ＤＳＰを用いた高電界誘電特性解析システムの開発所研究室進藤久典目的電気絶縁材料の誘電特性を､絶縁材料の片側表面に電極系を接触させるだけで測定可能な､ＤＳＰを用いた高電界誘電特性解析システムの構築を目指す主電極高電圧電極３０ｍｍくし形電極構成電極幅・電極間隔：２ｍｍ厚さ：３ｍｍステンレス製 HTV-SIR  r Cover Cover H くし形電極 M M Cair Cair 絶縁体  r Cunder H くし形電極  r Cunder HTV-SIR (a) 電極上に試料がある場合 (b) 電極の下に試料がある場合くし形電極系の等価回路 0.7 0.6 Ｉxr_1 Ｉxr_2 ⊿Ｉxc_1 ⊿Ｉxc_2 電流[μA] 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0 -0.1 0 0.1 0.2 0.3 印加電界[kV/mm] 測定方法の違いによる結果の比較 0.4 ＩｘｃＩｘｃＩｘｒ（１）電極上の試料の有無による方法Ｉｘｒ（２）試料をのせない時の同調状態を基準とする方法２ [Ｖ] －２印加電圧波形２ [Ｖ] －２損失電流波形一定電圧印加時の取り込み波形 Ixr ⊿Ixc 噴霧 0.5 電流[μA] 0.4 0.3 0.2 0.1 0 0 10 20 印加電圧のステップ数一定電圧印加時の解析結果 30 Ixr ⊿Ixc 0.16 電流[μA] 0.12 0.08 0.04 0 0 10 20 -0.04 印加電圧のステップ数２連ランプ波印加時の解析結果 30 40 Ixr ⊿Ixc 0.4 電流[μA] 0.3 0.2 0.1 0 0 10 20 30 -0.1 印加電圧のステップ数５連ランプ波印加時の解析結果 40 50 まとめ電極上に試料をのせて行う２種類の測定方法については、測定方法により伝達関数の正確性が問われる蒸留水噴霧実験について、噴霧することにより電流が増加し、電界依存性にヒステリシスや時間依存性を有することなどが確かめられた今後の課題蒸留水を噴霧する実験に関して、試料上の水滴の形状変化と、その時の誘電特性の対応について検討することが望まれる