(1) 低コヒーレンスリフレクトメータ（ＯＬＣＲ）の開発１９８０年代、光モジュールや石英系プレーナ光波回路（ＰＬＣ）の進展と共に，特性向上を目的として光デバイスの内部を非破壊で診断することが必要となり，高空間分解能リフレクトメータへの需要が急速に高まった。そこで、１９８７年、当時開発されたばかりのスーパールミネッセント・ダイオード（ＳＬＤ）と単一モード光ファイバカプラを用いて、数十ミクロンの空間分解能で反射分布を測定できる低コヒーレンスリフレクトメータ（ＯＬＣＲ）と呼ばれる高空間分解能リフレクトメータを考案して基本特許（図１）を取得し、論文発表、世界標準化を行った。図１（特許第 1970693 号）次に、雑音解析を通じて、ＯＬＣＲ系内や測定導波路の端面で生じる微弱な反射光と局発（ＬＯ）光とのビート雑音がＯＬＣＲの反射率測定限界を決定する最大の要因であること見出した。雑音低減のための指針が得られたので、測定系の改良によるビート雑音の低減とエルビウム添加光ファイバ光源の高出力化、光バランス回路の高性能化による強度雑音の低減によって、対数スケールにて－１６１ｄＢ（約一京分の一）の前人未到の最少反射率測定限界を実現した（図２）。ちなみにガラス表面の反射率は―１５ｄＢ（約２５分の１）である。このような世界に類を見ない高性能ＯＬＣＲによって、世界で始めて、数センチメートルから１０メートルに至るまでの光導波路において、その後方レーリイ散乱分布から導波路の損失を非破壊で測定できるようになった（図３）。図２図３さらに、高性能ＯＬＣＲを装置メーカへ技術移転して商品化を達成した（図４、価格は約５００万円）。商品化にあたっては、偏波状態に依存せずに反射パワーを測定できることが絶対条件であったが、高感度化のために不可欠な光バランス検波系と偏波無依存測定のための偏波ダイバーシテイ系を両立させなくてはいけないというコヒーレント光通信研究分野の大問題が立ちはだかった。ところが、デポラライズされた無偏波光を偏光子に通過させた後にその偏波をファラデー回転子で９０°回転させるか（図５）、または、無偏波光をファラデー回転子で９０°回転させた後に偏光子を通過させるか（図６）のいずれの方法によって、偏波状態に依存せずに反射光の光パワーを測定できることが判明し、両系を奇跡的に（整合性よくスムーズに）測定システムに組み込むことに成功して商品化にこぎつけた。ＯＬＣＲは現在では光モジュール等の反射分布を測定する標準的な装置として世界中で使用されている。また、ＯＬＣＲ技術は、眼球や生体の検査用に立体的反射分布を測定する光干渉断層診断装置（ＯＣＴ）として改良され、世界中の医療機関や病院で使用されるに至った。図４図５図６図６