円孔設置による鋼床版垂直スティフナー取付け部の疲労耐久性の改善 井上 貴成 R 1.研究の背景・目的 鋼床版のデッキプレートと垂直スティフナーのすみ肉溶接部に数多 E くの疲労損傷が報告されている.当該箇所に対しての補修・補強方法 L 載荷板 W の一つとして,垂直スティフナーに半円孔を設け,デッキプレートの 面外曲げ変形に対する拘束を緩和し,疲労き裂の起点となる溶接止端 部の応力を低減させる方法が提案されている.この方法の効果が高い スティフナー ことはいくつかの研究によって確かめられているものの,半円孔の施 デッキプレート 工は多少困難とも考えられる.そこで,半円孔ではなく,垂直スティ 図 1 試験体図 デッキプレート ル試験体の応力測定試験,疲労試験と応力解析を行う.なお,最適化 O30 / の検討に際しては,有効切欠き応力の概念を用いる. No.1, No.3 No.2 図 2 円孔位置 図 1 に示す形状・寸法の試験体 3 体を用いて,応力測定試験と疲労 0 試験を行った.なお,試験体 1 体で 2 箇所の着目点があるので L・R 2 応力(N/mm ) で区別した.図 2 に示すように,各試験体の垂直スティフナーに直径 験体については,ホールソーで円孔をあけたままである. スティフナー O30 / 15 30 2.応力測定試験と疲労試験 目的で円孔壁面を#120 の砥石を用いて仕上げている.No.1 と No.2 試 デッキプレート スティフナー 30 本研究では,円孔の寸法と位置を最適化することを目的とし,モデ 30 ることを考えた. 30mm の円孔を設けた.なお No.3 試験体は,表面粗さの影響を調べる (単位:mm) 橋軸方向 フナーに円孔をあけて,デッキプレート側溶接止端部の応力を緩和す 円孔なし No.1 No.2 No.3 −50 −100 応力測定試験は 20kN の静的荷重載荷時に行った.応力測定試験結 果を図 3 に示す.円孔なしの値は No.1 試験体で円孔を設置する前に測 −150 定したものである.円孔を設置することで溶接止端部の応力は低減し ている.No.2 試験体に比べ No.1,No.3 試験体での応力の低減が大き い.これは No.1,No.3 試験体の円孔がこば面から深い位置にあったた 0 5 溶接止端からの距離(mm) 10 図 3 応力測定試験結果(L・R 平均) めと考えられる. AW−L AW−R 疲労試験は荷重範囲 30kN(下限荷重 1.0kN) ,繰返し速度 5.0Hz とし 行い,試験体表面の疲労き裂を観察した.No.1,No.3 試験体では円孔 壁面からき裂が発生し,デッキプレートまで進展したが,溶接止端部 からのき裂は生じなかった.No.2 試験体では溶接止端部と円孔壁面の 両方からき裂が発生し,進展した.その様子を写真 1 に示す.円孔壁 100 き裂長さ(mm) て行った.疲労試験中は所定の荷重繰り返し数ごとに磁粉探傷試験を No.1−L No.1−R No.2−L No.2−R No.3−L No.3−R AW:円孔なし 50 面を砥石で仕上げた No.3 のき裂発生寿命は,穴をあけたままの No.1 試験体の 1.5 倍程度(30 万回と 50 万回)であり,仕上げの効果が認め られた.デッキ側溶接止端部で観察した疲労き裂の長さと荷重繰り返 し数の関係を図 4 に示す.円孔なし(AW)のデータは数年前に当研究 0 0 100 200 300 荷重繰り返し回数(万回) 図 4 き裂進展曲線 400 室で得られたものである.円孔を設置することで疲労き裂の進展が遅 くなっている. 10 デッキプレート スティフナー 円孔壁 スティフナー D デッキプレート スティフナー 溶接止端 写真 1 疲労き裂観察例(No.2) 図 6 有効切欠き応力と円孔径 D の関係 3.疲労耐久性に対する円孔の位置・寸法の影響 図 5 に示すように円孔の位置を H・V,寸法を D で定義し,それら 0 をパラメータとして,疲労き裂の発生が予想される溶接止端部と円孔 V=30mm とした.有効切欠き応力を求める位置近傍の要素寸法は 0.15mm であ る. 図 6 に有効切欠き応力と円孔径 D の関係を示す.その際,円孔は半 円形とし,デッキプレート下面から半円孔端部までの距離は 10mm で 2 D は 30, 40, 60, 80, 100mm,H は 0, 10, 15, 20, 30mm,V は 30, 40, 50mm 有効切欠き応力(N/mm ) 壁面の有効切欠き応力を 3 次元弾性有限要素応力解析により求めた. D20 D30 D40 −200 −400 −600 一定としている. 図 7 は有効切欠き応力とこば面からの距離 H の関係, 図 8 は有効切欠き応力とデッキプレート下面からの距離 V の関係を示 −800 したものである.No.2 試験体において溶接止端部と円孔壁面から同程 度の大きさのき裂が生じたことから,この場合の溶接止端部と円孔壁 0 10 20 こば面からの円孔中心位置(mm) 30 図 7 有効切欠き応力と 面の疲労強度は同程度になると考え,溶接止端部の有効切欠き応力を こば面からの距離 H の関係 円孔壁面の有効切欠き応力に換算したものも各図に示している.溶接 止端部の有効切欠き応力は D が大きく,H が大きく,V が小さいほど 0 低くなっている.一方,円孔壁面で 2 有効切欠き応力(N/mm ) の有効切欠き応力は,D が小さく, D=40mm,H=20mm デッキプレート H が大きく,V が小さいほど高くな V っている.換算した溶接止端部の有 スティフナー 効切欠き応力と円孔壁面の有効切欠 き応力が交差する場合に,両者の疲 D H 労強度が同値となるため,最も効果 的な補修と考えられる. 図 5 パラメータ 4.結論 直径 40mm の円孔をデッキプレート下面から 30mm,こば面から 6mm の位置に設置するとよい.これにより疲労強度は 1.2 倍に改善される. −200 −400 −600 −800 30 40 デッキ下面からの円孔中心位置(mm) 50 図 8 有効切欠き応力と デッキプレート下面からの距離 V の関係
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