A2 高温超伝導薄膜の面内方向熱伝導率の低温・強磁場下での測定 Measurement of In-Plane Thermal Conductivity for High-Tc Superconducting Films under Low Temperature and High Magnetic Field 研究の目的 Objectives 方法と範囲 Method and Ranges 最近の発表 Recent Publications 超伝導とは、ある温度(臨界温度:Critical Temperature)以下 で電気抵抗がゼロになる現象である。高い臨界温度を持つ高 温超伝導体のメカニズムは、未だ解明されていない。高温超 伝導のメカニズムの解明がなされれば、より高い臨界温度を 持つ超伝導体の作製が実現する可能性がある。 薄膜の面内方向熱伝導率(In-Plane Thermal Conductivity)を測 定することができれば、超伝導状態のフォノンと電子の挙動 に関する知見がより詳細になると考えられる。 そこで本研究では、非接触で熱伝導率の測定が可能な周期加 熱サーモリフレクタンス法を採用し、実用環境である極低 温・強磁場下(4 K~, ~7 T)で、イットリウム系高温超伝導 材料である YBCO 薄膜の面内方向熱伝導率の測定を行うこ とを目的としている。 面内方向熱伝導率の測定のために YBCO 薄膜の自立膜の作 製を行い、測定は周期加熱サーモリフレクタンス法 (Photothermal Reflectance Method)を用いて行う。光強度を正弦 変調した加熱用レーザーで試料を周期加熱すると、試料内部 に周期的な温度応答が生じる。この周期的な温度変化を試料 表面の反射率変化によって捉え、観察用レーザーを照射する ことによって検知する。検知した観察光と加熱光の間には位 相差(Phase-lag)が生じており、位相差には試料の情報が含ま れている。この位相差と変調周波数の関係を解析することに よって、試料の熱伝導率を求めることができる。 Ikeda et al., J. Appl. Phys., 113, 183517, (2013). Murakami et al., 20th European Conference on Thermophysical Properties, Porto (2014). 後藤ほか, 第 52 回日本伝熱シンポジウム, (2015).(発表予定) (後藤, 田口, 長坂) (Goto, Taguchi, Nagasaka)
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