半導体デバイス信頼性セミナー案内（PDF）

個別半導体信頼性認定ガイドラインセミナー
“JEITA EDR-4711 個別半導体信頼性認定ガイドライン（新規制定）”
主催・企画：一般社団法人電子情報技術産業協会半導体信頼性技術小委員会
JEITA（一般社団法人電子情報技術産業協会）では2011年4月に「EDR-4708／半導体集積回路信頼性認定
ガイドライン」を発行しましたが、同セミナーでパワー半導体を中心とした個別半導体についても認定ガイドライン
の制定を要望する意見が多く寄せられました。現在、車載用電子部品認定規格としてはAEC-Q100/101が良く
知られていますが、摩耗不良に注目した過度な信頼性を追求する規格になっており、品質に関する観点が抜け
ている問題があります。今回発行する「EDR-4711／個別半導体信頼性認定ガイドライン」はEDR-4708のパ
ワー半導体版として、また、ユーザ／ベンダそれぞれの視点で「低コスト、高品質・高信頼性」を確保できる製品
認定ガイドラインとして策定いたしました。その内容、及び今後の動向について、以下の通りセミナーを開催致し
ます。多数のご参加を心よりお待ち申し上げております。
日時
2016年3月10日(木) 10:00～17:00
会場
金沢勤労者プラザ
１０３研修室
司会：山口浩二 (富士電機㈱)
10:00～10:10
開会挨拶
10:10～10:20
個別半導体の信頼性試験の変遷について
10:20～11:00
品質グレードの定義と用途（第３章）山口ＰＧリーダ (富士電機㈱)
11:00～11:40
（第４章）故障分布
・初期故障
・初期故障率
・平均故障
・平均故障率
・摩耗故障
11:40～11:50
（前半）質疑応答
12:00～13:00
休憩
13:00～13:40
（第５章）信頼性試験
・信頼性試験計画加藤委員（沖エンジニアリング㈱）
・信頼性試験項目
・ファミリの考え方横山委員（パナソニックセミコンダクターソリューションズ㈱）
・ファミリによる寿命試験の実施
・ファミリによる初期故障率の検証
13:40～14:20
（第６章）
14:20～14:35
休憩
14:35～15:10
（第７章）パワーサイクル試験及び参考試験
・パワーサイクル試験
中西委員（三菱電機㈱）
・試験数nの考え方
藤原委員（㈱東芝）
15:10～16:20
（第８章）スクリーニング
・ＴＤＤＢ測定及びスクリーニング手法
・アバランシェスクリーニング方法
16:20～16:45
宇宙線がパワーデバイスに与える影響
16:45～16:55
（後半）質疑応答
16:55～17:00
閉会挨拶
半導体信頼性技術小委員会主査
瀬戸屋孝（㈱東芝）
個別半導体信頼性ＰＧリーダ山口浩二(富士電機㈱)
竹野委員（ローム㈱）
休憩の終わり、午後の開始前に名刺交換会を行います。
強度試験
横山委員（パナソニックセミコンダクターソリューションズ㈱）
立山委員（ルネサスエレクトロニクス㈱）
竹野委員（ローム㈱）
個別半導体信頼性ＰＧリーダ
浅井委員(HIREC㈱）
山口浩二(富士電機㈱)
プログラムの内容につきましては、変更となる場合もございますので予めご承知おきください。
－
参
加
要
領
－
■日
時２０１６年３月１０日（木）10：00～17：00（開場
■場
所金沢勤労者プラザ１０３研修室
9：30）
〒920-0022 石川県金沢市北安江3-2-20
TEL (076)221-7771 FAX (076)221-7991
http://kinpura.com/index.html
■申込期限
■定
２０１６年３月３日（木）必着
員４０名
(定員になり次第締め切らせて頂きます)
■申込方法
参加のお申し込みは
下記URLから申込書をダウンロードして下さい。
http://semiconjeitassc.ec-net.jp/srg/
■参加費
20,000円（JEITA会員） 25,000円（非会員） 3,000円（学生）税込
特別参加
¥30,000 （聴講は2名まで可能、EDR-4711 を1冊お付けします。）
※翌日（3月11日(木)）半導体デバイス信頼性(摩耗故障・ソフトエラー）セミナーと、
本セミナー（3月10日(木)）の連日ご参加いただける方は参加費合計から5000円割引
させていただきます。（学生は割引対象外）
※会員・非会員の区分は、下記にてご確認ください。（特別参加の場合、区分不要）
（JEITA）http://www.jeita.or.jp/cgi-bin/member/list.cgi
※お申込み後のキャンセルはお断りさせていただいております。
※セミナーにて解説する内容をまとめた資料につきましては、当日に配布いたします。
※セミナー参加者向けの当該ガイドライン特別頒布価格を設定させていただいております。
まだお持ちでない方は冊子の入手をお勧めいたします。ただし、専用申込書（別紙）
でのお申込みに限りますのでご留意願います。
規格・ガイドライン名
個別半導体信頼性認定ガイドライン
■お知らせ
番号
通常頒布価格
EDR-4711
￥7,776(予定)
セミナー参加
特別頒布価格
￥6,000
（今後の開催予定について）
2016年度も各地域での開催を予定しておりますので、皆様のご参加をお待ちしております。
開催詳細につきましては、ホームページ等で公開予定です。
■運営事務局・各種問合先
株式会社ティアテック
JEITA信頼性セミナー運営事務局
担当：山本弘毅 (ヤマモトコウキ)
〒135－0034 東京都江東区永代2-16-1 ティアテックビル
TEL：03-5875-9250 FAX：03-5875-9251 E-mail：[email protected]
■主
催
一般社団法人電子情報技術産業協会半導体信頼性技術小委員会
〒100－0004 東京都千代田区大手町1-1-3 大手センタービル
※ご記入いただきました個人情報は本セミナーの受付、次回ご案内の為に使用いたします。他の目的で使用することはございません。
※JEITAの個人情報保護方針につきましては下記をご参照ください。 http://www.jeita.or.jp/japanese/privacy/

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