60Co γ線照射試験 - ILC 1600pixel sample

60Co
γ線照射試験
- ILC 1600pixel sample ILC Cal Meeting
2008年9月13日
筑波大学 山崎秀樹
照射サンプル
ILC - 11 - 025M を 3 sample
Sample No : 9,12,14,17の内、3つ
照射量+日程
木曜に、サンプル1つ+基盤、到着したとして、
夕方までに測定可能かチェック。
11木 21:00 ~翌9:00 : sample#??に対し120Gy照射(10Gy/h * 12h)
12金 10:00 ~ 16:00 : sample#??に対し60Gy照射(10Gy/h * 6h)
17:00 ~ 20:00 : sample#??に対し30Gy照射(10Gy/h* 3h)
1krad = 10Gy
照射セットアップ+条件
測定項目 Leakage current、温度
<セットアップの問題点>
・つくばと東工大のマルチメータは
同じLeakage currentのデータ取れるか?
比較できる??
条件 温度は照射室温度
動作電圧は G = 2.75E+5 になるよう統一
<条件の問題点>
・浜松記載のVopを信用して当てることになる
・今回は1サンプルに対する累積照射ではないので、
違うサンプルの場合、
本当に同じ条件で照射しているのかは??
(例えば、Gain同じでも、Leakage currentは違う)
V0温度依存性
照射時のバイアス電圧Vop(T)決めるのに必要
Sample#??
Sample#??
Sample#??
Vop(T) = V0(T) +ΔV = aT + b + ΔV
同じく
同じく
照射室温度T (当日測定して決める)
超過電圧、ΔV = Vop@25℃ - V0(T=25℃)から算出しておく
浜松記載
測定結果
照射前データ@25℃
- Gain
- Noise rate
- Crosstalk
- After pulse??
- Leakage current
× 3 sample
今後さらに、
- PDE
- Response curve
- IV curve ( 測定方法要検討 )
も測定する予定。
照射後データ@25℃
- Gain
- Noise rate
- Crosstalk
- After pulse??
- Leakage current
× 3 sample
横軸トータルドーズで比較するならば、
放射線損傷にもsample間個体差がないことが前提になる。。。
どう解決するか??