物理層層テストシステム層テスト・システム PLTS S2013 高速速デジタル基板、コネクタ、ケーブル設計計/評価エンジニア向け実環境で直面する様々な問題に対応し、デザイン、解析、トララブルシューティングを統合的に扱え、生産性がが大幅に向上します インピー インピーダンス／周波数特性評価ダンス／周波数特性評価ミックス・モードSパラメータ表示で、差動伝送路の物理特性を周波数ドメイン 67GHzまで評価 TDR/TDT 時間軸表示で、伝送路の特性を評価アイパターン表示とマスク試験仮想デジタル信号伝送時のアイパターンを算出、コンプライアンス試験に則った Eye/Mask マスク試験も可能 Test リミットテストでコンプライアンス試験にも対応 SI評価 Eyeパターン・シミュレーション  疑似ランダム信号にジッタ印加やエンファシス印加が可能ンシス印加が可能  隣接差動ラインの結合  隣接差動ラインの結合を考慮したEye解析が可能を考慮したEye解析が可能  Rxイコライザ設定可能 冶具補正De-embed Auto Fixture Removal  不要な給電線路の2倍のテストクーポンを作成し、AFRで分割することが可能に成割が 2倍のThruを作成４Port測定 (周波数特性) 不要な給電線路給線路アジレント・テクノロジー株式会社本社〒192-8510 東京都八王子市高倉町9-1 計測お客様窓口受付時間9:00-18:00（土・日・祭日を除く）半分の周周波数特性を計算しフファイルを出力除去後 TEL ■■ 0120-421-345 (042-656-7832) FAX■■ 0120-421-678 (042-656-7840) Email [email protected] 電子計測ホームページ www.agilent.co.jp 記載事項は変更になる場合があります記載事項は変更になる場合があります。ご発注の際にご確認ください。除去去前 ©Agilent Technologies. Inc. 2013 不要な特性の除去が可能 Published in Japan, March 11,2013 5991-2134JAJP 0000-08A