主催・企画:一般社団法人 電子情報技術産業協会 半導体信頼性技術小委員会 近年、日本の企業も半導体Foundryを活用することが増えてきました。JEITA半導体信頼性技術小委員会は、 2013年度より当セミナーを開始しました。お陰様で好評を頂き、第6回を仙台にて開催致します。当セミナーでは 専門家であるJEITA委員が、Foundryを活用する上で不可欠なシリコンプロセス信頼性について、摩耗故障およ びソフトエラーのメカニズムと信頼性の考え方を中心に丁寧に説明します。また今回から新たにChipとPackageの 相互作用の概略も解説致します。半導体の信頼性設計あるいは製品認定等で、Foundryを活用される立場の 方々に有益な内容になるのは勿論のことですが、半導体の信頼性物理の習得が必要な方、特にこの分野を勉強 されている学生の皆さんにも有益な内容となっております。皆様のご参加を心よりお待ちしております。 日時 2015年 12月18日(金) 9:30~17:00 会場 仙台国際センター 小会議室1 9:30~9:40 開催挨拶 瀬戸屋 孝 半導体信頼性技術小委員会 主査 [㈱東芝] 9:40~9:50 概要説明 中村 隆治 故障メカニズム/ウェハ信頼性プロジェクトグループ(PG)委員 [OKIエンジニアリング㈱] 故障メカニズム(MOSFETの信頼性:Hot carrier注入、NBTI(PBTI)、ゲート酸化膜の経時絶縁破壊) および(High-K Metal Gateの基礎) 田中 9:50~11:55 11:55~12:55 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG 委員 [ラピスセミコンダクタ㈱] 宏幸 細野 剛 大日方浩二 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG 委員 [ローム㈱] 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG 委員 [ソニー㈱] 志賀 克哉 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG 委員 [ルネサスエレクトロニクス㈱] 質疑応答 休憩 故障メカニズム:エレクトロマイグレーション、ストレスマイグレーション、層間膜の経時絶縁破壊) およびCPI:Chip Package Interaction 12:55~14:50 14:50~15:00 高島 智 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG 委員 [新日本無線㈱] 松山 英也 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG リーダー [㈱ソシオネクスト] 若井 伸之 質疑応答 休憩 故障メカニズム/ウェハ信頼性PG サブリーダー [㈱東芝] ソフトエラー(ソフトエラーのメカニズム、中性子、α線のデバイスへの影響) 志賀 克哉 SER-PG委員 [ルネサスエレクトロニクス㈱] 16:40~16:45 伊部 英史 SER-PG委員 [㈱日立製作所] 浅井 弘彰 SER-PG委員 [HIREC㈱] 松山 英也 SER-PGサブリーダー [㈱ソシオネクスト] 質疑応答 全体質疑応答 16:45~16:50 閉会挨拶 若井伸之 ソフトエラー検討プロジェクトグループ(SER-PG) リーダー [㈱東芝] 16:50~17:00 アンケート回答 15:00~16:40 1 ※プログラムの内容につきましては、変更となる場合もございますので予めご承知おきください。 ※※ 12:55~14:50および15:00~16:40の間に各5分程度の休憩が入る予定です。 - 参 加 要 ■日 時 2015年12月18日(金)9:30~17:00 ■場 所 〒980-0856 仙台市青葉区青葉山無番地 仙台国際センター 会議棟1階 小会議室1 領 - Tel. 022-265-2211(代表) http://www.aobayama.jp/access/ ■申込期限 2015年12月11日(金)必着 ■定 40名(定員になり次第締め切らせて頂きます) 員 ■申込方法 参加のお申し込みは、下記問合せ先にてお受けいたします。 ■参 加 費 20,000円(JEITA会員) 25,000円(非会員) 3,000円(学生)税込 特別参加 ¥33,000 (聴講は2名まで無料、【EDR-4705A,EDR-4707】1セット込み) ※会員・非会員の区分は、下記にてご確認ください。(特別参加の場合、区分不要) (JEITA)http://www.jeita.or.jp/cgi-bin/member/list.cgi ※お申込み後のキャンセルはお断りさせていただいております。 ※セミナーにて解説する内容をまとめた資料につきましては、当日に配布いたします。 ※セミナー参加者向けに当該ガイドライン特別頒布価格をご用意させていただきますので、 この機会に是非ご検討下さい。 なお、特別頒布価格での入手希望の方は、専用申込書(別紙)でのお申込みに限りますので ご留意願います。(主に特別参加以外の方へのご案内です。) ■お知らせ セミナー参加 番号 通常頒布価格 JEITAソフトエラー試験ガイドライン EDR-4705A ¥7,406 ¥4,000 LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告 EDR-4707 ¥12,138 ¥9,000 規格・ガイドライン名 特別頒布価格 (今後の開催予定について) 当セミナーはお陰様を持ちまして大変好評を頂いております。 2015年度は下記地域でも開催を予定しておりますので、皆様のご参加をお待ちしております。 開催詳細につきましては、ホームページ等で公開予定です。(2016年2月北陸地区) ■運営事務局・各種問合せ先 株式会社 ティアテック JEITA信頼性セミナー運営事務局 担当:山本 弘毅(ヤマモト コウキ) 〒135-0034 東京都江東区永代2-16-1 ティアテックビル TEL:03-5875-9250 FAX:03-5875-9251 E-mail:[email protected] ■主 催 一般社団法人 電子情報技術産業協会 半導体信頼性技術小委員会 〒100-0004 東京都千代田区大手町1-1-3 大手センタービル ※申し込み時に入力いただきました個人情報は本セミナーの受付、次回ご案内の為に使用いたします。 他の目的で使用することはございません。 ※JEITAの個人情報保護方針につきましては下記をご参照ください。 http://www.jeita.or.jp/japanese/privacy/
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