ｄ16mmの範囲以上であること。 1-8 1-9 1-10 1-10-1 1-10-2 1-10-3 1-10-4 1-10-5 1-10-6 1-10-7 1-10-8 誘電率の低い非極性溶媒系でのゼータ電位を測定できる機能を有すること。外形寸法は、Ｗ400mm×Ｄ600mm×Ｈ250mmの範囲以内であること。データ処理装置は、以下の要件を満たすこと。ノート型パソコンであること。 OSは、Microsoft社製Windows 7相当以上であること。 CPUは、Intel社製 Core i5-4310U 2.0GHz相当以上であること。主記憶容量は、1GB以上であること。ハードディスクは、物理容量で20GB以上であること。カラー液晶ディスプレイの解像度は、1280×800以上であること。 A4対応のモノクロのレーザープリンタが付属すること。解析ソフトウェアは、ゼータ電位解析(Smoluhowskiの式、Huckelの式)、電気浸透流解析(森･岡本の式)、平均粒子径解析、粒度分布解析(Marquardt法、Contin法、NNLS法、Unimodal法を含む4種類以上)の機能を有すること。 2.pHタイトレータは、以下の要件を満たすこと。 2-1 pHや添加剤濃度に対するゼータ電位や粒径の変化を自動測定する機能を有すること。 2-2 pH範囲は、pH1～pH13の範囲以上であること。 2-3 滴定モード、添加剤モード、循環モードの測定モード機能を有すること。 2-4 滴定分解能は、0.1μL以下であること。 2-5 外形寸法は、Ｗ300mm×Ｄ350mm×Ｈ300mmの範囲以内であること。（性能・機能以外に関する要件） 3.その他は以下の要件を満たすこと。 3-1 納入検査後1年間は、通常使用により故障した場合は無償修理に応じること。 3-2 機器の搬入、据付、調整を含むものとする。以　上