= 共 用 促 進 講 座 = 表面分析を上手に依頼する・利用する・使いこなす 受講料 無料 表面分析装置の活用方法がわかる! 依頼者・技術者の課題解決&スキルアップに貢献します。 主催:名古屋工業大学 大型設備基盤センター 先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業 これから表面分析を始めようとされている方 表面分析の依頼を検討されている方 表面分析に携わっている方 対象 -平成27年度講座概要- 日程 9月25日 (金) XCT (X線CT装置)基礎~応用コース (コース1) 10月 6日 (火) SEM(走査電子顕微鏡) EBSDコース (コース2) 10月14日 (水) MALDI‐MS(レーザー脱離イオン化質量分析装置)ポリマー分析コース (コース3) 時間 10:00~16:00 場所 名古屋工業大学 大型設備基盤センター(22号館) 内容 講義と操作体験(見学もしくは実習) 定員 各コースとも定員10名(先着順) 詳細は裏面を ご覧ください -参加申込方法参加をご希望の方は以下の[お申込みの際の記載項目]をご記入の上、 各コースの開催日の7日前までにメール([email protected])にてお申込みください。 [お申込みの際の記載項目] 件名: 【共用促進講座申込】 ‐ーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーー 本文: 参加コース(複数コースお申込み可) 会社名(機関名) 部署名・役職 お名前(ふりがな) 所在地(郵便番号、住所) 電話番号 E-mail * 複数名でご参加の場合は、お手数ですがお1人様ずつお申込みください。 * 同一コースへの申込みは1社につき原則2名様とさせていただきます。 (3名以上での受講をご希望の場合はご相談ください。) * 締切後も空きがあれば、受付可能なコースもございます。お気軽にお問い合わせ下さい。 -コース詳細コース 番号 1 2 3 XCT コース名 実施日時 講演・実習内容 基礎~応用コース 9月25日 (金) X線CT装置の基礎的な装置原理から、2台のCT装置を 用いて撮像/活用方法まで説明します。また、分析相談 や試料のデモ測定も行います。測定希望試料がありました らお持ちください。(*1・2) 10月6日 (火) 電子後方散乱回折(EBSD)法ではどんなことができるの か、EBSDパターンの発生原理からEBSD法で得られる情 報について解説し、材料組織の基本的な解析手法を紹介 します。 FE-SEMを使用し、測定と解析の手順を見学していただ きます。 SEM EBSDコース MALDI ポリマー分析コー -MS ス MALDI-TOF-MSでのポリマー分析の方法、近年注目を浴 10月14日 びているKendrick Mass Defect (KMD)解析、マスイメージ (水) ングについて説明・紹介を行います。 また、実際の測定を見学していただきます。 *1 時間の都合上、対応できない場合もありますので、あらかじめご了承ください。 *2 お持込の試料は、他の講習者の目に触れてもよいものをご用意ください。 -タイムスケジュール場所 22号館入口 *途中適宜休憩をとる等、コースにより多少変更する可能性がございます。 時間 内容 9:30 ~ 10:00 受付 10:00 ~ 10:05 主催者挨拶、講師紹介 10:05 ~ 12:00 講義 12:00 ~ 13:00 (休憩) 各装置設置場所 13:00 ~ 15:45 実習 22号館 2階会議室 15:45 ~ 16:00 本事業紹介 修了証書授与 アンケート提出・解散 22号館 2階会議室 お申し込み・お問い合わせ 名古屋工業大学 大型設備基盤センター 先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業 担当:安井、杉本、加藤、平岡 TEL: 052-735-7117 FAX: 052-735-7117 E-mail : [email protected] Homepage : http://hyomen.web.nitech.ac.jp/
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