粒子径測定もシングルナノの領域へ！
―サブミクロン粒子アナライザー N5―
サブミクロン粒子測定装置 N5 は、今まで難しいといわれていたシングルナノ（十数 nm～数 nm）粒子の測定
を可能となりました。実際に製造された数 nm の金属粒子測定したデータを紹介します。
1. 測定装置
ベックマン・コールター社製 N5
・ 測定範囲 ： 3～3,000nm
・ 測定原理 ： 光子相関法†1
2. 測定サンプル
金属微粒子（推定 3~7nm）
3. 測定結果
測定結果はグラフの通りです。
平均粒子径は 4.9nm なので
サンプル製造時の推定値
金属微粒子（推定 3~7nm）
に合う結果が得られました。
N5 は測定可能限界ぎりぎり
の微粒子まで、きちんと測定
することが可能です。
†1 弊社の粒度分布測定装置 LS シリーズの光散乱・回折法を静的光散乱法というのに対し,この方法のことを動的光散乱ということもある。流体中で
ブラウン運動を行っている粒子からの散乱光を検出して拡散係数を測定し,粒子径を決定する方法。
PCF300610