工学系大学院単位互換e-ラーニング科目磁気光学入門

工学系大学院単位互換e-ラーニング科目
磁気光学入門第9回－磁気光学効果の測定法－
佐藤勝昭
（東京農工大学）
これまで学んだこと
第3-5回には電磁気学に基づき磁気光学効果が誘電
率テンソルの非対角成分から生じることを学びました。
 第6回では、電子を古典電子論で扱い、ローレンツ力
を考慮した古典的運動方程式を解いて、誘電率テンソ
ルの非対角成分を導きました。しかし、強磁性体の磁
気光学効果は古典電子論では説明できませんでした。
 第7回では、量子力学にもとづき、時間を含む摂動論
によって、電子分極の期待値を計算し、誘電率の非対
角成分を求めました。観測される強磁性体の磁気光学
効果は、スピン軌道相互作用によって説明できました。

今回以降学ぶこと
これまで、理論的なことを中心に磁気光学効果の原理
を学んできました。物理的な基礎が弱い方にとっては、
難しかったかも知れません。
 今回（第9回）は磁気光学効果の測定法、第10回は実
験で得られた磁気光学スペクトルと電子構造の関係、
第11-13回は光磁気記録、光通信用アイソレータ、電
流磁界センサー、イメージングなど磁気光学効果の応
用、第14回は最近の研究の発展を学びます。
 今回からは、実験や応用が中心になるので、理論が
苦手なかたにも分かりやすいと思います。

磁気光学効果の測定法
今回は「光と磁気」第5章にそって，磁気
光学効果の具体的な測定の方法につ
いて述べます。
 ここでは、単に測定の方法を示すだけで
なく，その原理についての理解が得られ
るように配慮しました。
 原理を知っていると測定法を改善したり，
さらに広い応用を考えたりするときの助
けになります。
 最初はスペクトルのことは考慮せず述
べ，続いて分光測定の方法を述べます。
 最後に測定によって得られたデータから
どのようにして誘電率などのパラメータ
を計算するかについて述べます。








直交偏光子法
振動偏光子法
回転検光子法
ファラデー変調法
楕円率の評価
光学遅延変調法
(円偏光変調法)
スペクトル測定シ
ステム
直交偏光子法(クロスニコル)




最もオーソドックスな磁気
旋光角の測定法です。
P
L
図5.1(a)に示した構成で行
P
われます．試料を磁極に孔
をあけた電磁石の磁極の
P=A+/2
間に置き，光の進行方向と
平行に磁界が印加されるよ
うに配置します．
B
S
A
D
F
A
I
図5.1(a)
直交偏光子法の概略図。L：光源、P：偏光
子、S：試料、A：検光子、D：検出器
偏光子Pと検光子Aを用意し，磁界のないときに光検出器Dの出力が最小にな
るようAの角度を調整して，そのときの目盛θ0を読み取ります。
次に磁界Hを印加して，Dの出力を最小とするAの目盛Hを読み取りθH－θ0を
計算すると旋光角が得られます．読みとりの精度はAの微調機構の精度で決
まり，あまり小さい旋光角を測定することはできません。
直交偏光子法の説明

検出器に現れる出力Ｉは，偏光子の方位角をθp，検光子の方位
角をθA，ファラデー回転をθFとすると，
I  I 0 cos2  P   F   A 
(5.1)
と表されます．ここにθP，θAはそれぞれ偏光子と検光子の透過方
向の角度を表しています．直交条件では，θP－θA＝π/2となるの
で，この式は
I  I0 sin2  F I0 21  cos 2 F 
(5.2)
となります．θFが磁界Hに比例する
とき，IをHに対してプロットすると図
5.1(b)のようになります．
B
/4
/2

rotation rotation rotation
図5.1(b) 直交偏光子法における検
出器出力の磁界強度依存性）
直交偏光子法（強い磁界下で）

θFがπの整数倍のとき出力I/I0は0、π/2の奇数倍のとき１になる
はずですが、実際には、図のように右上がりの曲線となります
が、何故でしょうか。
Cross-nicol output
•図は、
I/I0=(1-(Hl)2)sin2Hl+(Hl)2cos2Hl
として近似したものです。
1.2
1
0.8
Intensity
•これは、磁気円二色性があるためです。
磁気円二色性のため出力光は楕円偏光
になるため、検光子が楕円の長軸に直交
していても、楕円の短軸の成分が検光子
を透過して来るためです。
0.6
0.4
0.2
0
0
20
40
60
Magnetic field
80
100
120
回転検光子法
回転検光子法は，偏光子，または，検光子のい
ずれかを回転させる方法です．
 図5.2には偏光子Pを固定し，検光子Aを一定速
度で回転させる場合を示してあります．

E
B
F
A=pt
ID
P
D
S
A
図5.2 回転検光子法の説明図。P：偏光子、S：試料、A：回転検光子、D：検出器
回転検光子法

検光子が角周波数pで回転するならば，A=ptと書けますか
ら，検出器出力IDは，
I D  I 0 cos2  F   A 
 I 0 21  cos2 F  pt 
(5.3)
と表されます．
 すなわち，光検出器Dには回転角周波数の2倍の角周波数2pの
電気信号が現れます．求めるべき回転角Fは，出力光の位相
が，磁界ゼロの場合からのずれの大きさを測定すれば，/2と
して旋光角が求まります．
振動偏光子法

図5.3のように偏光子と検光子を直交させておき，偏光子を
   0 sin pt
(5.4)
のように小さな角度θ0の振幅で角周波数pで振動させると，信
号出力IDは
I D  I 0 sin2    F 
 I 0 1  J 0 2 0 cos2 F / 2 I 0 J 2 2 0 cos2 F  cos2 pt  I 0 J1 2 0 sin2 F  sin pt
(5.5)
となります．ここに，Jn(x)はn次のベッセル関数です。
P
図5.3 振動偏光子法の説明図。
P：振動偏光子(方位角p)、S：
試料(ファラデー回転F)、A：検
光子、D：検出器(出力ID))
+F
B
ID
S
F
D
A
P
[参考]

式(5.5) を誘導してみましょう。
I D  I 0 sin2    F   I 0 21  cos 2   F   I 0 21  cos2 0 sin pt   F 
 I 0 21  cos2 0 sin pt cos 2 F  sin2 0 sin pt sin 2 F 
 I 0 21  J 0 2 0   2 J 2 2 0 cos 2 pt cos 2 F  2 J1 2 0 sin pt sin 2 F 
 I 0 1  J 0 2 0 cos2 F / 2  I 0 J 2 2 0 cos2 F  cos2 pt  I 0 J1 2 0 sin2 F  sin pt
ここで、次のベッセル関数による展開式を用いました。
sinx sin   2 J1 x sin    
cosx sin   J 0 x   2 J 2 x  cos 2
振動偏光子法の説明(cont)

θFが小さいとき，


角周波数pの成分I (p)が光強度I 0およびθFに比例し，
角周波数2pの成分I (2p)はほぼ光強度I 0に比例します。
I D  I 0  I  p sin pt I 2 p cos2 pt
(5.5)
ここに
従って、I
I  p  I 0 J1 2 0 sin2 F  2I 0 J1 2 0  F
I 2 p  I 0 J 2 2 0 cos2 F  I 0 J 2 2 0 
(p)とI (2p)の比をとればθFを測定できます。
I  p  / I 2 p   I 0 J1 2 0 sin2 F / I 0 J 2 2 0 cos2 F  2 F J1 2 0  / J 2 2 0 
ファラデー変調器法

検光子は偏光子と直交するように固定しておき，試料のファラ
デー効果によって起きた回転をファラデーセルによって補償し，
自動的に零位法測定を行うのが図5.4に示した方法の特徴です。
= 0+sin pt
ファラデー変調器 F
F
B
ID
S
P
i=i0+ i sinpt
D
A
ロックインアンプ
図5.4 ファラデー変調器法の模式図。P：偏光子、S：試料、A：検光子、D：検出器
ファラデー変調器法(1)
試料のファラデー効果によって起きた回転をファラデーセルに
よる逆向きの回転を使って補償し，検出器Dの出力がゼロにな
るようにファラデーセルに流す電流を調整すれば零位法で測定
できます。ただし、セルに流す電流iと回転角の間の比例係数
は予め校正しておきます。 =K i
 図5.4では、セルに流す電流を手で調整する代わりに、フィード
バックによって自動的に検出器Dの出力をゼロにするようになっ
ています。
 ファラデーセルに加える直流電流I0に，変調用の交流isinptを
重畳させておきます。従って、
i= i0+ i, =K i=K i0+Kisinpt =0+ sinpt
 そしてDの出力を，ロックイン・アンプなどの高感度増幅器で増
幅し、加算器に入力しファラデーセルにネガティブフィードバック
します．

ファラデー変調器法(2)

検出器出力IDは，
I D  I 0 sin2  0   F   sinpt
 I 0 21  cos 2 0   F cos2 sinpt  sin 2 0   F sin2 sinpt
 I 0 21  cos 2 0   F J 0 2  I 0 sin 2 0   F J1 2 sinpt
 I 0 cos 2 0   F J 2 2 cos2 pt
となって，p成分の強度はsin(0－F)に比例します。
 ロックイン増幅器で角周波数pの成分のみを取りだします。その
大きさはI0 sin(0－F)J1(2 )。増幅率をAとすると、その出力
電流i0は
i0  AI0 J1  sin 2 0   F  となります。
ファラデー変調器法(3)
フィードバックシステム

ファラデーセルの比例係数Kを用いると
 0  KAI0 J1  sin 2 0   F   K  sin 2 0   F 

したがって、0-Fが小さければ
 0  2 K  0   F 
2K '
0 
F
2 K '1

となり、K’→∞ならば、 0=Fとなります。
楕円率の測定法（1）
楕円率は，4分の1波長板(λ/4板
と略称)を用いて楕円率角を回
E0sinh
転に変換して測定することが可
E
能です．以下にはその原理につ
いて述べます．
 楕円率角η(rad)の楕円偏光が
入射したとすると，その電気ベ
クトルEはE=cosηi+sinηj で表さ
れます．(ここにi,j はそれぞれ
x,y方向の単位ベクトルです．)

y
E0
h
x
E0cosh
楕円率の測定法（2）
x方向に光軸をもつλ/4板を通すと，y方向の位相は90ﾟ
遅れるので，出射光の電界E’は

E  E0 coshi  i exp i / 2sinh j E0 coshi  sinh j 
(5.7)
となりますが，これは，x軸からh(rad)傾いた直線偏光を
表しています．
• したがって，入射楕円偏光の長軸の方向に/4板の光
軸をあわせれば，上に述べたいずれかの回転角を測
定する方法で楕円率角を測定できます．
楕円率の測定法（3）
y
E0sinh
E
y’
y
h
E0
h
x’
E’
x
x
Optic
axis
E0cosh



E  E 0 (cosh i  i sin h j )


i


2
E '  E 0 (cosh i  i e sin h j )


/4plate
 E 0 cosh i  sin h j 

 E0 i '
図5.5 λ/4波長板を用いて楕円率が測定できることの原理の説明図
円偏光変調法（光学遅延変調法）
i
/4
PEM
B
D
j
A
P
等方性
物質
水晶
x
図5.7においてPとAは直線偏光
子，Mは光弾性変調器(PEM)，D
は光検出器です．
 PEMとは，等方性の透明物質
（石英，CaF2など）に水晶の圧電
振動子を貼付けたものです．
 PEMに角周波数p [rad/s]の高周
波の電界を加えると，音響振動
の定在波ができて透明物質にp
[rad/s]で振動する一軸異方性が
生じます．この結果複屈折nが
現れます．
 これにより，光学遅延量
δ=2nl/ がp [rad/s]で変調さ
れます．すなわち，
＝0sinpt
(5.8)

溶融石英
CaF2
Ge 他.
光学遅延
=(2/)nl sin pt =0sin pt
n=ny-nx
y
l
図5.7
円偏光変調法の定性的説明
図5.8
•図5.8 (a)は光弾性変調器(PEM) によって生じる光学
的遅延δの時間変化を表します．この図においてδの振
幅δ0はπ/2であると仮定するとδの正負のピークは円偏
光に対応します．
•試料Sが旋光性も円二色性ももたないとすると，電界ベ
クトルの軌跡は図(b)に示すように1周期の間にLPRCP-LP-LCP-LPという順に変化します．(ここに，LPは
直線偏光，RCPは右円偏光，LCPは左円偏光を表しま
す．)
•検光子の透過方向の射影は図(c)に示すように時間に
対して一定値をとります．
•旋光性があるとベクトル軌跡は図(d)のようになり，その
射影は(e)に示すごとく角周波数2p[rad/s]で振動する．
•一方，円二色性があるとRCPとLCPとのベクトルの長さ
に差が生じ，射影(g)には角周波数p[rad/s]の成分が現
れます．
円偏光変調法の原理
直線偏光（45)
 Y成分のみδ遅延
 円偏光座標に変換
 右円偏光および左円偏
光に対する反射率をか
ける
 元の座標系に戻す
 x軸からφの角度の透過
方向をもつ検光子からの
出力光
 光強度を求める

1
E 0 i  j 
2
E1 
(5.9)
i  exp i  j 
(5.10)
E0
1-i expi r  1  i expi l 
2
(5.11)
E2 
E2 
E0
2
E0
r 1-i expi r  r 1  i expi l 
2
E
 0 r  r -ir  r  expi i  ir  r -ir  r  expi  j 
2
E3 
E4 

r
2
E0
2
(5.12)

1-i exp i exp(i )  r  1  i exp i exp(i ) 
(5.13)
E02
R  R sin  R sin  2 cos  (5.14)
I
2
円偏光変調法の原理



磁気光学パラメータ
に書き換え
 = 0 かつθKが小の
とき
= 0sinptを代入して
Bessel関数展開
I
1 2
E0 R1  2hK sin  sin2  2 K cos 
2
(5.16)
I  I 0 R1  2h K sin  2 K cos 
sinx sin   2 J1 x sin    
cosx sin   J 0 x   2 J 2 x  cos 2
I D  I 0 21  2hK sin 0 sin pt  sin 2 K cos 0 sin pt
 I 0 21  2 K J 0  0   I 0  2hK J1  0 sin pt  I 0  2 K J 2  0  cos 2 pt    
 I 0  I  p sin pt  I 2 p  cos 2 pt

周波数pの成分が楕円率、
2pの成分が回転角
I0
1  2 K J 0 ( 0 ),
2
I  p   2 I 0h K J1 ( 0 )
(5.17)
I 0  
I (2 p )  2 I 0 K J 2 ( 0 )
(5.18)
円偏光変調法の特徴
同じ光学系を用いて旋光角と楕円率を測定で
きるという特徴をもっています．
 また，変調法をとっているため高感度化ができ
るという利点ももちます．
 この方法は零位法ではないので，何らかの手
段による校正が必要です．詳しくは配付資料を
参照してください。

磁気光学スペクトル測定系
L
M1
MC
PEM
(p Hz)
C (f Hz)
P
S
M2
LA1 (f Hz)
LA2 (p Hz)
Preamplifier
LA3 (2p Hz)
磁気光学スペクトル測定上の注意点
磁気光学スペクトルの測定には，光源，偏光子，
分光器，集光系，検出器の一式が必要ですが，
各々の機器の分光特性が問題になります．
 さらに，試料の冷却が必要な場合，あるいは，
真空中での測定が必要な場合には，窓材の透
過特性が問題になります．

光源



ハロゲン・ランプ（近赤外-可視)
キセノンランプ（近赤外-近紫外)
重水素ランプ(紫外)
200
300 400 500
600
700
波長(nm)
ハロゲンランプ
キセノンランプ
重水素ランプ
800
偏光子

複屈折（プリズム）偏光子
グラントムソン
ロション
グランレーザー
グランテーラー
ウォラストン
光学技研の製品情報（偏光子）http://www.kogakugiken.co.jp/products/polarizer06.htmlによる

二色性偏光子（偏光板）

ワイヤグリッド偏光子
メレスグリオの製品情報
http://shop.mellesgriot.com/products/optics/optics.asp?plga=
276736&CatID=10521&mscssidによる
オプトライン社の製品情報
http://www.opto-line.co.jp/jp/henko/henko_sekigai.htmlによる
分光器
分解能よりも明るさに
重点を置いて選ぶ必要
があります．焦点距離
25cm程度で，f ナン
バーが3～4のものが
望ましい．
 回折格子は刻線数とブ
レーズ波長によって特
徴づけられます．

堀場ジョバンイボンのH10型分
光器
チェルニーターナー型回
折格子分光器
メリーランド大のホームページ
http://www.inform.umd.edu/EdRes/Topic/Chemistry/Ch
emConference/Chem623/Monochromator.htmから。l
高次光カットフィルタ
回折格子分光器はその性質上必ず高
次光が出力されるので，ローパスフィ
ルタを用いて高次光の遮断を行う．
 ローパスフィルタとしては適当な色ガラ
スフィルタ，半導体結晶フィルタ，干渉
フィルタなどが用いられる．
 高次光の遮断は特に赤外域で重要に
なってくる．例えば，2μmに波長ダイア
ルを合わせたとき同時に2次光1μm，3
次光667nm，4次光500nm，5次光
400nm，・・・が出力されており，2μmの
みを取り出すためには，1μmより短い
波長の光を遮断するフィルタを用いる
必要がある．
 高次光遮断フィルタは使用する波長領
域に合わせて変えなければならない．

色ガラスフィルターの分光透過特性
半導体フィルターの分光透過特性
HOYACANDEOのホーム
ページ
http://www.hoyacandeo.co.jp
/japanese/products/より
集光系


狭い波長範囲：レンズ使用
広い波長範囲：ミラー使用


色収差が重要
たとえば，石英ガラスのレンズを用いて，0.4～2μmの間で測定するとす
れば，δf/f＝－0.067となり，f＝15cmならばδf～1cmとなる．
楕円面鏡
検出器
光電子増倍管
 半導体光検出器

http://www.hpk.co.jp/Jpn/pr
oducts/etd/pmtj/pmtj.htm
http://www.irassociates.com/
電磁石と冷却装置、素子の配置
(a)
ファラデー配置と
フォークト配置
 穴あき電磁石
 鉄芯マグネット
 超伝導マグネット

極カー効果の測定用
(b)
縦カー効果の測定用
電気信号の処理





図5.23
ここでは光学遅延変調法により磁気光
学スペクトルを測定する場合の電気信号
処理系について簡単に記述します．
図5.23にこの測定系のブロック線図を示
します．
磁気旋光角は変調周波数p [rad/s]の２
倍の成分と直流成分との比から，磁気円
二色性は変調周波数成分と直流成分の
比から求めることができます．
直流成分を知るために，光をf [rad/s]で
断続して交流信号として検出することも
よく行われています．(特に，半導体検出
器を使うときは暗電流との分離のために
交流にしなければなりません．)
従って，p [rad/s]成分とf [rad/s]成分，あ
るいは2p [rad/s]成分とf [rad/s]成分を
ロックインアンプの出力として求め，これ
らの比を計算する必要があります．
磁気光学スペクトル評価装置(1)
試料
ダブルモノクロメータ
光学系
キセノンランプ
ランプ電源
前置
増幅器
分光器波長
駆動装置
ロックインアンプｆ
電磁石
電磁石
電源
ロックインアンプ p,2p
PEMコントローラ
磁気光学スペクトル評価装置(2)
楕円面鏡２
偏光子１
楕円面鏡３
PEM
偏光子２
M
楕円面鏡１
分光器
PM
磁気光学スペクトル評価装置(3)
第9回のまとめ
この講義では、磁気光学効果の測定法のいくつ
かをとりあげ説明しました。直交偏光子法以外は
なんらかの変調法を取り入れることによって感度
を高めています。
 PEMを用いた円偏光変調法は、高感度の測定
法です。この方法を使うと、光学系を変えること
なく旋光角と楕円率の両方を測定できる便利な
方法です。

第9回の課題
1. 円偏光変調法に使うPEM
(photoelastic
modulator=光弾性変調器)の原理を説明してく
ださい。
2. 磁気光学のスペクトルを測定をする場合に考慮
しなければならないことを箇条書きにして下さい。

Download Report