高分子がいし材料の吸水および 乾燥過程の誘電特性による評価 平成14年3月4日 電気工学科 所研究室 09E27 丹羽 康徳 目的 シリコーンゴムは、がいしなど屋外電力設 備用の絶縁材料として、その用途を拡大し つつある。このため、その吸水劣化過程の 測定・評価方法を開発することは非常に大 切である。 本研究ではくし形電極系を用いて、さまざま な形状試料の吸水および乾燥過程の、誘電 特性測定による評価を試みた。 試料および実験方法 トラッキング試験用の板状シリコーンゴム がいしの傘部分のシリコ-ンゴム 塩霧室試験用のFRPにRTVシリコーンゴ ムをコーティングした円柱棒 水浸劣化、乾燥回復過 程75℃と98℃ 板状および傘形のシリ コ-ンゴムは50Hz、最大 振幅5㎸P-Pの交流ランプ 正弦波電圧、電極間隔は 2㎜ 丸棒シリコーンゴムは 50Hz、最大振幅7㎸P-Pの 交流ランプ正弦波電圧、 電極間隔は4㎜ 図1.交流ランプ正弦波電圧波形 試料 高電圧電極 主電極 絶縁板 2㎜ (b)板状試料 30mm (a)くし形電極図 高電圧電極 2㎜ 主電極 試料 試料 絶縁板 (c)傘形試料 図2. 誘電特性測定用電極構成 4㎜ 主電極 高電圧電極 絶縁板 (d)丸棒試料 素材:ステンレス 厚さ:3mm 重量変化率 [%] 2 0 -2 0 200 400 -4 -6 経過時間 t [h] 板状試料(75℃) 板状試料(75℃) 板状試料(75℃) 傘形試料(98℃) 傘形試料(98℃) 傘形試料(98℃) 図3. 板状・傘形試料の水浸過程の重量変化 1回目 2回目 3回目 1回目 2回目 3回目 重量変化率[%] 2 0 -2 0 200 400 -4 -6 経過時間 t [h] -8 板状試料(75℃) 板状試料(75℃) 板状試料(75℃) 傘形試料(98℃) 傘形試料(98℃) 傘形試料(98℃) 1回目 2回目 3回目 1回目 2回目 3回目 図4. 板状・傘形試料の乾燥過程の重量変化 75℃(水浸ー乾燥ー水浸・・・) 0.8 重量変化率 [%] 98℃(水浸ー乾燥ー水浸・・・) 0.4 0.0 0 1000 2000 3000 -0.4 -0.8 経過時間 t [h] 図5. 丸棒試料の重量変化 4000 5000 乾燥2回目の15日目 損失電流 Ixr [μA] 0.008 水浸2回目の11日目 乾燥3回目の14日目 水浸3回目の11日目 0.004 0.000 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 -0.004 印加電界 E [kV/㎜] 図6.板状シリコーンゴム試料の損失電流の電界依存性(75℃) 乾燥2回目の15日目 0.03 容量電流 ⊿Ixc [μA] 水浸2回目の11日目 乾燥3回目の14日目 0.02 水浸3回目の11日目 0.01 0.00 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 -0.01 印加電界 E [kV/mm] 図7.板状シリコーンゴム試料の容量電流の電界依存性(75℃) 損失電流 Ixr [μA] 0.16 0.08 0.00 0.0 乾燥2回目から10日目 乾燥2回目から20日目 水浸3回目から14日目 水浸3回目から27日目 0.2 0.4 0.6 0.8 -0.08 印加電界 E [kV/mm] 図8.傘形シリコーンゴム試料の損失電流の電界依存性(98℃) 1.0 容量電流 ⊿Ixc [μA] 乾燥2回目の10日目 乾燥2回目の20日目 水浸3回目の14日目 水浸3回目の27日目 0.08 0.04 0.00 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 -0.04 印加電界 E [kV/mm] 図9.傘形シリコーンゴム試料の容量電流の電界依存性(98℃) 乾燥3回目の18日目 水浸4回目の21日目 乾燥4回目の18日目 水侵5回目の17日目 乾燥5回目の17日目 損失電流 Ixr [ µA] 0.02 0.01 0.00 0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 印加電界 E [kV/mm] -0.01 図10.丸棒シリコーンゴム試料の損失電流の電界依存性(75℃) 0. 容量電流 ⊿Ixc [ µA] 乾燥3回目の18日目 水浸4回目の21日目 乾燥4回目の18日目 水侵5回目の17日目 乾燥5回目の17日目 0.008 0.004 0.000 0.0 -0.004 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 印加電界 E [kV/mm] 図11.丸棒シリコーンゴム試料の容量電流の電界依存性(75℃) 0.7 まとめ 試料は吸水することにより同調容量、損失電流、容量 電流が増え、乾燥することによりそれらは逆に減少する。 水浸・乾燥を繰り返すと吸水と蒸発がより早く飽和する 傾向があり、損失電流、容量電流の増減幅が増加する 傾向があった。 試料と電極系の接触面積は 板状シリコーンゴム>傘形シリコーンゴム>丸棒試料 という関係になる。接触面積が大きいほどより安定した 測定ができる。 今後の課題 試料と電極系がずれ、接触面積が変 化するのを防ぐため、電極と試料が正 確に固定できるように、電極と試料の 関係を工夫する。 水浸状態 0.004 容量電流 ⊿Ixc [μA] 30分後 0.002 0.000 0.0 0.1 0.2 -0.002 印加電界 E [kV/mm] 0.3 0.4 乾燥3回目の18日目 水浸4回目の21日目 乾燥4回目の18日目 水侵5回目の17日目 乾燥5回目の17日目 損失電流 Ixr [µA] 0.020 0.016 0.012 0.008 0.004 0.000 0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 -0.004 印加電界 E [kV/mm] 0.5 0.6 0.7 0.012 乾燥3回目の18日目 水浸4回目の21日目 乾燥4回目の18日目 水侵5回目の17日目 乾燥5回目の17日目 容量電流 ⊿Ixc [ µA] 0.010 0.008 0.006 0.004 0.002 0.000 -0.002 0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 印加電界 E [kV/mm] 0.6 0.7
© Copyright 2024 ExpyDoc