掲示期間 H－26－212 1 月 19 日～2 月 3 日総合研究機構エレクトロニクス研究所にこの件に関する問い合わせは広報課へ電界放出形電子顕微鏡（FE ｰ SEM）を導入・設置【FE-SEM 仕様：メーカー日本電子型式 JSM7100F/EDS/EBSD】日時：平成 27 年 1 月 15 日（木）11：00～11：40 場所：B 棟 6F エレクトロニクス研究所計測室内容：FE-SEM 導入テープカット及び機器デモンストレーション西日本新聞 1 月 16 日（金）朝刊に掲載されました。《披露を兼ねてテープカット》《機器デモンストレーションを実施》（導入機器の特徴） (1) 最高観察倍率は100万倍、1.2ナノメートル(nm)(= 1.2 mの10億分の1)、最大横7 cm×高さ 5cmの試料観察が可能。広範な分野の試料をナノレベルで分析・研究できる。 (2) エネルギー分散形Ｘ線分析装置(EDS)及び結晶方位解析装置(EBSD)まで装着した形での導入・設置は九州の私立大学で初。全国的に見てもトップクラスの性能を有する。 (3)オプション機器の装着により、従来は別々の機器で行っていた試料表面の元素分布の観察及び物質の結晶構造の分析を１台で実施することが可能となり、作業の大幅な時間短縮と研究の効率化が図られる。 (4)本事業は、文部科学省私立大学等研究設備整備費等補助事業に採択された。（FE-SEMの位置づけ：大学の研究戦略） (1) 本機器を中核機器として位置づけ、エレクトロニクス研究所の研究機能の強化を図り、他の競争的研究助成の獲得や、地域の企業等との共同研究のニーズも高い。 (2) ナノレベル観察が可能なトップレベルの性能を活用し、特に、金属、半導体、セラミック分野での最先端かつ独創的な研究の創出を目指す。 (3) 学生を最先端計測機器に習熟させることで、先端材料開発等に高い研究力・技術力をもった技術者養成につなげる。