Agilent Measurement Forum 2012 開催のご案内受講料無料事前申込制計測のイノベーションがビジネスを変えるアジレント・テクノロジーは、お客様と共に次なる時代を見据え、計測のイノベーションと総合力で、お客様のビジネスの成功に貢献いたします受講料無料（事前申込制）会場パシフィコ横浜アネックスホール会期 2012年6月19日（火）、20日（水） Agilent Measurement Forum 2012 開催にあたって平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。さて、欧米経済の停滞や新興国の台頭など、グローバルのビジネス環境は大きく変化しています。又、その変化の中で競争の基準も「機能の改善や向上」から「ビジネスモデルのイノベーション」へと変化しています。日本のお客様が次代に向けた競争を勝ち抜く為のイノベーションの中核となる技術とアプリケーションを、100カ国以上の国々でグローバルにビジネスを展開するアジレントが計測の視点からサポートさせていただきます。（火）と20日（水）の2日間に亘り、「計測のイノベーションがビジネスを変える」をテーマつきましては、来る6月19日ここにご案内申し上げます。技術・に、アジレント・メジャメント・フォーラム2012を開催する運びとなりましたので、アプリケーションセミナー、300 点を超える製品展示、デモンストレーションなど、様々なアプローチを通じてアジレント・テクノロジー株式会社代表取締役社長電子計測本部長アジレントの計測のイノベーションと総合力をご紹介させていただきます。時節柄ご多忙の折とは存じますが、万障お繰り合わせのうえ、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。梅島正明製品展示／ミニセミナ技術／アプリケーション・セミナ来場登録のみでご覧いただけます。来場登録およびセミナ毎の事前登録が必要です。 300点以上、10億円以上の計測器を一挙に展示。またミニセミナでは実機を用最新の技術動向、計測ソリューションをご紹介いたします。基調講演として、第一いてのデモンストレーション、ソリューションやサービスをまとめてご紹介いたし線でご活躍されている方々にご講演いただきます。また、各分野に精通した弊社ます。アジレントの全てを実感できるこの機会をぜひご活用ください。エンジニアが分かり易く、具体的にご紹介いたします。毎年大好評のセミナです。席に限りがございますので、お早めにご登録ください。来場登録はこちらから＞＞アジレント AMF2012 で検索または http://www.agilent.co.jp/find/AMF 事前登録でA賞：iPad（2名様）、B賞：iPod Shuffle（10名様）、C賞：クオカード1000円分（100名様）が当たるチャンス！詳しくはホームページでご確認ください。展示エリア（来場登録のみでご覧いただけます） AMF（Agilent Measurement Forum) はアジレントが主催する最大のイベントです。 AMFでしか見られない、AMFならではのメリットをお見逃しなく！イノベーションの“ヒント”がきっと見つかります。展示製品（当日展示する製品のほんの一部です）ソリューション展示ラインナップ展示 300点以上、10億円以上のアプリケーションごとのソリューション業界をリードする高性能なを展示いたします。セミナやミニ・セミ製品から、基本機能に絞ったナの内容を実機を用いてデモンストシンプルで価格を抑えた製高性能製品からコスト・パフォーマンスに優れた製品まで、アジレントの主要なレーションいたしますので、より具体的品、ハンディタイプの製品など計測器を一堂に展示いたします。これだけの数の計測器が展示されることは他にソリューションをイメージいただけます。展示予定のソリューション：パワー/ ラインナップを展示いたします。ラインナップ展示予定製品：オシロスコーのイベントではありません。大人気のオシロスコープを自由にお試しいただけるシグナル・インテグリティ、次世代無線ＬＡＮ（802.11ac）、ＬＴＥ、DDR、高速シリ体験コーナーや、業界最高性能の新製品も展示予定です。ご期待ください。アル・インタフェース、電子部品測定、光伝送など。計測器、計測ソリューションを展示 Pick Up! プ、ネットアナ、スペアナ、信号源、LCR/インピーダンス・メータ、基本測定器（DMM、DC電源、ファンクション・ジェネレータなど） Pick Up! ミリ波∼テラヘルツ波 DC電源アナライザ/ バッテリ・ドレイン・アナライザミリ波∼テラヘルツ波はレーダ、計測器、ソリューションおよびサービスを紹介広帯通信、セキュリティ、メタマ消費電流測定の切り札。アジレテリアルなど材料開発など様々計測器や計測技術の紹介はもちろんのこと、例えば、生産性向上につながる「計測制御」についてのミニセミナや、計測の確度を保ち証明するための「校正や JCSS 認定校正な用途に活用されています。サービス」についての展示（パネル）なども充実。アジレントの全てをご覧いただけます。アジレントでは、汎用の高性能ント独自の特許技術、 “シームレス電流測定” 機能は、スリープ時の微小な電流から動作時の大き PNA、PNA-Xネットワークアナライザ、PXAシグナル・アナライザ、PSG信号発生器をベースに、周波数エクステンダを追加することで、1.1THzまでの周波数に対応した、Sパラメータ評価、信号発生、スぺクトラム解析を会場には各専門性を持った100名を越えるアジレントのスタッフが控えております。技術的なこと、修理・校正に関すること、海外での計測器サポートのこと、計測器の購入方法に関することなど、お気軽にスタッフまでお声掛けください。 13：45∼14：00 ミニセミナ会場 01 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモミニセミナ会場 02 14：50∼15：05 16：35∼16：50 09 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモ実演！今日から使えるオシロの小技100連発デジタル回路におけるEMIデバッグのために、 17：00∼17：15 13 17：25∼17：40 04 89601B使いこなし。10のヒント 6月20日（水） 11：00∼11：15 マルチチャンネル・マルチドメインアナライザデモ B2900A トランジスタ評価から高性能バイアス源としてまで 12 汎用的に使用できるSMU によるIV評価 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせミニセミナ会場 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演実演！超簡単、5分で出来るオシロ測定の自動化プログラム作成 12：50∼13：05 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 13：20∼13：35 19 最新のスペアナテクノロジ 13：45∼14：00 スペクトラム解析・信号生成システム 21 シミュレーションが測定値とピタリ！高速デジタル基板設計での測定とシミュレーションの融合 18 こんなに便利、FPGAベンダの標準ツールとの連携デバッグソリューション・パートナー展示さい。じっくり操作いただく体験コーナもご用意しておりますので、ぜひ実機携帯電話、無線 LAN 、自動車での通信など、をご確認ください。環境に対応するべく、アジレントではソリュー 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発ション・パートナーによる様々な測定ソリュー 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! ションをご提供しています。 11 パートナ各社様によるこれらのソリューションシミュレーションモデルの精度（MQA)を簡単にチェック。高精度な回路解析を可能にします。 14 もご紹介いたします。その他にも数多くの測定器を展示いたします。これだけ数多くの測定器をご提案できるのはアジレントだけ！一度にこれだけの測定器をご覧いただけるのはＡＭＦだけです！ぜひこの機会をご活用ください。測定治具の最新評価法と補正法（サマリ版）ミニセミナ会場 16 測定器のオトクな導入方法、各種ご紹介いたします 17 忘れちゃいけない音声品質試験！オーディオ測定ソリューションの今昔 20 SystemVue + M8190 + PXI = DPD 09 内蔵ファンクション発生器や内蔵電圧計機能も好評です。今後、汎用オシロスコープを検討する際には絶対にはずせません。この機会に実機をご確認くだ開発・設計・評価においてますます複雑になるミニセミナ会場 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 3000Xシリーズ。1GHzモデルも 2月に新登場しました。世界初の 1.1THzまで対応する次世代パワー半導体向けシミュレーション用モデル NeuroFET 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験 06 販売開始以来、爆発的な人気の 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 11：15∼11：30 12：20∼12：35 NEW 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 01 新・定番オシロスコープ用意し、ご覧いただきます。 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 15：05∼15：20 16：10∼16：25 Pick Up! ミニセミナ会場 03 04 89601B使いこなし。10のヒントル・サポートを提供し安心してご利用いただけます。当日は実機をご初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 14：00∼14：15 14：15∼14：30 す。電源の出力シーケンスや任意波形発生機能も搭載し、電源周りの検証に新・定番オシロスコープ2000X/ ミニセミナ・タイムテーブル（展示エリア内ミニセミナ会場にて実施いたします。来場登録のみでご覧いただけます。） 6月19日（火）す。スマートフォンや携帯機器のバッテリ寿命改善に最強のソリューションで広く使える新しいコンセプトの計測器です。実現するソリューションとトータよろず相談、お任せくださいな電流まで正確な測定が可能で会場レイアウト展示エリア（展示エリアは来場登録のみでご利用いただけます。※ミニセミナの受講も可能です。）ミニセミナ会場展示エリアアネックスホール入口ホワイエ実演！今日から使えるオシロの小技100連発 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 実用化が迫る光インターコネクションの測定基礎 23 RF信号の連続記録による間欠障害の解析 14：45∼15：00 25 ミリ波ソリューション総覧 15：05∼15：20 27 ゼロから始める電磁界シミュレーション 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演 15：35∼15：50 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 35 15：55∼16：10 30 実変調信号を用いたIC設計、検証設計/ GoldenGateとSystemVueの協調シミュレーション 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 31 信号源の位相雑音が受信試験を左右する 16：25∼16：40 33 インピーダンス測定アップデート 04 89601B使いこなし。10のヒント 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 24 セミナ・エリア 26 Custom OFDMを用いたシステムのSystemVueでの設計と検証ハイパワー、高ダイナミックレンジ測定を実現する新RFネットワークアナライザ 28 25Gを超える光トランシーバ測定最前線 29 Passive Intermodulation測定についてミニセミナ会場（セミナの受講には来場登録に加えてセミナ申込が必要です。）テラス 14：20∼14：35 展示エリア 14：00∼14：15 ミニセミナ会場展示エリア PNA-X 非線形デバイスの測定を1台で複数の役割をこなす 17：00∼17：15 32 汎用インピーダンス測定を可能にするネットワークアナライザ 34 17：25∼17：40 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験ネットワークアナライザ展示エリアの詳細（展示場所、ミニセミナ会場等）につきましては、当日、総合受付にてお渡しいたします詳細情報をご確認ください。タイムスケジュール Agilent Measurement Forum 2012 セミナ・エリア（来場登録に加えて、セミナ毎の事前登録が必要です） 6月19日（火）受付 12：30∼ 12：00 コース＃01 スマートメータ 13：00 101B1 12:45∼13:35 【基調講演】（仮）見えてきたWiSUN -スマートグリッドを担う無線規格の最新動向- 独立行政法人情報通信研究機構ワイヤレスネットワーク研究所スマートワイヤレス研究室室長原田博司様 14：00 ミニセミナ 01、02 102A1 12:45∼13:35 コース＃02 最先端メモリ実装でのSI/PI/ EMIシミュレーションの活用事例パワー・インテグリティとノイズ対策 Agilent Technologies EEsof EDA Division Sr. Application Expert Hany Mohamed Fahmy 15：00 101D3 15:10∼16:00 ルネサスエレクトロニクスのZigBee ソリューションと設計事例のご紹介明日から測れるスマートメータ 102A2 13:50∼14:40 ICへの電源電圧揺れていませんか？ピタリと止めるPI最新評価手法シグナル・インテグリティの改善高性能組み込みシステムの評価 102C3 15:10∼16:00 08 東京エレクトロンデバイス株式会社ソリューション事業統括本部 PLD事業部 PLDソリューション部ソリューショングループ天野泰典様弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部竹中慎吾発事例に学ぶデバッグ手法の勘所 105E1 13:15∼14:05 【基調講演】アセッサから見たEMCサイト・測定設備の維持・管理について EMI認証、その考え方とミニセミナ 05 一般財団法人日本品質保証機構総合製品安全部門品質・技術推進室（ＪＱＡ）参与羽田隆晴様測定を基礎から学ぶ 106F1 13:15∼14:05 コース＃06 【基調講演】CMOSでミリ波回路を実現-最新技術動向と今後必要とされる技術について WiGig/ミリ波高速無線LANをミニセミナ 04 東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻准教授岡田健一様開発するミニセミナ 09 108D1 13:00∼13:50 GaN系パワー素子の技術トレンドと今後の課題最新のパワーデバイス評価株式会社パウデック技術開発グループ主任理学博士八木修一様 104E3 15:25∼16:15 これで完璧！DDR規格の正しい理解と最新の評価手法 104E4 16:30∼17:20 デバッグを１００倍楽に！MSO とロジアナは、こう使いこなせ！弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部佐貫聡信弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部菊地秀弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部池原司益株式会社東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部嶋田翔太様 106B3 14:55∼15:45 近距離無線システム用60GHz 帯ミリ波IC設計事例 106B4 16:00∼16:50 製品化が進むWiGig/11adとミリ波測定の最先端 105A4 16:00∼16:50 パナソニック株式会社通信コア開発センター斉藤典昭様明日から測れるスマートメータ弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部田中賢悟ミニセミナ 03 108F2 14:20∼15:10 ハイパワー・高精度解析を両立 -パワー・デバイス解析ソリューションアジレントテクノロジー・インターナショナル半導体パラメトリックテスト事業部開発部柿谷寿生ミニセミナ 05、13 106B5 17:05∼17:55 ADS2012 What's New -熱と回路の連成解析と操作性の向上- 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部井上賢一 101D3 15:10∼16:00 東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻准教授岡田健一様コース＃08 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部青木秀樹 EMIレシーバ MXE とソフトウエア EP7による「EMI測定時間半減のご提案【基調講演】CMOSでミリ波回路を実現-最新技術動向と今後必要とされる技術について近距離無線の最前線 10 105A3 14:55∼15:45 デジタルIFによるEMIレシーバの技術革新とCISPR規格のおさらい 106F1 13:15∼14:05 コース＃07 ミニセミナ実動作状態でのTDRインピーダンス測定ができる！-最新の設計評価手法芝浦工業大学工学部電子工学科教授須藤俊夫様 104C2 14:05∼14:55 高性能FPGA/DDR組込システム開 14 102F4 16:30∼17:20 【基調講演】チップ・パッケージ・ボードの統合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制ミニセミナミニセミナ株式会社東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部課長/ソリューションアドバイザ衛藤正悟様芝浦工業大学工学部電子工学科教授須藤俊夫様 Xilinx 28nm 最新FPGAで実現する 1866MbpsDDR3 SDRAMインタフェースコース＃05 102C4 16:15∼17:05 最新デスクトップ近傍界スキャナを用いたノイズ対策/アンテナ設計手法の紹介合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制 08 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部大津谷亜士 104C1 13:00∼13:50 01、10 【基調講演】チップ・パッケージ・ボードの統ミニセミナ 18：00 ミニセミナ 102C3 15:10∼16:00 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部松尾道夫コース＃04 17：00 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部田中賢悟ルネサスエレクトロニクス株式会社 MCU事業本部福岡淳様 103B2 13:50∼14:40 オシロの波形がおかしい！-高速基板をＴＤＲとSパラで評価するコース＃03 16：00 101D2 14:05∼14:55 弊社電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング橋本憲良 107D4 16:15∼17:05 見えてきた次世代高速無線： 11acの規格と測定弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部杉山裕之 108F3 15:25∼16:15 カーブトレーサによるパワーデバイス解析の落とし穴と効果的対応弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部藤澤宏行ミニセミナ 02、04 106B5 17:05∼17:55 ADS2012 What's New -熱と回路の連成解析と操作性の向上- ミニセミナ 09、11、12 弊社電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング橋本憲良 ■ おすすめのセミナの組合せをコースとしてご紹介しております。コース内の一部のセミナのみの受講や、異なるコースのセミナを組み合わせて受講していただくことも可能です。（ただし、時間が重なるセミナの組合せはできません。）空き時間におすすめ！ミニセミナのご案内 ※ミニセミナは来場登録のみでご覧いただけます。 01 スマートメータ信号生成と技適自動計測のデモ 02 初心者向け；ここが勘所！よくあるスペクトラムアナライザお問い合わせ 03 次世代パワー半導体向けシミュレーション用モデル NeuroFET 11 シミュレーションモデルの精度（MQA)を簡単にチェック。高精度な回路解析を可能にします。 12 B2900A トランジスタ評価から高性能バイアス源としてまで汎用的に使用できるSMU によるIV評価 20 SystemVue + M8190 + PXI = DPD 21 シミュレーションが測定値とピタリ！高速デジタル基板設計での測定とシミュレーションの融合 22 DDRメモリにおけるデバックといえばInfiniiScan 04 89601B使いこなし。10のヒント 13 デジタル回路におけるEMIデバッグのために、マルチチャンネル・マルチドメインアナライザデモ 23 RF信号の連続記録による間欠障害の解析 05 ESD放電ガン始業前点検の自動化 14 測定治具の最新評価法と補正法（サマリ版） 24 実用化が迫る光インターコネクションの測定基礎 25 ミリ波ソリューション総覧 06 実演！超簡単、5分で出来るオシロ測定の自動化プログラム作成 15 E6621A PXTを用いたLTE対応スマートフォンの特性試験 07 InfiniiSimによる観測点移動と、プローブ/ケーブルのf特補正の実演 16 測定器のオトクな導入方法、各種ご紹介いたします。 08 TDRオシロスコープを置き換える、ENA-TDRデモンストレーション 17 忘れちゃいけない音声品質試験！オーディオ測定ソリューションの今昔 27 26 Custom OFDMを用いたシステムのSystemVueでの設計と検証ゼロから始める電磁界シミュレーション 09 実演！今日から使えるオシロの小技100連発 18 こんなに便利、FPGAベンダの標準ツールとの連携デバッグ 28 25Gを超える光トランシーバ測定最前線 10 計測制御プログラムを成功させる10個の勘所! 19 最新のスペアナテクノロジ 29 Passive Intermodulation測定について 30 実変調信号を用いたIC設計、検証設計/ GoldenGateとSystemVueの協調シミュレーション 31 信号源の位相雑音が受信試験を左右する 32 汎用インピーダンス測定を可能にするネットワークアナライザ 33 インピーダンス測定アップデート 34 PNA-X 非線形デバイスの測定を1台で複数の役割をこなすネットワークアナライザ 35 ハイパワー、高ダイナミックレンジ測定を実現する新RFネットワークアナライザ） 6月20日（水）受付 9：30∼ 10：00 11：00 12：00 13：00 201A3 12:45∼13:35 コース＃01 202A2 11:05∼11:55 最先端28nm FPGAによる高速シリアル 10Gbps超バックプレーン通信の最適化技術いよいよ10Gbpsへ！高速シリアルインターフェイスミニセミナ日本アルテラ株式会社応用技術部渡辺隆文様マーケティング部橋詰英治様 203A1 10:00∼10:50 HDMI 1.4b測定の勘所と HDMI最新動向弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部今岡淳 203C2 11:20∼12:10 これで納得！ LVDS評価の基礎技術ミニセミナ 07 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部小室行央 204B2 11:05∼11:55 オシロの波形がおかしい！-高速基板をＴＤＲとSパラで評価するコース＃04 シグナル・インテグリティの改善弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部松尾道夫ミニセミナ 06、16 10、18 203C3 13:00∼13:50 DisplayPortの測定手法と最新情報 ∼eDP、iDP、MYDP∼ 16 08、16 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３デバッグへの活用パナソニック株式会社プロセス開発センター基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム木下智博様コース＃07 1日でわかる無線LAN コース＃08 世界を見据えたLTE端末開発コース＃09 これからの複合端末コース＃10 組み込み機器評価コース＃11 実アプリケーションから見る高速デジタルとシグナル・インテグリティミニセミナ 21 設計の肝は誘電率にアリ。様々な試料に使える複素誘電率、透磁率測定ミニセミナ 16 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部戸高嘉彦 207B1 10:00∼10:50 製品化が進むWiGig/11adとミリ波測定の最先端弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部井上賢一 207D2 11:20∼12:10 今から始める無線LAN： 11a/b/g/nの規格整理ミニセミナ 02 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部依田達夫弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部栗山有美 208C1 10:15∼11:05 LTE端末および技術の世界動向について講演予定 208C1 10:15∼11:05 LTE端末および技術の世界動向について講演予定ミニセミナ 15 208E2 11:35∼12:25 LTEの基礎とLTE-Advanced の概要弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部森下幹夫 207D2 11:20∼12:10 今から始める無線LAN： 11a/b/g/nの規格整理弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部栗山有美 203C2 11:20∼12:10 これで納得！ LVDS評価の基礎技術弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部小室行央ミニセミナ 10、16、17 日本アルテラ株式会社応用技術部渡辺隆文様マーケティング部橋詰英治様ミニセミナ 19、20 ミニセミナ 25 ミニセミナミニセミナ 16 ミニセミナ 07、27 パナソニック株式会社プロセス開発センター基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム木下智博様 16 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３デバッグへの活用パナソニック株式会社プロセス開発センター基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム木下智博様ザインエレクトロニクス株式会社製品企画部製品企画グループ山本周平様弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部依田達夫実動作状態でのTDRインピーダンス測定ができる！-最新の設計評価手法ミニセミナ 10、33 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部青木秀樹 205B6 16:00∼16:50 ライバルに差をつけるトレーサブルなSパラメータ測定ミニセミナ 29、35 ミニセミナ 32、34 弊社電子計測サービス部門青木俊明弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部小薮哲夫ミニセミナ 09 ミニセミナ測定ができる！-最新の設計評価手法 27 10 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部青木秀樹 207D5 15:10∼16:00 その無線モジュール、設計通りの性能出てますか？ 26 208B4 13:50∼14:40 LTE端末開発テストの実際 - RFからプロトコルまで実動作状態でのTDRインピーダンスミニセミナミニセミナミニセミナ弊社電子計測本部 EDAアプリケーションエンジニアリング福島理絵 208B5 14:55∼15:45 MIMO性能を担保する： OTA規格動向と測定システム弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部吉田生 04、10 ミニセミナ 30、31 208B5 14:55∼15:45 MIMO性能を担保する： OTA規格動向と測定システム弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部杉山裕之 204B3 12:45∼13:35 ミニセミナ 23 207F3 13:15∼14:05 見えてきた次世代高速無線： 11acの規格と測定 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３デバッグへの活用 V-by-One HS概要 ∼次世代高速ビデオ・インターフェース 204F5 15:25∼16:15 204B3 12:45∼13:35 202A2 11:05∼11:55 最先端28nm FPGAによる高速シリアル 10Gbps超バックプレーン通信の最適化技術 10、17 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部荒井信隆 204F5 15:25∼16:15 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部大沼克己弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部杉山裕之ミニセミナ PCI Expressの最新動向と測定事例 09 205F4 14:20∼15:10 校正手法のあくなき進化！ネットアナ使用方法の新パラダイム 207F3 13:15∼14:05 見えてきた次世代高速無線： 11acの規格と測定ミニセミナ 202C6 16:15∼17:05 ミニセミナ弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部長嶺銀河 ∼本当の波形を観る∼実測不可点の波形観測を実現する観測点移動技術とＤＤＲ３デバッグへの活用パナソニック株式会社プロセス開発センター基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム木下智博様 10、16、17 Agilent Technologies Measurement Research Lab. IEEE Fellow Doug Baney 203A5 16:00∼16:50 204B3 12:45∼13:35 206F1 10:30∼11:20 アジレント光測定技術のベースとなるコア・テクノロジー弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部竹嶋茂樹 203E4 14:20∼15:10 スマートフォンやタブレットにおけるMIPIとMHLの測定手法弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部石井幹コヒーレント光通信を支える光コンポーネント測定技術弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部岡崎淳起 204D4 14:05∼14:55 最新トレンド∼オシロスコープ上での波形観測点移動 205D3 13:00∼13:50 大丈夫ですかその測定？測定治具の最新評価法と補正法最新電子部品測定事情材料、基板評価に役立つ情報 22 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部長嶺銀河 204B3 12:45∼13:35 ミニセミナ 24 ミニセミナ 28 17：00 201E6 16:30∼17:20 202A5 14:55∼15:45 USB3.0は、こう測れ！ USB3.0評価とチャレンジミニセミナ弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部坂田健ミニセミナ 16：00 201E5 15:25∼16:15 ミニセミナ弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部山口修司 202E3 13:15∼14:05 わかるSATA Gen3評価コース＃05 コース＃06 いよいよ次の段階へ… 変調解析の新たな形東北大学電気通信研究所所長中沢正隆様コース＃02 次世代ディスプレイ・インターフェイス 15：00 201C4 14:05∼14:55 【基調講演】テラビット光セッション向特別基調講演テラビット・ネットワークに向けた光測定技術コース＃03 14：00 208D6 16:15∼17:05 LTE用チップセット開発の取りくみとRFICの設計事例弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部長嶺銀河 204D4 14:05∼14:55 最新トレンド∼オシロスコープ上での波形観測点移動ミニセミナ 10 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部依田達夫 210Ｆ6 16:30∼17:20 これで完璧！DDRメモリ規格の正しい理解と最新の評価手法ミニセミナ 22 弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部佐貫聡信 204F5 15:25∼16:15 ミニセミナ 27 実動作状態でのTDRインピーダンス測定ができる！-最新の設計評価手法 02、15 ルネサスモバイル株式会社モバイルマルチメディア事業本部 SoC事業部エグゼクティブ田中聡様弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部吉田生 203E4 14:20∼15:10 スマートフォンやタブレットにおけるMIPIとMHLの測定手法ミニセミナミニセミナ弊社電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部青木秀樹 ■ おすすめのセミナの組合せをコースとしてご紹介しております。コース内の一部のセミナのみの受講や、異なるコースのセミナを組み合わせて受講していただくことも可能です。（ただし、時間が重なるセミナの組合せはできません。） 10 セミナ・エリア/基調講演詳細（来場登録に加えて、セミナ毎の事前登録が必要です）コース＃01 スマートメータ【基調講演】講演内容については、変更の可能性があります。あらかじめご了承ください。見えてきたWiSUN -スマートグリッドを担う無線規格の最新動向コース＃05 EMI認証、その考え方と測定を基礎から学ぶ 6月19日（火）【基調講演】アセッサから見たEMCサイト・測定設備の維持・管理についてコース＃06 WiGig/ミリ波高速無線LANを開発するコース＃07 近距離無線の最前線むWiSUN(wireless smart utility network)について、標準化動向や問題点、今後の展望について解説する。独立行政法人情報通信研究機構ワイヤレスネットワーク研究所スマートワイヤレス研究室室長原田博司様現在自社の製品の EMC 性能を確認するために多くの企業が EMC 測定設備を有しており、認定サイトに限らず試験結果の信頼性の検証要求が高まってきている。本セミナでは試験結果の信頼性の維持・向上を図るための EMC測定設備の管理について説明する。一般財団法人日本品質保証機構総合製品安全部門品質・技術推進室（ＪＱＡ）参与羽田隆晴様近年、ミリ波帯利用技術の研究開発が活発化している．従来より、ミリ波は高速な無線通信やレーダー、イメージングに利用されている．以前はGaAsなどの化合物半導体の利用が主でするようになっており、それが今日のミリ波利用の一大ブームの大きな要因ともなっている。 CMOSでミリ波回路を実現 ─最新技術動向と今後必要とされる技術についてコース＃02 パワー・インテグリティとノイズ対策コース＃03 シグナル・インテグリティの改善【基調講演】チップ・パッケージ・ボードの統合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制 6月20日（水）は小電力無線全体の技術動向について言及し、特に米国 IEEE802委員会でIEEE802.15.4e/4gとして標準化が進あったが、半導体技術の改善により、安価なCMOSトランジスタがミリ波でも十分に動作【基調講演】コース＃01 省エネルギー社会に向けたスマートネットワークの実現において、電気・ガスメータ等の自動検針と管理は不可欠なパーツであり、こうしたスマートメータを実現するために多様な技術の可能性が討議されている。本セッションでテラビット・ネットワークに向けた光測定技術【基調講演】本講演では、ミリ波帯での無線アプリケーションについて概説し、回路や実装技術についての側面から今後新たに必要となる技術の動向についても解説する。東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻准教授岡田健一様これまでのボードのPDN（電源インピーダンス）だけでは顕在化できないチップ・パッケージの反共振問題を議論するためには、チップ自身のPDNも反映させた統合PDNを正確に把握することが不可欠になってきた。このとき、おおまかな目安として、一定値のターゲットインピーダンスを設計目標としてきたが、適正なマージン設計するには、LSIのスイッチング動作時の電源電流成分を考慮した新たなターゲットインピーダンスの考え方が必要となる。本セミナーでは、このような新たな考え方による電源ノイズ制御と、EBG構造によるノイズ伝搬抑制について紹介する。芝浦工業大学工学部電子工学科教授須藤俊夫様次世代光通信に向け、東北大・中沢先生から特別にご講演をいただけます。詳しくは別途掲載予定の当社ホームページをご確認ください。テラビット光セッション向特別基調講演東北大学電気通信研究所所長中沢正隆様会場案内パシフィコ横浜アネックスホール〒220-0012 横浜市西区みなとみらい 1-1-1 アネックスホールヨコハマグランドインターコンチネンタルホテル横浜みなとみらいホールみなとみらい線みなとみらい駅 [ タクシー ] 約 5 分 ●みなとみらい駅より横浜美術館クイーンズスクエア横浜日本丸メモリアルパークけやき通りいちょう通り [ バス ] パシフィコ横浜方面行き約 7 分交番パンパシフィックホテル横浜さくら通り国際大通り ●桜木町駅より横浜ランドマークタワーワシントンホテルみなとみらい大通り [ 徒歩 ] で約 3 分横浜銀行 JR 京浜東北線高島町駅お問い合わせ先国立大ホール新港地区交通 [ 徒歩 ] 動く歩道で約 12 分展示ホール東急東横線日石横浜ビル動く歩道桜木町駅国道 16 号線アジレント・テクノロジー（株）イベント事務局 TEL：03−3255−8131 お問合せ時間：月曜日∼金曜日までの9:00∼17:00（祭日を除く） e-mail : [email protected] ©Agilent Technologies. Inc. 2012 Published in Japan, March 29,2012 5991-0010JAJP 0000-08A