ｲｵﾝｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌｨ-による遷移金属ｲｵﾝの測定半導体材料や電子材料の信頼性の向上に，金属イオンの低減が求められています。遷移金属イオンの価数の分析や微量イオンの定量に，ポストカラム法を用いたイオンクロマトグラフィーが有効です。当社では，遷移金属イオンの定性及び定量分析を受託しています。どのような結果が得られるのか試してみたいなどの要望にお答えすることも可能ですので，お気軽にお問い合わせください。ポストカラム法イオンクロマトグラフィーの特徴・一般的な電気伝導度検出器では電気伝導度の低い成分を分析できませんが，ポストカラム法ならば遷移金属イオンの分析も可能です。・高濃度のマトリックスの影響を受け難いため，微量のイオンを定量できます。・ICP などの元素分析法では分からないイオンの価数の情報が得られます。ポストカラム法イオンクロマトグラフィーの原理インジェクタ ① 分離カラム溶離液 ② ③ 反応コイル検出器反応試薬システム概略図 ① イオン成分をカラムで分離します。 ② 目的成分と特異的に反応する試薬を混合して，紫外または可視光吸収物質に変化させます。 ③ 目的成分由来の物質を，ＵＶ／ＶＩＳ検出器で高感度に検出します。ホームページ http://www.hitachi-chem-ts.co.jp 受託分析のご依頼、ご質問は http://www.hitachi-chem-ts.co.jp/inquiries/index.html 日立化成テクノサービス株式会社分析・技術部門分析部五井分析グループ真下清孝 Tel:0436-23-8697 〒290-8567 千葉県市原市五井南海岸14 鉄イオン，銅イオンの測定例鉄(Fe)，銅(Cu)，ニッケル(Ni)，亜鉛(Zn)イオンは同一条件で測定できます。 Fe3+イオンと Fe2+イオンのピークは明瞭に分離して検出されました。 Cu2+ mAU Fe3+ Fe2+ 時間(min) 図１ポストカラム法によるFe3+, Fe2+, Cu2+ のイオンクロマトグラム (Fe3+, Fe2+, Cu2+ のイオン濃度： 1 ppm）遷移金属イオンの検出限界定量分析の実績がある遷移金属イオンについて，検出限界を表１に示します。その他の遷移金属イオンについても検討しますので，お問合せください。表１各種遷移金属イオンの検出限界(ppm) Cu2+ Fe3+ Ni2+ Zn2+ Al3+ Ti4+ 0.001 0.01 0.3 0.01 0.05 5 ホームページ http://www.hitachi-chem-ts.co.jp 受託分析のご依頼、ご質問は http://www.hitachi-chem-ts.co.jp/inquiries/index.html 日立化成テクノサービス株式会社分析・技術部門分析部五井分析グループ真下清孝 Tel:0436-23-8697 〒290-8567 千葉県市原市五井南海岸14