ＤＳＰを用いた高電界誘電特性解析システムの開発岐阜工業高等専門学校電子システム工学専攻所研究室進藤久典目的電気絶縁材料の誘電特性を､絶縁材料の片側表面に電極系を接触させるだけで測定可能な､ＤＳＰを用いた高電界誘電特性解析システムの構築を目指す DSP(Ｄｉｇｉｔａｌ Signal Processor)の特徴・ハードウェア乗算器を備えているため、FFTなどの演算の処理速度がCPUより速い・内部にプログラム用、データ用のメモリを別々に持っているため高速に処理できる・並列処理や割り込み処理のプログラミングが容易試料 6mm 60mm 50mm HTVシリコーンゴムがいしの笠部分 HTVシリコーンゴムがいし用材料の板状試料くし形電極主電極高電圧電極３０ｍｍ電極幅・電極間隔：２ｍｍ厚さ：３ｍｍステンレス製くし形電極端部の電解解析結果実験の手順全測定系の伝達関数の評価 ↓ ブリッジの同調 ↓ 交流損失電流応答の測定 ↓ 測定結果の解析 GAIN [dB] 140 130 120 110 0 100 200 300 400 周波数 [Hz] 500 全測定系の伝達関数の周波数特性 600 ２噴霧 [Ｖ] －２印加電圧波形２ [Ｖ] －２損失電流波形２連ランプ波印加時の取り込み波形 0.16 Ixr ⊿Ixc 電流 [μA] 0.12 0.08 0.04 0 0 10 20 30 -0.04 印加電圧のステップ数 2連ランプ波印加時の解析結果 40 0.4 Ixr ⊿Ixc 電流 [μA] 0.3 0.2 0.1 0 0 10 20 30 40 -0.1 印加電圧のステップ数 5連ランプ波印加時の解析結果 50 まとめ DSPを用いた測定システムは、印加電圧波形の出力と検出信号のアベレージング測定およびそのFFT波形解析を同時に行うことが可能である高分子がいし上への蒸留水噴霧実験について、噴霧することにより電流が増加し、電界依存性にヒステリシスや時間依存性を有することなどが確かめられた今後の課題蒸留水を噴霧する実験に関して、試料上の水滴の形状変化と、その時の誘電特性の対応について検討することが望まれる２ [Ｖ] －２印加電圧波形２ [Ｖ] －２損失電流波形一定電圧印加時の取り込み波形 Ixr ⊿Ixc 噴霧 0.5 電流[μA] 0.4 0.3 0.2 0.1 0 0 10 20 印加電圧のステップ数一定電圧印加時の解析結果一定電圧印加時の解析結果 30 HTV-SIR  r Cover Cover H くし形電極 M M Cair Cair 絶縁体  r Cunder H くし形電極  r Cunder HTV-SIR (a) 電極上に試料がある場合 (b) 電極の下に試料がある場合くし形電極系の等価回路ＩｘｃＩｘｃＩｘｒ（１）電極上の試料の有無による方法Ｉｘｒ（２）試料をのせない時の同調状態を基準とする方法