蓄電池基盤プラットフォーム利用料金表（成果公開用）

蓄電池基盤プラットフォーム利用料金表（成果公開用）
料金は、1時間あたり（税抜）の金額です。
装置
番号
1
装置名
装置メーカー
装置型式
スーパードライルーム
新菱冷熱工業
スーパードライルーム
2
小型電池試作装置群
(501)
超音波溶接機
（Branson 2000Xea）
真空シーラー
（宝泉 SV-150G2HS)
(503)
ミキサー
（シンキー ARE-300）
自動塗工機（イーガー）
ロールプレス（イーガー）
(504)
グローブボックス（VAC
OMINI-LAB, 2box）
（501）
真空乾燥機、
超音波溶接機、
電解液注液ブース、
真空シーラー、カシメ機
（503）
ミキサー、自動塗工機、
乾燥機、ロールプレス
（504）
グローブボックス
3
FTIR（フーリエ変換赤外分光装置） Thermo Scientific
4
レーザーラマン顕微鏡
5
機器利用単価
企業
技術補助/技術代行単価
大学/公的機関
企業
大学/公的機関
2,600
1,300
4,550
2,275
1,300
650
3,250
1,625
Nicolet iS50
1,300
650
3,250
1,625
Nanophoton
RamanTouch-VIS-NIR
1,300
650
3,250
1,625
高速分光エリプソメータ
J.A. WooLLAM
M-2000X
1,300
650
3,250
1,625
6
ガス透過率測定装置
GL Sciences
GTME 2520
1,300
650
3,250
1,625
7
TG/MS
（熱重量測定質量分析装置）
TA Instruments
Discovery
1,300
650
3,250
1,625
8
コンパクトSEM
Agilent
8500
1,300
650
3,250
1,625
9
レーザー顕微鏡
KEYENCE
VK-X200
1,300
650
3,250
1,625
10 粘度計
AntonPaar
Lovis2000ME
1,300
650
3,250
1,625
11 充放電試験機
sai, Espec
580 (16ch) + 恒温槽
1,300
650
3,250
1,625
12 高精度電気化学測定システム
Solartron, BioLogic
12608W, VSP-300, SP200
1,300
650
3,250
1,625
13 単粒子測定システム
KEYENCE, BioLogic,
Micro Support
特型
1,300
650
3,250
1,625
Agilent
Agilent 7700 ICP-MS
1,300
650
3,250
1,625
Waters
Xevo G2-S QTof
1,300
650
3,250
1,625
16 イオンクロマトグラフ
dionex
ICS-2100
1,300
650
3,250
1,625
17 酸素・窒素・水素定量分析装置
HORIBA
EMGA
1,300
650
3,250
1,625
HORIBA
GD-Profiler 2
1,300
650
3,250
1,625
Agilent
Agilent 5977A GC/MS
1,300
650
3,250
1,625
20 電池発生ガス分析装置
JEOL
JMS-700
1,300
650
3,250
1,625
21 XRF（蛍光X線分析装置）
SHIMADZU
LAB CENTER XRF1800
1,300
650
3,250
1,625
22 XPS（X線光電子分光装置）
ULVAC-PHI
VersaProbe II
3,900
1,950
5,850
2,925
23 HAXPES
Omicron
NanoTechnology
ULVAC-PHI
特型
3,900
1,950
5,850
2,925
24 XRD（X線回析装置）
Rigaku
SmartLab
1,300
650
3,250
1,625
25 比表面積測定装置
Micromeritics
3FLEX
1,300
650
3,250
1,625
26 粒子径分布測定装置
HORIBA
LA-950V2　MF
1,300
650
3,250
1,625
27 環境制御型SPM
Bruker AXS
MultiMode 8
1,300
650
3,250
1,625
28 TOF-SIMS
ION-TOF
TOF.SIMS5-AD-GCIB
5,200
2,600
7,150
3,575
29 TEM/STEM
JEOL
JEM-ARM200F(HR)
6,500
3,250
8,450
4,225
30 FIB
JEOL
JIB-4501
2,600
1,300
4,550
2,275
31 FIB-SEM
Hitachi High-Tech
Science
SMF2000
5,200
2,600
7,150
3,575
32 SEM
JEOL
JSM-7800F
3,900
1,950
5,850
2,925
33 走査型オージェ電子分光装置
ULVAC-PHI
PHI710
2,600
1,300
4,550
2,275
34 クロスセクションポリッシャ（CP）
JEOL
IB-09020CP
1,300
650
3,250
1,625
14
15
18
19
ICP/MS
（誘導結合プラズマ質量分析計）
LC/MS
（液体クロマトグラフ質量分析計）
グロー放電発光分析装置
（GD-OES）
GC/MS
（ガスクロマトグラフ質量分析計）
(2014.10.01現在)
【備　考】
1. 上記表は、１時間あたりの利用（支援）に係る利用単価であり、これに利用時間（※）を乗じた金額が利用料金（消費税別）となります。
2. 30分未満の利用については30分として算出し、以後30分単位で利用料金を算出します。
3. 「機器利用」は、『機器利用ライセンス』を付与されたユーザーが自身で操作する支援形態です。
4. 「技術補助」は、ユーザーが来所し、NIMS蓄電池基盤PFスタッフと一緒に装置操作・実験を行う支援形態です（操作トレーニングも含む）。
5. 「技術代行」は、事前の打合せ等で依頼された内容をNIMS蓄電池基盤PFスタッフが実施する支援形態です。
6. 「技術補助・技術代行」の単価は、機器利用の時間単価に「業務コンサル料相当額」の時間単価を加算したものです。
7. 当該料金設定は、平成26年10月1日より適用されます。本料金は、予告なく変更する場合がございます。
※ 利用時間とは、装置予約時間（＝装置占有時間：装置の立ち上げ／終了作業時間含む）です。
実際の利用時間が予約時間に満たなかった場合でも、料金が発生いたします。
ただし、技術補助・技術代行の場合において、装置もしくは支援スタッフの都合にて使用しなかった場合はこの限りではありません。

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