PID 評価システム PV モジュールの出力低下を起こす PID 現象高温高湿環境下で PID 現象によるリーク電流を自動計測太陽光発電システムに起きるPID（Potential Induced Degradation）現象とは、PV モジュールのフレームとモジュール回路に生じた大きな電位差によるリーク電流が引き起こす劣化現象です。PID 現象は、太陽光発電システムの出力を低下させる要因の一つと考えられ、湿度によりその現象は促進すると言われています。エスペックの PID 評価システムは、この PID 現象の評価を正確に実施するために、高精度・再現性に優れた高温高湿環境下で高圧電流を印加し、リーク電流を測定します。PV モジュールの劣化評価に欠かせないシステムです。特長恒温恒湿槽と電圧印加絶縁抵抗計測システム PID 現象によるリーク電流の流れ（フレーム⇔セル間） ● 試験時の安全性や PVモジュールのセッティングを容リーク電流ガラス易にした恒温恒湿槽と、フレーム・セル間のリーク電流測定やシステム全体を制御する高電圧印加絶縁抵抗計測システム部から構成されています。セル＋ − 恒温恒湿槽はモジュールサイズに合わせてお選びい封止材ただけます。バックシート 10 枚の PV モジュールを同時に測定 PV モジュール（最大：1,800×1,500×50 mm）10 枚フレームそれぞれに±1.5kVまでの高電圧を印加して、リーク電流を測定・記録します。恒温恒湿槽（内槽部）と電気的に絶縁した状態で高電圧試験に対応した様々な安全仕様設置できる樹脂製絶縁材を用いたラックを付属して高電圧試験中に誤って扉を開けないように扉は施います。錠扉とし、さらにインターロックにより扉開時に電圧印高電圧帯電を防止する、独立アース処理加強制停止します。恒温恒湿槽の扉内側板・内装・トランス二次側の電機部品を、個々のアースターミナルへ配線し、感電事故を防ぎます。機能 ● 内槽故障判定機能故障判定するリーク電流値を予め設定しておき、その値を超えた PV モジュールへの高電圧印加を停止します。 ● 高速リーク検出機能 20msec の測定スピードでリーク電流を検出します。リーク電流の急激な変動も検知します。 ● スロー電圧印可制御機能高電圧上昇時に PV モジュールの負荷を抑えるため、段階的に電圧を上げることにより負荷を低減させています。仕様（例）恒温恒湿槽 FMS-4050 温湿度制御範囲温湿度分布内法外法 − 40℃∼＋ 100℃／ 40％∼ 95％ rh ■ ± 1.5℃／± 5％ rh 受託試験 PID 現象評価試験エスペックの 4 つの独立試験所で「PID 現象評価試験」を受託いたします。詳しくはお問い合わせください。 W1200×H1650×D2000mm W1720×H2370×D3300mm （ただし突起部は除く） ※ モジュールサイズやモジュール枚数により、ご要望に合わせた恒温恒湿槽をご用意いたします。エスペック試験所＜ IECQ 独立試験所＞宇都宮試験所・刈谷試験所・豊田試験所・神戸試験所計測システム部 AMIK-2000 印加電圧範囲 ± 10V ∼± 1500V （極性は中継ボックス部にて差替変更）リーク電流測定範囲 ± 0.1ｐA ∼±１mA （表示は正極性の絶対値表示）高速リーク検出機能範囲検出速度チャンネル数外法 ±４μ A ∼ 100μ A 約 20msec 20ch W530×H1750×D1040mm （中継ボックス部除く） □ □ □ □ □ □ □ 仙台宇都宮つくば熊谷東京西東京神奈川 Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: 022-218-1891 028-667-8734 029-854-7805 048-520-2360 03-6402-3592 042-501-2571 03-6402-3595 □ □ □ □ □ □ □ 静岡名古屋金沢滋賀大阪広島福岡 Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: Tel: 054-237-8000 052-777-2551 076-268-1891 0748-72-5077 072-834-1323 082-830-5211 092-471-0932 YF10B24L03 （2012 年 10 月現在 ①）