データ取得・解析ソフトウェア各￥600,000より (A/D変換ボード付の選択可) さまざまな光源を用いた「CRD分光法」および「周波数変調分光法」のデータ取得および解析を行うソフトウェアです。A/D変換ボードと組み合わせることにより、オシロスコープを使用することなく、「データの取得」「解析」「保存」を行うことが可能です。安価なＡ/Ｄ変換ボードを利用することにより、低コスト化を実現しました。 CRD分光法用プログラム・パルス光型CRD分光法(pulsedCRDS)、連続光型CRD分光法 (cw-CRDS)、に使用可能です。・リングダウン波形の取り込み、および、指数関数フィッティングを行い、リングダウン速度(s-1) を計算します。＜オシロスコープ表示モード＞・データ取得および解析における様々なパラメーター(取り込み範囲・フィッティング範囲・積算回数等)を容易に設定できます。＜解析手法の設定画面＞・レーザー波長の制御、及び2種類のレーザー間の発振タイミングの制御が可能であり、「波長スキャン」「Delayスキャン」の 2つの計測モードがあります。＜波長スキャンモード＞(図はHFのスペクトル) (使用レーザー例) 色素レーザー(LambdaPhysik), OPOレーザー(Spectra- Physics), 半導体レーザー(santec)など基本性能縦軸分解能 12 bit サンプリングレート (最小横軸分解能) 50-100 MS/s (10-20 ns) 縦軸電圧レンジ 0.01-20 V(選択可) 横軸時間レンジ 10-8-10-1 sec(選択可) データ取得繰り返し最大25 Hz程度1) ノートPC対応可 1) PCの性能・データポイント数に依存する周波数変調分光法用プログラム (図はCO2のスペクトル) ・変調された信号を取り込み、積算・平均化を行い、スペクトルを表示するプログラムです。FFTローパスフィルター機能により直感的かつ高精度にノイズを除去することが可能です。 (使用レーザー例) 半導体レーザー(NTT Electronics, Anritsu など) 基本性能縦軸分解能 16 bit データ取得繰り返し最大50 Hz程度1) 縦軸電圧レンジ -10-10 V(固定) ノートPC対応可 1) PCの性能・データポイント数に依存する