PM と触媒試料のルースコンタクト活性評価の標準化（産総研） ○ 内澤潤子・小渕存【ルースコンタクト混合条件の検討】  試料：標準触媒＝Ag/CeO2（三井金属製）、模擬 PM＝三菱化学#2600 （注：模擬 PM は 2013 年配布のものを使用。今年度配布 Printex V は混合に難あり→状況報告予定）  活性試験使用機器・方法：常圧固定床流通反応装置を用いた昇温プログラム反応（TPR)  活性評価：6cc スクリュー管内で PM2mg と触媒 200mg を、①振とう、②スパチュラを用いた撹拌、③超音波洗浄器を用いた手法、により混合した（PM 混合率=1wt%）。これに局所的な発熱を防ぐための石英砂(0.5g)を加えて希釈した混合試料を石英ガラス製リアクタ（内寸 10mm）に設置し、乾燥空気 300ml/min を流通させ 110℃ で 1h 保持後 750 ℃まで 10 K/min で昇温。TPR プロファイルは、総面積が一定となるように縦軸を規格化した。  結果 PL ピーク面積比 P L PL PT PT 図：振とう混合において振とう回数を 1∼1000 回としたサンプルの TPR プロファイル(左)およびピークの変化(右) いずれの場合も 300 および 550℃付近の二つのピークをもつ TPR プロファイルを示した。前者がタイトコンタクト (PT)、後者がルースコンタクト(PL)に由来するピークであると推察された。振とう回数が 50 回を超えると全体プロファイルに対する PL ピークの面積比は急激に減少した。このことからピーク温度が初期の比較的一定となる範囲に収まっている 50 回程度の振とう混合を標準的なルースコンタクト形成条件として提案したい。なお、スパチュラおよび超音波による混合でも同様のプロファイルが観測された。【ルースおよびタイトコンタクトの考え方】 Ag/CeO2 による PM 酸化の TPR プロファイルにおいて、PT は Ag やスピルオーバー酸素等の直接接触による酸化、PL は CeO2 からの活性酸素による酸化に起因したものであると推察される。このことから、直接接触により酸化 PT できる距離の接触をタイトコンタクト、触媒起源の気相（活性酸素など）を介して酸化できる距離（ミクロンオーダー程度）の接触をルースコンタクトと定義したい。昨年、我々は触媒本来の活性評価のためには、タイトコンタクトでも触媒粒子を粉砕せずに PM と混合する必要があると主張した。粉砕が伴う形で PM と混合すると、元々の触媒表面が破壊され活性成分の表面濃度や PM とのコンタクト状況が現実と異なってしまうためである。このような問題を回避するため、①触媒を粉砕しない（ボールミルの粉砕ボールを入れない）状況で、②触媒外表面に PM 全量が直接付着した状態になるように長時間（1 時間以上）混合し、③さらにタイトコンタクトポイントの面積的な制約を受けないよう、PM 混合率を少なくする（1wt%以下）という方法を提案した。特に Ag/CeO2 のような、PT および PL が混在する TPR プロファイルについて、ルースおよびタイトコンタクト活性を整合性よく評価するためにも、触媒粒子を粉砕せずに PM と混合することが重要であると考える。