A-7 うず電流探傷技術を用いたPCB検査に おける画像処理に関する研究 環日本海域環境研究センター 生体機能計測研究部門 井波 孝仁 もくじ 1.はじめに 研究対象 研究背景,目的 2.PCB探傷原理 3.計測結果と差分処理 4.複数の断線を持つ配線の探傷 5.PCB配線の探傷試験 6.まとめ 1.プリント基板(PCB)配線 90° 0° 実際のプリント 基板(PCB) 実験で使用した 配線モデル 1.現在用いられているPCB検査方法 光学的検査 利点 非接触、高速 電気的導通検査 両検査方法の利点を 併せ持つ 利点 導通性の確認が可能 うず電流探傷検査 自動化 問題点 導通性の確認が不可能 2値化 問題点 接触、探傷時間 2.PCB探傷原理 断線 微小な傷部分の信号 2.ECTプローブの構成 検出部 巨大磁気抵抗効果センサ 高感度方向:z方向 利点 数十mmオーダの微小なサイズ, 励磁部 ミアンダコイル 一つの高感度方向を持つ. 利点 プリント基板(PCB)配線の 両端に逆方向のベクトルを 持ったうず電流を流す 電流 3.計測結果 プリント配線 x方向走査 配線 x方向差分 配線が出力 される 傷 z方向走査 z方向差分 傷が出力さ れる プリント配線 3.差分処理の利点 計測結果 X方向差分 4.複数の断線を持つ配線の探傷 x方向に1回差分処理をした画像 見逃し x方向走査 誤認 抽出 x方向差分 x方向差分結果 x方向差分結果 出力信号 4.複数の断線を持つ配線の探傷 z方向にも差分処理をした結果 他では 使えない しきい値 誤認 見逃し x方向差分結果 出力信号 感知 z方向差分 x,z方向差分結果 出力信号 他でも 使える しきい値 5.PCB配線の探傷試験 z方向差分 傷部分の信号の みが出力されて いる 探傷可 2値化 x方向差分 配線幅 130mm 計測点幅 200mm 45°方向差分 2値化 配線部分の出力 がキャンセルされ ていない 探傷不可 6.まとめと今後の展開 まとめ 1. 2方向差分処理によって探傷の確度上昇 2. 2値化処理によって探傷の自動化に前進 3. 前年の研究の40倍の計測点幅で高速化 傾斜を持った配線の探傷 45°,135°方向の配線の探傷は現段階では行え ないが,プローブの走査方向を45°方向もしくは 135°方向にずらすことで,探傷は可能である 傷のある配線の磁束変化 直線上配線 パッド、断線のある配線 x方向うず電流無 x方向うず電流有 検出磁束無 検出磁束有 5.欠け傷に対しての有用性 x方向走査 x方向差分 z方向差分 傷幅,配線幅判明 傷幅,配線幅不明 z方向走査 x,z方向差分 断線,欠け傷ともに傷 部分が出力 傷の種類の区別はつか ないが存在は判別可能 励磁磁場の均一性 中心部分が均一性 が高い 上面の磁場 励磁周波数 5MHz I=200mA 断面の磁場 表皮深さ 29mm 前年の研究手法 配線部分の出力が歪んでいると シミュレーションで作成したイメー ジとの差が大きくなるため探傷が 不可能 細かい計測点幅(5mm 程度)が必要計測時間 探傷 配線モデルの計測 予め 合成 作成した イメージ との比較 PCBの一部を作成 差分処理 5 6 3 2 1 -6 3 6 -4 -3 4 6 3 45°方向差分処理 7 9 6 1 3 2 7 5 計測結果 5 4 8 7 2 3 3 -1 -4 -7 1 4 2 2 1 2 x方向差分処理 -1 -2 1 1 3 3 -5 -4 1 5 2 1 z方向差分処理
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