SURE: Shizuoka University REpository http://ir.lib.shizuoka.ac.jp/ Title Author(s) Citation Issue Date URL Version 測定工具の定期検査 佐原, 和芳 技術報告. 9, p. 71-74 2003 http://doi.org/10.14945/00003125 publisher Rights This document is downloaded at: 2016-02-02T09:01:52Z 測定工具の定期検査 工学部技術部装置開発系 佐原和芳 1．はじめに すべての「モノづくり」がグローバルに展開さ れ、激しい競争が余儀なくされている現在におい て、「新しい製品・技術の開発とその品質の維持・ ・ロッククランプでスピンドルをいったん固定した 後、スリーブの基線の裏側にある孔にキースパナを 合わせ、キースパナでスリーブをその差異だけ回し、 シンプルの零線にスリーブの基線に合わせる。 図2．2拡大部 向上」は大変重要である。このことを合理的かっ 経済的に推進するには、「正しい計測」が根本と ’ ’ ‥、 〉擦㍍．螂獺“ aDξ繍≦／v，ー㌘懲 ㌘タ ㍊燃．㌘簸購．烈 落?ｾ彩難鎌難 騨 なっている。 「正しい計測」を達成するためには、定期的に検 査・校正された信頼性のある測定工具を使用する こと、および測定担当者の計測技術を適切な教 育・訓練によって育成・向上させることが極めて 大切である。そこで、マイクロメータ、ノギス、 ハイトゲージ、ダイヤルゲージ、てこ式ダイヤル ゲージなどの測定器の定期検査を行うための知 凝 s． 、、 暴 ぽ’’” 識と技能を会得するために研修を行った。 図2．ユ 外側マイクロメータ 2）目盛の読み方 通常は、0．01㎜まで読むことができるが、目分 量で0．001㎜まで読むことができる。ただし、正 確に測定する場合は、バーニヤ付きを使用する。 2，研修内容 スリープ基講 シンプル§竪 ←も。。一 約＋3Pt m 端■』竺1μm r二豊＋ （1）測定工具の定期検査に関する基礎知識。 （2）JISにおける測定工具の性能検査法とその 許容値。 （3）測定工具の検査に用いる各種基準機器の取 り扱い法。 ti 2” m （4）各測定工具の検査及び実習。 シンプルの目盛線幅：約O．2㎜m 3）外観・機能の確認及び清掃 ①ブロックゲージ・オプチカルフラット・オプチ 2一ユ標準外側マイクロメータの検査 ・標準外側マイクロメータ（O∼25㎜） 平面度0．ユμm，平行度O．2μm カルパラレルの清掃 ②マイクロメータ各部の清掃 ③ねじ部がたの確認 ④口元がたの確認 ⑤クランプロックの作動確認 図2，3 4）器差 ・使用器具 プロツクゲー ・器準器：ブロックゲージ ・検査器 ・オプチカルフラット（3級）外径Φ45 mm． 平面度O，2μm ・オプチカルパラレル（ユ級）外径Φ30 mm， ジを測定面の間 キースパナ・マイクロメータスタンド に挟み、ラチェッ ユ）零点の調整法（基点） ①アンビルとスピンドルの両測定面を、きれい なガーゼまたは紙で拭きとる。 ②ラチェットストップを回転させながら測定力 をかけ、両測定面を接触させる。 ③シンプルの零線とスリーブの基線が完全に一 致していない場合には、下記の方法で零点を 難i購灘灘 蒙嚢 1…鞠 トを回してマイ クロメータの読 みとブロックゲ ージの寸法との 欝 ． 嚢灘蕪纏。、。㌦菖 NRI＊：sssr iぶ 、．ぷ『 差を求める。 マイクロメータの器差測定 調整する。 一71一 2本 2本 5）干渉縞 3本 3本 1．0μm 0．6μm ◎ ◎1翰 拶 ☆許三ξ諮 ゾtUへsも 狽r グ゜’” ・°⑭＾ ｛ ’1て＝“te’十 7）測定面の平行度 オプチカルパラレルを、マイクロメータのアン ビルの側面に密着させ（干渉縞は1色又は閉曲線 が現れる程度）、マイクロメータの測定力のもと に、白色光によるスピンドルの測定面の赤色干渉 の谷と山が重なる所では、 図2．4 干渉縞 暗くなり干渉縞として見 える。 6）測定面の平面度（密着法） 縞の数を読み取る。 マイクロメータの測定面にオプチカルフラッ ト（OF）又はオプチカルパラレル（OP）を密着 させ、白色光のよる赤色干渉縞の本数を数える。 この場合、次の3条件を満たすようにする。 この操作を、4個コ組となっている他のオプチ カルパラレルについて順次行い、得られた4個の データのうち最大値をもって、そのマイクロメー タの平行度とする。（図2．8参照） ①赤色干渉縞は、測定面のほぼ中央を軸にして ほぼ対照的な曲線になっていること。この条件を 満たす形になっていない時でも、（OF）又（OP） を押し付け直すことによって、この条件を満たす （注）平行度を求める場合には、アンビル側に現 示される赤色干渉縞の数は計算には含めず、スピ ようにする。 ・P：平行度（μm） ②平面度決定の基本になる赤色干渉縞の本数は、 見掛け上現示されている赤色干渉縞の総本数で はなく、測定面のほぼ中央から周辺に至る間に示 されている赤色干渉縞の数とする（図2，6）。 ③干渉縞の数は、スピンドルの軸線に対する傾 きが30°以内におさまる方向から読み取る。 ・n：スピンドル面に 現れた赤色干渉縞の数 ンドル側に現示される赤色干渉縞の数だけを数 える。 （本） ・λ：使用する光の波 長（μm） ・赤色干渉縞の場合 λ／2＝＝O．32μm ・F：平面度（μm） ・n：スピンドル、ア ンビル各面に現れた赤 P＝λ／2×n 図2．ラ 平行度測定 色干渉縞の数（本） ・λ：使用する光の波 図2．8 平行度測定例 長（μm） ・赤色干渉縞の場合 OPの寸法 図例 アンビル スピンドル縞の数 忌繧玲； λ／2＝0．32μm F＝＝λ／2×n ◎◎〇三〇 鷲法三箆漂 2本 雛雛i驚霧 ∼ 3本 t’”オ； 図2．5平面度測定 4本 図2．6 密着法による平面度測定例 ＊：1本．0．3μm 3本 ㊨） 鍛1 r” 「’一“…｛ 〃・’プ・〃口勿、〃・’〃｝ ｝ ．．“J ＊OPの寸法12．25mmの縞の本数4本が MAXとなるため、平行度は1．3μmとなる・ 一72一 8）校正・検査成績書 表1．1 校正・検査年月日 ：H15．9．ユ9 外側測定面間にブロックゲージ又はそれと同 等以上のゲージ類を挟み、測定面の元及び先で測 定し、ノギスの読みからゲージの寸法を減じて求 品名（形式） ：標準外側マイクロメータ める。 測定範囲 ：0∼25mm（0．01mm） 測定器番号 ：6031926 表1．6 ノギスの器差の許容値 単位：mm 測定長 最小表示量 基準器名（形式）：ブロックゲージ（BM3−16−O） 基準器番号 ：0206251 50以下 作業i環境 ：27°C・57％ 50を超え100以下 校正・検査員 ：佐原 100超え200以下 表1．2 器 差 日盛 器差 Pwn〕 ﾊm O O 5 1 ユ0 一2 】5 一4 20 25 一4 「JISB7507−1993」 表1．3 平 面 度 誤差 基準 ﾊm ﾊm アンビル O．3 O．6 スピンドル 0．3 項目 μm ±2 項日 0 平行度 O．1又は0．05 ±0．05 ±0．06 ±O．07 誤差 基準 ﾊm ﾊm 0．6 2 2−3ダイヤルゲージの検査 1） タト観・］幾自旨 ①汚れや油をきれいに取り除く。 ②スピンドルの作動及びがたを確認。 ③ 指針の静止点の狂いを確認。 ④ 外枠の回転やおおい板の破損などを検査。 ⑤測定子の磨耗状態を検査． 2）指示の精度検査 ・指示誤差、隣接誤差、戻り誤差の測定 表1．4平行度 基準：判定基準 表1．7 ダイヤルゲージ指示の精度 単位μm 表1．5 機 能 項 目 項 目 最小目盛 ねじのはめ合い ○ クランプ ○ ねじガタ ○ カウンタの宇並び ○ ラチェットストップ ○ カウンタのガラス板 ○ 測定範囲 マイクロメータ」 5 8 指示 1／2回転 ±9 ?ｷ 1回転 2回転 ±10 ±15 ±15 総合判定：合格・不合格 1全測定範囲 ・測定器：標準M形ノ．ギス 5 戻り誤差 繰り返し精密度 1／10回転（注） ＊判定基準：「JIS B7502−1994 2−−2ノギスの検査 n．01㎜ 10㎜以下 （注）：隣接誤差 ・基準器 「JISB7503」 ・プロツクゲージ 1）外側測定の器差 3．結果 図2．9 器差測定例 図2．9 検査結果判定図 一73一 4．まとめ （1）今回の研修の目的である、マイクロメータ、 ノギス、ダイヤルゲージの定期検査の知識 と技能の習得、JISにおける測定工具の 許容値の確認及び測定工具の操作につい て再確認ができ、大変有意義な研修であっ た。 （2）今回の研修によって工作技術センター職員 が使用している測定工具は、JISの許容 値内であることが立証された。今後、この 研修で習得した技術を基にして、測定工具 の定期検査をおこなう必要がある。 （3）信頼性のある測定工具を用いて、品質の維 持・向上に努め実験・研究のためによりよ い部品及び装置を依頼者に提供し工作技 術センターの技術の向上に努めたいと思 う。 参考文献 ミツトヨ計測学院：測定工具類の使い方と検査方 法、マイクロメータ編・ノギス編・ダイヤルゲー ジ編 研修参加者 三輪宜弘 石野健英 松野貞雄 磯谷 章 岩澤充弘 神尾恒春 岡本哲幸 一74一
© Copyright 2024 ExpyDoc
