平成17年度電子情報通信学会信越支部大会 7C-3 2光波混合を用いる正弦波状波長走査干渉法による粗面形状計測 矢後 裕章★ 佐々木 修己★★ 鈴木 孝昌★★ *新潟大学大学院自然科学研究科 ★★新潟大学工学部 1.はじめに 電子機器の小型化・高性能化に伴い、より前輪度 で高密度な部品が必要となってくる。このような部 品の形状測定にはレ-ザ干渉計を用いるが、部品の 表面形状が粗面の場合、測定物体で反射された物体 光は散乱光となり、通常のレ-ザ干渉計では測定が 困難となる。本研究では、フォトリフラクティプ結 晶を用いることで物体光と参照光の波面を一致させ、 より干渉信号を得やすくする。また、この2光波混 合で得られた光は伝播距離の情報を保持しているた め、干渉計の光源に半導体レ-ザを用い、正弦波状 の波長走査を行うことにより粗面物体の変位による 光路差変化を検出できるD そして粗面形状の測定を 高精度で行う0 2.原理および実験装置 実験装置を図1に示す。図の点線で固まれた部分 は外部共振器型の半導体レ-ザ(LD)であり、ミラー Mlを周波数fb=65Hzで振動させて波長走査を行うo LDのLトL、波長は670nmである。 LDからの平行光 はビームスプリッタ(BS)で二分され、測定物体で反 射された物体光はUl、ミラーM2で反射された参照 光はU2となる。物体の像をレンズL2を用いてフォ トリフラクティプ結晶(BaTiO3)内に倍率M,=!/3で 結像するOその像をレンズL4を用いてCCDヒに倍 率M,-3で結像する。 図2に示すように、物体光と参照光の2つの光が 干渉することにより結晶内に干渉縞ができ、これに より屈折率格子を形成する。この回折格子により、 参照光の波面が物体光の波面に変換されて2つの 波面が一致する。このことから容易に干渉信号S(t) =acos(Zccos叫t +ZbCOSCi)bt+cc)を得ることができる。 LDの発振波長入(I)は、波長走査振幅をbとすると 入(t)-Xo+bcosa>btとなるO この波長走査によって干渉 信号S(t)にZbcoso)btの項が生じるO ミラーM2を周 波数f'-2080Hzで振動させると、 S(t)にZccosc叫の項 が生じる。この干渉信号S(t)をCCDで検出する。 S(t)をコンピュータに取り込み、 Zccoscottをキャリ アとしてフーリエ変換処理を行うとZbcoso)bt+αが 得られ、 zbが求まる Zb-(2^b/X。-)Lであるため、 Zt,を測定することにより光路差しを求めることが できるD Ul、 U:の伝搬距離をそれぞれLI、 L_,とす ると、光路差しはL-L2-L,であるので、 Lを求めれ ば測定物体の表面形状が得られる。 3.&ifci&& アルミ箔を2枚屯ねて作った段差形状表面を測定 物体とした。測定に用いたccDは648×494画素で、 そのうち20×10画素を測定に用いた。粗面を測定し たときのZbの時間安定度を図3に示す。測定の結果、 振れ幅は約0.03radとなった。 0 1 2 3 4 5 6 7 8 凶1実験装匙の偶成 測定回数(回) 図3 Zbの時間安定度 -261- 平成17年度電子情報通信学会信越支部大会 次に物体を図1のZの方向に変化させて測定したL とZbの関係を図J、 5に示す。これらの直線の式を 求めるとzb-0.018Lとなる。 Iit線の式のyはZb、 ㌔ は光路差ALを示している。ここから波長走ft幅2b を求めると2.57m11となった. ^、 B異なる2筒所で 測定を行ったが、 O.OSradの誤差があった。この直線 の傾きを用いて距離測定を行う。 6 石 _J_ 2 5 5 4 「「」 L- 嵩 追 t^^^^^^Bt^^^^^^^E^^^^^^Kc 測定位醗y(jim) 図7 直線a上の段差形状2回臼 ・ A I・蝣1 蠎 0 つ 4 測定位置y((im) 図8 直線b上の段差形状 1 00 200 300 光路差仙11) 図4 Lとzbの関係A 段差形状を2次元表示したものが図9である。 Ax は垂直方向成分、 Ayは水平方向成分である。ここか ら求めた段差幅は65岬1となり、実際ノギスで測定 した段差は約70│imであった。 so 光路差仙m) 図5 Lとzbの関係B 以上の結果を踏まえて、粗tYiiの表面形状を測定し た。 aの位置で水平方向に段差の測定を2回行った 結果を図6、 7に示すo 誤差はO.OSradとなった。測 定誤差は約軸mとなったO次にbの位置を水平方向 に測定し、段差を測定した。それが図8である。 a と比べると誤差は0.8rad となった。測定誤差は約 8pmとなったO 250 こ 書 聖 200 図9 2次元段差形状の測定結果 LI.まとめ フォトリフラクティプ結晶を用いた干渉計によっ て粗面物体の段差測定を行うことができた。CCDを 使用して抱面物体の段差形状を測定し、形状を表示 することができた。 今後は、温度変化による変動を検討し時間安定度 を向上させ、測定精度を上げる。 図6 ft線a上の段差形状I回目 -2(2-
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