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サブピクセル処理による高速・高精度欠陥検査
インラインでの高速・高精度な欠陥検査を実現いたします。
特徴
● 高速性を要求されるインラインでの高精度検査
撮像される画像に対して、1画素以下の精度で画像処理を行うサブピクセル処理によって検査精度は向上します。しかし
インライン検査では従来、処理が間に合わず適用できないことがほとんどでした。
これに対して、当社ではGPGPUなどの高速演算処理を適用することにより、高速な製造ライン上でも高精度な検査を
可能にします。
● 低解像度でも倍の欠陥検出性能を実現
印刷物の文字検査などのように、高精度な欠陥検出性能が要求される検査装置において、サブピクセル処理を適用し、
さらに当社独自の欠陥検出方式を採用することにより、従来の倍の検出性能を実現しました。（当社比）
【画像比較例】
【印刷文字の欠陥検出例】
正常画像
低解像度の画像でも、
微妙な違いを検出
撮像画像
検査画像
欠陥検出画像
（赤色が欠陥検出部を表します。）
サブピクセル処理後
適用例
● 高精度が要求される文字などの印刷検査
● 形状計測や部材欠陥などの高速インライン検査
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Cat.No 3S5J-060-00-150527

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