FE-SEM(JSM-7000F) の利用者講習会を開催致します。 ■講 習 日：５月 26 日(月)、27 日(火)、28 日(水)、29 日(木)、30 日(金) ６月 9 日(月)、10 日(火)、11 日(水)、12 日(木)、13 日(金) ■時 間：10：00～16：00（予定） ■定 員：５名 ※各研究室２名まで ■持 参 品：筆記用具、ノート、ＵＳＢメモリ ■実施場所：機器分析センター１Ｆ Ｘ線元素分析室 ■講 師：三好 規子 高倍率(3000 倍以上)の像観察を行う利用者 ※低倍率(3000 倍以下)の像観察を行う場合は、3D-SEM、FE-SEM (JSM-6701)を利用して下さい。 FE-SEM(JSM-7000F)は大変利用者が多いため、ご協力をお願い します。 FE-SEM(JSM-7000F)は、講習会受講者に限り利用を許可しますので 利用予定のある研究室は必ず受講して下さい。尚、昨年度までに受講 された方も再受講可能です。 受講希望者は、必ず下記の申込要領で e-mail にて申込みを行ったうえ 受講してください。 装置講習会 ①氏名 ②職名(又は学年) 受講申込要領 ③所属研究室(指導教員名) 申込締切：平成２６年５月２０日（火）１７：００ 申 込 先：機器分析センター事務室 TEL ３３９１ e-mail([email protected]) 授業等で受講できない日があれば申込時に明記して下さい。※後日、 受講日をご連絡します。
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