Schnelle Materialanalyse von Oberflächen und

F R A U N H O F E R - I N S T I T U T F Ü R P h y si k a l is c he M esste c hni k I P M
Kathode Dis
Mittlere Intensität [b.e.]
1.0
0.8
222
1 Das vom Laserpuls erzeugte Plasma
leuchtet materialcharakteristisch, sodass
durch eine spektrale Analyse die Element-
Fe
Li
0.6
0.4
0.2
1
Laser
532 nm
Fe
Fe
0.0
350
400
P
450
500
550
600
650
700
750
Wellenlänge [nm]
schnelle materialanalyse
von oberflächen und beschichtungen
zusammensetzung der Oberfläche bestimmt
werden kann.
2 Bereits mit einem Laserpuls detektiert man
Großflächige Oberflächenzusammen-
Fraunhofer IPM bietet Messsysteme für
gleichzeitig alle an der Oberfläche vorhande-
setzungen blitzschnell bestimmen
die Analyse der Verteilung der chemischen
Elemente an Materialoberflächen sowie
nen Elemente mit hoher Spezifität.
Die Oberfläche eines Bauteils ist oft der
an Beschichtungen an. Mit wenigen
Schlüssel zu seiner späteren Funktionalität
Lichtpulsen wird die Zusammensetzung
Fraunhofer-Institut für
– doch häufig auch verantwortlich für
von Oberflächenschichten zuverlässig und
Physikalische Messtechnik IPM
vorzeitigen Verschleiß oder mechanisches
präzise bestimmt.
Versagen. Aus diesem Grund werden die
Heidenhofstraße 8
Oberflächen vieler Bauteile besonders
79110 Freiburg
aufwändig behandelt und vergütet: mit
Messprinzip
Antikorrosionsschichten, Härtungsschichten
Ansprechpartner
PD Dr.-Ing. Albrecht Brandenburg
und vermehrt auch mit oft hauchdünnen
Bei der laserinduzierten Plasmaspektrosko-
und hochspezialisierten funktionalisieren-
pie (LIPS) wird mithilfe eines Pulslasers ein
den Schichten.
kleines Volumen einer Objektoberfläche
Gruppenleiter
mit einem Durchmesser von 10 – 100 µm
Optische Oberflächenanalytik
Mit den stetig steigenden Qualitätsanforde-
in ein Plasma verwandelt. Dabei werden
Telefon +49 761 8857-306
rungen an alle Bauteile in der industriellen
die Atome in diesem Volumen ionisiert und
[email protected]
Fertigung steigen auch die Anforderungen
einige ihrer Elektronen herausgelöst. Ein
an Qualität und Vergütung von Oberflä-
sogenanntes Plasma wird erzeugt. Beim
Jan Schütz
chen. Sichtprüfungen reichen hier in der
anschließenden Einfangen der Elektronen
Telefon +49 761 8857-742
Regel nicht mehr aus, um bewerten zu
entsteht ein materialtypisches Emissions-
[email protected]
können, ob die Oberfläche eines Bauteils
spektrum, das vom Plasma abgestrahlt wird.
den vielfältigen Anforderungen wie z.B.
Dessen spektrale Analyse liefert Informatio-
Vollständigkeit, Homogenität oder korrekte
nen zur chemischen Zusammensetzung der
Zusammensetzung genügt.
Oberfläche am Ort des Laserfokus.
www.ipm.fraunhofer.de
3
4
Einsatz für die Qualitätsanalyse
ƒƒ hohe Ortsauflösung der Elementkonzentration: Probenbereich unter 100 µm
Ist die chemische Zusammensetzung
bestimmt, kann diese zu analytischen
Zwecken ausgewertet, oder – interessant
für die Qualitätskontrolle – mit Sollwerten
verglichen werden. Der relative Anteil der
Elemente wird innerhalb von Millisekunden
bestimmt: Eine Zinkphosphatbeschichtung
auf einem Stahlteil kann beispielsweise in
Echtzeit zuverlässig ausgewertet werden.
ƒƒ Nachweis von Elementkonzentrationen
bis in den ppm Bereich möglich
ƒƒ keine Probenpräparation notwendig,
Gase, Flüssigkeiten, Feststoffe analysier-
duktionsschritten beste Ergebnisse erzielt
werden können. Der Beschichtungsprozess
kann damit geregelt und überwacht werden. Aufgrund der hohen Ortsauflösung
kann die beschichtete Oberfläche bildgebend analysiert und dargestellt werden.
bar
ƒƒ Inline-Integration möglich, z. B. scannend über die Rollenbreite
ƒƒ Analyse extrem harter Materialien
möglich
Damit können die Beschichtungsprozesse
Teile-(Eingangs)kontrolle
Mit LIPS kann die Zusammensetzung eines
zugelieferten Bauteils oder Werkstoffes
zuverlässig analysiert werden. So kann
etwa die Qualität von goldbeschichteten
gezielt geregelt werden, um die Werkstück-
Aufgrund dieser Eigenschaften ergeben
elektrischen Kontakten bereits bei der
qualität zu gewährleisten.
sich vielfältige Anwendungsmöglich-
Anlieferung bestimmt werden.
keiten zur Bestimmung der chemischen
Wird der Laserpuls auf verschiedene Stellen
Zusammensetzung der Oberfläche in der
Recycling
des Werkstücks gelenkt, kann die räumliche
Produktion von Werkstoffen und Bauteilen.
Im Bereich des Recycling können
Verteilung und Homogenität der Oberflä-
Fraunhofer IPM ermöglicht mit seinen
LIPS-Messmethoden eingesetzt werden,
chenzusammensetzung direkt bestimmt
Messsystemen, diese Technologie auch
um unterschiedliche bekannte Stoffe in
werden. Durch wiederholtes Pulsen an der
für Inline-Anwendungen zu nutzen:
wenigen ms zu erkennen.
© Fraunhofer IPM 04/2015; Bilder: Fraunhofer IPM
gleichen Stelle erhält man auch in der dritten Dimension die Daten zur elementaren
Werkstoff-Herstellung und Sortierung
3 Gezeigt wird eine Schraube mit
Zusammensetzung des Bauteils: bei jedem
Die Reinheit und Zusammensetzung der
mit Zink-Phosphat-Beschich-
Puls wird ein kleines Volumen abgetragen
Werkstoffe kann in Sekundenbruchteilen
tung. Die mit LIPS analysier-
und damit die nächsttieferliegende Schicht
ermittelt werden. So kann beispielsweise
te Stelle ist rot markiert.
analysiert (Abb.3).
die Verteilung von Materialphasen oder
4 LIPS-Spektrum der in Abb. 3
Verschmutzungen in Metalllegierungen
gezeigten Schraube bei mehrfa-
kontrolliert werden.
cher Bestrahlung mit je einem
Vorteile der laserinduzierten
Plasmaspektroskopie
Laserpuls. Beim ersten Puls do-
Beschichten und Oberflächen­
minieren Zink und Phosphor. Je
bearbeitung
tiefer die Pulse in die Beschich-
In Fertigungsprozessen, in denen
tung vordringen, desto stärker
bis zu einem Abstand von 50 cm
Oberflächen beschichtet werden, kann mit
tritt das Eisensignal hervor.
realisierbar
LIPS zuverlässig geprüft werden, ob das
Nach hundert Pulsen, was in
ƒƒ schnell, bis in den kHz Bereich
Beschichtungsergebnis den Anforderungen
diesem Fall einer Eindringtiefe
ƒƒ nahezu zerstörungsfrei, pro Puls weniger
in Zusammensetzung und Homogenität
von ca. 300 µm entspricht, ist
entspricht, sodass in den folgenden Pro-
nur noch Eisen nachweisbar.
ƒƒ berührungslos, da optisches Verfahren,
als 1 µg Abtrag