PS-X30 C10142A / C10143A Agilent B2900A 超低周波インピーダンス測定ソフトウェア IV特性評価の定番 B2900A で超低周波インピーダンス測定を実現 • • • • • • B2900Aシリーズ1台で、IV測定 / CV測定をカバー！ 100万円台から超低周波インピーダンス測定を実現！ ±200 VdcまでのCV測定 100 Vrms、1 Armsまでの大信号インピーダンス測定周波数 1 mHz ～ 1 kHz 有機半導体、太陽電池、バッテリーの評価にはじめに本ソフトウェアは、「Agilent B2900A プレシジョン・ソース・メジャー・ユニット（SMU）」を用いて、インピーダンス測定を行うソフトウェアです。DC の IV 特性評価用の測定器である「 B2900A シリーズ」にてAC信号を発生し、電流/電圧をサンプリングすることでインピーダンス測定を行います。インピーダンス 1TΩ B2900A 超低周波インピーダンス測定ソフトの測定範囲 1GΩ 1MΩ 一般のLCRメータの測定範囲 1kΩ 1Ω 周波数 1mHz 1Hz 1kHz 1MHz ▲ インピーダンス測定範囲の比較広いインピーダンス測定範囲電流/電圧測定レンジが広いSMUを用いた測定原理により、1Ω以下から1TΩ超まで幅広いインピーダンスの測定が可能です。一般のLCR メータでは難しい超低周波の静電容量測定に対応できます。データをCSVで保存グラフを画像で保存フォーマットの変更時間軸グラフ低価格で超低周波インピーダンス測定を実現従来、高額な測定システムが必要であった超低周波インピーダンス測定を100万円台の低価格で実現できます。 B2900A 1台で、IV測定とインピーダンス測定の両方に対応「B2900Aシリーズ」1台で、半導体デバイスや電子材料の基本測定であるIV測定とインピーダンス測定の両方に対応できます。特に、有機半導体、色素増感太陽電池、バッテリーなど、応答の遅いデバイスの評価に最適です。 Z-θグラフ Cp-Dグラフ Cole-Coleプロット ▲ B2900A 超低周波インピーダンス測定ソフトウェアのGUI 測定例 SMU1 V Source Drain Pentacene Insulator Gate SMU2 I ▲ SiC MOSキャパシタのCV特性デバイス提供：産業技術総合研究所先進パワーエレクトロニクス研究センター様 10mHz ▲ 有機トランジスタ（ペンタセン）のCV特性 100Hz デバイス提供：物質・材料研究機構国際ナノアーキテクトニクス研究拠点三成剛生様 ▲ リチウムイオン電池のCole-Coleプロット仕様システム要件  Windows XP SP3、Windows Vista、Windows 7  VEE Runtime 9.2以降  Agilent IO Libraries Suite 16.2以降サポートされる測定器 B2902A、B2912A（FW 2.0.1312.2910 以上） 1 mHz to 1 kHz ±（210 V - Vac） ※Vac: AC信号振幅 1 mVrms to 100 Vrms 2A DCバイアス掃引、周波数掃引 Cp、Cs、Rs、Rp、D、G、B、R、X、Z、Y、θ、|Er|、 Er’、Er’’、Vac、Iac、Vdc、Idc、Cole-Coleプロット OPEN/SHORT/LOAD補正 1 pF to 10 nF 100 mΩ to 1 GΩ B2902AまたはB2912A 1台につき1ライセンス（インストールするPCの数は無制限）周波数 DCバイアス範囲信号レベル最大電流掃引機能測定パラメータ補正機能容量測定範囲抵抗測定範囲ソフトウェア・ライセンスアジレント・テクノロジー株式会社本社〒192-8510 東京都八王子市高倉町9-1 計測お客様窓口受付時間9:00-18:00（土・日・祭日を除く） TEL ■■ 0120-421-345 (042-656-7832) FAX■■ 0120-421-678 (042-656-7840) Email [email protected] 電子計測ホームページ www.agilent.co.jp 記載事項は変更になる場合があります。ご発注の際にご確認ください。オーダー情報 PS-X30 C10142A PS-X30 C10143A B2900A 超低周波インピーダンス測定ソフトウェア（スタートアップ・アシスタンス付き） B2900A 超低周波インピーダンス測定ソフトウェア（スタートアップ・アシスタンスなし） ©Agilent Technologies. Inc. 2014 Published in Japan, January 30,2014 5991-2663JAJP 0000-08A