金属・量子井戸ヘテロ界面における動的共鳴現象 松井 裕章 (東京大学工学系研究科) 近年、貴金属表面上に励起される表面プラズモン(自由電子のコヒーレント振動)を用い、金属・ 半導体ヘテロ構造における光電機能の研究が注目されている。それは、半導体層の(電子・正孔キ ャリア励起)の生成効率の向上に対し、金属ナノ構造近傍に生じる局在表面プラズモンの強い光電 場の活用が提案されている。故に、金属と半導体間の動的なエネルギー移動の解明は重要な研究課 題である。しかし、このダイナミクスは、局所ナノ空間で生じる光学過程のため、詳細な物理的起 源は依然として不明な点が多い。 本研究では、超短波パルス光及び近接場光を用い Extinction (a.u.) 井戸内の励起子と、ナノスケールサイズの金属ナノ 構造近傍に共鳴誘起される局在表面プラズモンと の動的共鳴現象に関する諸特性の解明を実施した。 ZnO/Cd0.08Zn0.92O 量子井戸は、パルスレーザー堆積 PL intensity (a.u.) 成した(図 1(b)) 。図 1(a)-1(c)から、金属ナノ粒子と 酸化物量子井戸ヘテロ構造を形成させた。更に、図 1(d)の Ag ナノ粒子の減光度スペクトルから、ナノ粒 (e) 象の評価に適する。量子井戸内の励起子発光の時間分 解分光(TRPL)は、Ti: sapphire の 2 倍波 (λ = 400 nm) 2 2.5 3 T = 10 K Ag-coated QW 0 1 2 Decay time (ns) 3 図 1 (a) Ag/CdZnO QW ヘテロ構造の断面 TEM 像。(b)Ag ナノ 粒子と量子井戸表面間のヘテロ界面の断面 TEM 像。(c) Ag/CdZnO QW の走査型 TEM (STEM)像。(d) Ag ナノ粒子に 起因する減光度の大きさ(赤線)と、量子井戸からの発光スペク トル(黒線)。(e) uncoated と Ag-coated QW 試料における発光強 度の時間依存性(発光寿命)。 及びフォトンカウンティング計測を行った。図 1(e) 変化が見られた。これは、量子井戸内の励起子エネル ギーが金属ナノ粒子にエネンルギー伝達されたこと を示唆する。量子井戸内の電子・正孔対の再結合過程 が、金属ナノ粒子の存在に強く影響された。図 1(c) から、2 種類の指数関数(発光寿命:τ1 及びτ2)を用 いて表記される。Ag ナノ粒子が無い領域(緑)の発 光寿命は、τ1 = 0.27 ns 及びτ2 = 2.1 ns である。10K に Effective lifetime (ns) は、量子井戸内の励起子発光の 10K における発光寿 命特性を示す。金属ナノ粒子の存在に伴い発光寿命に 3.5 uncoated QW 子表面上に励起される局在表面プラズモン(LSP)に 一致する。故に、プラズモンと励起子間の動的共鳴現 (d) Photon energy (eV) (Ag)のナノ粒子構造も同様に、PLD 法を用いて形 基づく光吸収が観測され、量子井戸からの励起子光と PL 1.5 (PLD)法を用いて作製した(図 1)。一方、銀金属 PL intensity (a.u.) uncoated QW Ag-coated QW た時空間分光計測技術を用いて、 ZnO 系単一量子 τ eff = 0.5 0.3 0.1 ( I1τ 1 + I 2τ 2 ) ( I1 + I 2 ) W/O Ag layer With Ag layer 10 100 Temperature (K) 図 2. CdZnO 量子井戸における有効発光寿命(τeff)の 温度依存性とプラズモン共鳴の影響。 10 ps 程度され、数ナノ秒の長寿命成分は、励起子 8 (a) の存在する領域の発光寿命は、τ1 = 0.24 ns 及びτ2 = 1.7 ns を示し、長寿命成分において Ag ナノ粒 子の影響が顕著である。 図 2 に、 有効発光寿命(τeff) の温度依存性を示す。測定温度の上昇に伴い、発 光寿命の差異は小さくなり、75K 以上で消失した。 75K 近傍では、励起子が局在性から非局在性に転 移する温度領域に相当する。故に、量子井戸内の 励起子と局在表面プラズモン間のエネルギー共 鳴は、局在励起子再結合が重要な役割を果たすこ Decay rate (ns)-1 局在性の関与が示唆される。一方、Ag ナノ粒子 6 4 kPL, metal kPL 2 10 100 Temperature (K) LSP – SQW energy transfer rate (ns)-1 おける ZnO 単結晶の励起子再結合寿命は、約 100 101 (b) kNR 100 kR kET 10-1 10 100 Temperature (K) 図 3. (a) 量子井戸内の励起子発光における減衰レートの温度依存 性。(b) 金属ナノ粒子の局在表面プラズモンと量子井戸内の励起 子間のエネルギー移動レートの温度依存性。 とを明らかにした。 図 3(a)は、有効発光寿命より見積もった減衰レートを示す。更に、図 3 に、エネンルギー移動レート (kET)、輻射(kR)及び無輻射の減衰レート(kR)を示す。量子井戸から局在表面プラズモンへの kET は、kET = kPL metal - kPL から見積もった。図 3 より、kET の温度依存性は、kR の温度依存性と類似する結果は、量子井戸 から局在表面プラズモンへのエネルギー移動が、励起子の輻射再結合過程の温度域において可能となる。 つまり、低音域で観測された強い励起子発光抑制は、励起子の輻射再結合が支配する温度域にて発現し た結果を支持する。量子井戸から金属ナノ粒子へのエネルギー伝達に必要な時定数は、約 1.2 ns-1 である。 また、量子井戸と金属ナノ粒子の光相互作用が可能な空間距離は、約 40 nm であった。従って、金属・ 半導体ヘテロ構造におけるプラズモン・励起子間の光結合の存在を明らかにした。 謝辞 本研究に関して、第 2 回及び第 3 回 DYCE 公開シンポジウムにおいて、DYCE に参加されておられ る諸先生方との交流・議論によって得られた。 参考文献 [1] H. Matsui, W. Nomura, T. Yatsui, M. Ohtsu and H. Tabata, Optics Letters 36, 3735-3737 (2011).
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