Atsushi Sekiguchi Litho Tech Japan Corporation Sekiguchi-pdg

WEXA-2 によるリーチングの解析
WEXA-2 を用いた液浸中のレジストからのリーチング分析の検討
Study of the leaching analysis by using WEXA-2 system
関口淳
Atsushi Sekiguchi
Litho Tech Japan Corporation
2-6-6-201, Namiki, Kawaguchi, Saitama 332-0034, Japan
[email protected]
Abstract
ArF 液浸露光における、レジストからのリーチングは、スキャナーのレンズを汚染する可
能性があり、リーチング量をあらかじめ把握しておくことが重要である。IMEC と IBM の合同チーム
は、リーチング量を把握できる分析システム WEXA-2 を考案した。本システムを用いることで、正
確にレジストからのリーチング量を把握することができる。我々は、WEXA-2 を入手し、ArF レジス
トからの液浸中のリーチング測定を行った。本報では、その測定方法を明らかにする。液浸中のリ
ーチング物質は PAG 由来のカチオンとアニオンがあるが、レンズを汚染する主要因はカチオンで
ある。このため、未露光レジストに液浸液を接触させ、回収した液浸液を LC/MS/MS により、カチ
オンを定量し、リーチング速度を求めることになる。
Key Word: Leaching, ArF immersion exposure, LC-MS, WEXA
1
WEXA-2 によるリーチングの解析
1.はじめに
ArF 液浸露光における、レジストからのリーチングは、スキャナーのレンズを汚
染する可能性[1]があり、リーチング量をあらかじめ把握しておくことが重要である。IMEC と IBM の
合同チームは、リーチング量を把握できる分析システム WEXA-2[2]を考案した。本システムを用
いることで、正確にレジストからのリーチング量を把握することができる。我々は、WEXA-2 を入手
し、ArF レジストからの液浸中のリーチング測定を行った。液浸中のレジストからのリーチング物質
は PAG 由来のカチオンとアニオンがあるが、レンズを汚染する主要因はカチオンである[4]。この
ため、WEXA を用いて、未露光レジストに液浸液を接触させ、回収した液浸液を LC/MS/MS[4]に
より、カチオンを定量し、リーチング速度を求めた。本報では、その測定方法の詳細を明らかにす
る。
2.WEXA-2 システムの概要とサンプリング方法
2.1 WEXA-2 システムの概要
図1に WEXA-2 システムの概要を、図2に外観写真を示す。WEXA-2 は WEXA-1 を改良
して作られた。ウェハを保持し、液浸液とウェハを接触させるための真空吸着ステージ、継ぎ手、
液浸液を正確に送液するシリンジポンプ、薬液を回収するサンプリングポットから構成される。
図 1 WEXA-2 システムの外観写真
2
WEXA-2 によるリーチングの解析
図2 WEXA-2 システムの概要
WEXA ヘッドには 5 つの流路が設定されている。流路の深さは**mm、長さは**mm であ
る。溝の両端には液浸液を流入および、排出するための穴が開けられている。また、ヘッドには、
ウェハを吸着するための溝が掘られている。WEXA ヘッドにウェハを装着したのち、ヘッドを縦にセ
ットする。液浸液は下側の穴から溝に流入し、レジスト表面を流れながら、上側の穴からチューブ
に排出される。このとき、レジストからリーチングがあると、リーチング物質が液浸液中に溶出する
ことになる。流路が 5 本あるのは、マイクロシリンジでそれぞれ流速を変えてサンプリングするため
である。そうすることで、流速とリーチング量の関係から、液浸時間とリーチング量の関係を求め
ることが出来るのである。
図3 WEXA ヘッドの写真(O-リングをセットしたところ)
3
WEXA-2 によるリーチングの解析
2.2 サンプリング方法
まず、WEXA ヘッドを十分に純水で洗浄する。流路内も十分洗浄することで、コンタミネ
ーションを抑えることができる。洗浄後、クリーンな窒素用いてブローして乾燥する。O リングも同じ
ように洗浄し、乾燥する。次いで、O リングをヘッドにセッティングする。200mmSi 基板にレジストを
塗布し、塗布面をヘッド側に押しつけて、吸着用バルブを開け、ウェハを真空吸着する。ヘッドを立
てて、スタンドに固定する。次いで、ヘッドにフィッティングおよびチューブを取り付ける。流路と流
速の設定値を表1に示す。マイクロシリンジポンプにそれぞれの流速と、流量をセットし、スリットの
下側注入口から液浸液を注入し、上側の出口からフィッティング、チューブ通して排出してサンプ
ルポットに補足する。
表1 スリットと設定流速
スリット
流量(ml)
流速(ml/min)
1
2.65
35
2
3
25
3
3.1
20
4
3
13
5
2.65
4
回収する液浸液は各 0.5ml である。チューブ内にも液が貯留するため、設定する流量はスリット一
によって異なっている(表1)。また、サンプルポットの重さはあらかじめ、化学天秤を用いて、秤量
しておく。サンプル回収後、再び、サンプルポットの重さを量り、回収サンプルの重量を割り出して
おく。
3.分析
得られたサンプルを LC/MS/MS 分析装置を用いてする。定量項目としては PAG から発
生するアニオンとカチオンである。レンズの汚染を引き起こすのは、カチオンであり[5]、特にカチオ
ンの定量が重要となる。
3.1 検量線の作成
検量線は、レジストに含まれる PAG に分析項目が異なってくる。本報では TPS-OTfにつ
いて述べる。アニオンはトリフェニルスルフォニウムイオン、カチオンは***が対象となる。
①
アニオン(トリフェニルスルフォニウムイオン)の検量線
トリフェニルスルフォニウムテトラフルオロボラート9.95 mg を10mL メスフラスコに秤量し、水/メ
タノール=1/1 を加えて溶解後、10mL 溶液とした(トリフェニルスルフォニウムイオン733μ
g/mL)。この溶液を水/メタノール=1/1 で適宜希釈し、5.86 ng/mL、1.17 ng/mL、0.35 ng/mL 標
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WEXA-2 によるリーチングの解析
準トリフェニルスルフォニウムイオン溶液を調製した。これをLC/MS/MS分析装置で分析し、アニ
オンの検量線を得た。
図4 トリフェニルスルフォニウムイオン(アニオン)の検量線
②
パーフルオロブタンスルホン酸(カチオン)の検量線
パーフルオロブタンスルホン酸標準溶液パーフルオロブタンスルホン酸10.93 mg を10mL メスフ
ラスコに秤量し、水/メタノール=1/1 を加えて溶解後、10mL 溶液とした(1093μg/mL)。
この溶液を水/メタノール=1/1 で適宜希釈し、43.7 ng/mL、8.74 ng/mL、1.75 ng/mL、0.52
ng/mL 標準溶液を調製した。
5
WEXA-2 によるリーチングの解析
図5 パーフルオロブタンスルホン酸(カチオン)の検量線
3.2 LC/MS/MS 分析
捕集したサンプルはLC/MS/MS分析により、アニオン、カチオンの定量を行う。以下に、
GC/MS/MS分析条件を示す。
①トリフェニルスルフォニウムイオン(アニオン)分析条件
トリフェニルスルフォニウムイオン標準溶液のMSスペクトルを測定したところ、陽イオン検出で[分
子量]に相当するm/z 263 が検出されたため、プリカーサーイオン(Q1 mass)として採用した。この
プリカーサーイオンから検出されたプロダクトイオン(Q3 mass)m/z 186 を採用して下記
LC/MS/MS 分析条件を確立した。
MS システム :AB/MDS Sciex (API3000)
LC システム :Agilent1100series
カラム :Shodex ODP 4.6×100mm
移動相 :A=10mM 酢酸アンモニウム、B=アセトニトリル
0→7min B:10%→80%
7→9min B:80%
9→15min B:10%
イオン化 :大気圧化学イオン化
検出 :Q1 mass 263.1、Q3 mass 186.0、陽イオン検出
流量 :1.2 mL/min
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カラム温度 :40 ℃
注入量 :10μL
②パーフルオロブタンスルホン酸(カチオン)分析条件
パーフルオロブタンスルホン酸標準溶液のMS スペクトルを測定したところ、陰イオン検出で[分子
量-H]に相当するm/z 299 が検出されたため、プリカーサーイオン(Q1 mass)として採用した。こ
のプリカーサーイオンから検出されたプロダクトイオン(Q3 mass)m/z 80 を採用して下記
GC/MS/MS 分析条件を確立した。
MS システム :AB/MDS Sciex (API3000)
LC システム :Agilent1100series
カラム :Shodex ODP 4.6×100mm
移動相 :A=10mM 酢酸アンモニウム、B=アセトニトリル
0→7min B:10%→80%
7→9min B:80%
9→15min B:10%
イオン化 :大気圧化学イオン化
検出 :Q1 mass 298.8、Q3 mass 80.0、陰イオン検出
流量 :1.2 mL/min
カラム温度 :40 ℃
注入量 :10μL
4.実験および解析
アクリルベースの ArF レジストを用いて、液浸中のリーチング評価をおこなった。PAG は
トリフェニル・スルフォニウムトリフルオロメタン・スルフォネート(TPS-OTf)、保護基はアダマンチ
ル(MAdMA)基を用いた。このテストレジストを 8 インチ Si 基板に 400nm の厚さに塗布した。プレ
ベークは 130℃/90 秒とした。溶材は PEGMEA を用いた。
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WEXA-2 によるリーチングの解析
図6 TPS-OTfの光化学反応
分析結果を表2に示す。Anion は検出されなかった。Cation は検出され、流速が遅いほど高い値と
なった。
表2 測定結果
Flow rate (ml/min)
Anion
Cation
(ppb)
(mol/)l
(ppb)
(mol/)l
Blank (20)
LDL *1
LDL *2
LDL *3
LDL *4
35
LDL *1
LDL *2
2.8
9.5
25
LDL *1
LDL *2
4.6
15
20
LDL *1
LDL *2
3.9
13
13
LDL *1
LDL *2
5.6
19
4
LDL *1
LDL *2
15
51
LDL は定量下限を示
す。
LDL *1 <0.35
LDL *2 <1.3x10^-9
LDL *3 <0.52
LDL *4 <1.7x10^-9
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WEXA-2 によるリーチングの解析
図7 カチオンの検出例 (流量 4ml/min の時のクロマトグラム)
解析方法について示す。PAG_Anion の浸出量は時間の関数として指数関数で示される(式 1)。
Y=A*B*exp(-Bt)
(1)
PAG_Anion の浸出速度を 0 から時刻 t までの範囲で積分すると、時間 t が経過した時の合計
PAG_Anion の浸出量は式(2)で示される[5]。
A-A*exp(-Bt)
(2)
図8 リーチング量とリーチング時間の関係およびフィッティング式
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WEXA-2 によるリーチングの解析
ここで、A(モル/cm2)は飽和レベルを示す。B(S-1)は時定数を示す。(B が大きければ、それに応じ
て飽和レベルに達するまでの時間が短くなる)
A*B は t=0(秒)における浸出速度(モル/cm2/s)である。
溶出時間とリーチング量から、フィッティングにより定数 A および B を決定することが可能である。
図9 リーチング量と液浸時間の関係およびフィッティング結果
図*にリーチング量と液浸時間の関係およびフィッティング結果を示す。定数 A は 2.633(10-12
mol/cm2)、B=0.50(s-1)が得られた。初期リーチング速度(Initial rate)は 1.32×10-12(mol/cm2*s)で
あった。
5.考察
ス テ ッ パ ー メー カ ー か らリ ー チ ン グ 速 度 の スペ ッ ク の 目 安 が 示 され てい る 。 そ れ は 1.6 ×
10-13(mol/cm2*s)である。今回検討したレジストは液浸用のレジストではないため、リーチング速度
はスペックの目安より 1 桁高い値となった。図*に液浸用 Non top coat レジストでの測定結果を
示す。リーチング速度は 1.43×10-13(mol/cm2*s)であり、スペックをクリア出来ていることがわかっ
た。
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WEXA-2 によるリーチングの解析
図10 液浸用レジストでのリーチング速度測定結果
6.まとめ
IMEC により提案された液浸中のレジストからのリーチング速度の評価システム WEXA-2
を用いて液浸中のレジストからのリーチング速度の測定を試みた。また、測定方法について解説
した。その結果、ArF ドライ用のレジストでは 1.32×10-12(mol/cm2*s)であったのに対し、液浸用レ
ジストでは 1.43×10-13(mol/cm2*s)と、リーチング速度が低く抑えられていることが確認された。本
システムを用いることで、液浸中のレジストからのリーチング速度の評価が可能であることがわか
った。
参考文献
[1] N. Oguri, SEMI Technology symposium Sec. 2 41 (2003)
[2] A. Sekiguchi, and Y. Kono, Proc. SPIE, 6923, 92 (2008)
[3] A. Sekiguchi, and Y. Kono, Proc. SPIE, 6923, 92 (2008)
[4] A. Sekiguchi, Y. Kono F. Oda and Y. Morimoto, Journ. Photopolymer,
21, 69 (2008)
[5] Current Instrumental Analysis for Colour Material and Polymers, Soft Science Inc.,30
(2007)
[6] Current Instrumental Analysis for Colour Material and Polymers, Soft Science Inc.,12
(2007)
[8] Current Instrumental Analysis for Colour Material and Polymers, Soft Science Inc.,7
(2007)
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