MCT225 計測用CTシステム( PDF: 1.94MB

主な仕様
測定精度 (μm)1 (VDI/VDE 2630)
9+L/50μm
外径:250mm、
高さ:450mm
サンプル質量(最大)
MCT225_EN_0512 – Copyright Nikon Metrology NV 2012. All rights reserved. The materials presented here aresummary in nature, subject to change and intended for general information only.
サンプルサイズ
(最大)
5kg
移動範囲
X:480mm、
Y:450mm、
Z:730mm、
R:360deg
ディテクタ
16 bit 4M pixels
(2000 x 2000)
倍率
1.6x~150x
欠陥認識サイズ
(最小)
2D 2μm
X線源
開放管反射型225kV/ 225W
スポットサイズ
3μmマイクロフォーカス
キャビネット温度
19~21℃
周辺温度
17~25℃
X線漏洩線量 (DIN 54113-2, IRR99)
<1μSv/hr
キャビネットサイズ
W:2214mm x D:1275mm x H:2205mm
装置重量
4,200kg
1:最大外径250mm、高さ250mm、単一素材サンプル測定時。
MCT225
絶対精度での内部構造計測
ディーゼル噴射ノズル
安全に関するご注意
■ご使用の前に
「使用説明書」
をよくお読みの上、
正しくお使いください。
MCT225 計測用CTシステム
あらゆる種類のサンプル計測に
Microsoft、
Windowsは、
米国MicrosoftCorporationの米国及びその他の国における登録商標です。
本カタログに記載されている会社名および商品名は、
各社の商標または登録商標です。
本カタログは2014年11月現在のものです。
仕様と製品は、
製造者/販売者側がなんら債務を被ることなく予告なしに変更されます。 ©2014 NIKON CORPORATION
注意:本カタログに記載した製品及び製品の技術
(ソフトウェアを含む)
は、
「外国為替及び外国貿易法」等に定める規制貨物等
(技術を含む)
に該当します。輸出する場合には政府許可取得等適正な手続きをお取り下さい。
108-6290 東京都港区港南2-15-3(品川インターシティ C棟)
www.nikon.co.jp/
www.nikon-instruments.jp/
本 社
108-6290 東京都港区港南2-15-3(品川インターシティ C棟)
電話(03)6433-3986
札 幌 営 業 所 060-0051 札幌市中央区南1条東2-8-2(SRビル)
電話(011)281-2535
名古屋営業所465-0093名古屋市名東区一社3-86(クレストビル2F)
電話(052)709-6851
関 西 支 店 532-0003 大阪市淀川区宮原3-3-31(上村ニッセイビル)
京都営業所、金沢営業所、岡山営業所
電話(06)6394-8802
九 州 支 店 813-0034 福岡市東区多の津1-4-1
長崎営業所、大分営業所、熊本営業所、鹿児島営業所、宮崎出張所
電話(092)611-1111
2CJ-IHBH-4 (1411-02)T
NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION
MCT225
絶対精度での内部構造計測を実現。
MCT225は、最新の産業標準に準拠した、さまざまなサイ
ズや材質のサンプルに対応可能な計測用CTシステムです。
参照測定が不要で、内部・外部寸法を非破壊で効率よく計測
できます。50年のCMM技術と25年のX線技術を結集し
た、高品質で信頼性が高い計測用CTシステムとして、他の追
随を許しません。
温調キャビネット
20℃±1℃
測定精度9+L/50μm
校正済み、
VDI/VDE 2630準拠
高解像
4メガピクセルディテクタ、
最大倍率150×
デュアルモニタ
フルスクリーン画像用と
制御ソフトウェア用
プラスチックファンのCTスキャン画像
完全なソリューション
柔軟かつ効率よく
大きな測定空間
サンプル高さ450mm
まで対応
幅広いサンプルサイズや材質に対応
MCT225は、
リードタイムや検査時間の削減をめざすお客様への
ベストソリューションです。高倍率で高い分解能のシステムは、パワ
フルなX線源と大型サンプル対応マニピュレータとの組み合わせ
で、広範なアプリケーションに対応可能です。複雑な部品や組立品
の内部および外部のあらゆる幾何学寸法を、一連の非破壊プロセス
で測定・解析します。
防護キャビネット
特別な予防策は不要、
放射線被曝を抑制
Nikon Metrology製X線源
開放管反射型225kVマイクロ
フォーカスX線源
型作成の効率化
CAD比較の断面図
プラスチック射出成型や金属鋳造メーカーでは、型作成時の補正
サイクルを50%削減できます。あらゆる縮み、変形、寸法エラーが
正確に検出され、見やすい測定レポートにまとめられます。鋳造パラ
メータの最適化作業は数週間から数日に短縮でき、新製品や新デザ
インの発売を加速することができます。
低コスト
メンテナンスが容易な開放型X線管
高精度マニピュレータ
レーザー補正されたリニアガイド
および回転ガイド
すべてをその手に
サンプルの置き方から最後の検査レポート作成まで、すべての
段階で独自のCTウィザードがオペレータをガイドします。精度と
画質の設定は、生産性に影響しないように自動的に最適化され
ます。最適化されたグラフィックカードを用いることで、三次元画
像の再構築時間が短縮され、
CT検査プロセス全体が時間単位か
ら分単位に短縮されました。
レポートおよび解析項目
•カラーマップ表示によるCAD比較
•表面データとボクセルデータを使用した表面計測
•幾何学形状計測
•幾何寸法ならびに公差(GD&T)
•サンプルの3D可視化
同一のデータセットを測定用途および欠陥解析(NDT)
に利用で
きます。
素材貫通の目安
プラスチック
170mm
アルミニウム
75mm
鉄
15mm
以下の素材にも適しています。
スチール、セラミック、
カーボンファイバ、木材
CT計測プロセス
F1カーの油圧マニホールド
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CT画像の再構築
CADモデルとの直接比較
内部幾何形状断面図を作成
GD&T寸法レポート
絶対精度を保証
MCT225は、イギリスの国立計量標準研究所(NPL)
トレーサ
ブルな規準サンプルで校正されており、さらにCT計測のVDI/
VDE 2630ガイドラインに準拠しています。時間がかかる比較
スキャンや参照測定が不要で、
サンプルをキャビネット内の回転テ
ーブルに置くだけで、絶対精度が保証された正確な測定が行えま
す。Nikon Metrologyの優れた技術を結集したMCT225は、長
時間の測定安定性を維持し、9+L/50μmの高精度を達成してい
ます。
•Nikon Metrologyが開発したマイクロフォーカスX線源
•温調キャビネット
•高精度リニアガイド
•軸駆動エラー補正
•水冷式X線源
•高解像光学式エンコーダ
•高解像4メガピクセルディテクタ
•有限要素解析(FEA)
で最適化されたマニピュレータ
アルミニウムケースの非破壊検査
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