粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置ゼータサイザーナノシリーズお問合スペクマル URL 神戸本東京支 ZETASIZER NANO Series 英国本 Performance, Simplicity, Versatility 0 Malve Spect リスのロゴは、M 詳しい Performance, Simplicity, Versatility 希薄系から濃厚系、有機溶媒まで幅広いサンプルの粒子径、ゼータ電位、分子量測定が1台で可能散乱光の得られにくいシングルナノ粒子を高感度に検出、また粒子のわずかな動きを正確に検出します。コロイドセラミックスカーボン電池材料金属触媒シリカ CMP スラリーインク無機ゾル板状サンプル高分子染料パルプ繊維フィルターウルトラファインバブルその他無機材料食品ベシクルミセルエマルションコーティング膜リポソームデンドリマー DDS 材料医薬品化粧品タンパク質細胞生体膜 DNA 糖アミノ酸その他生体高分子 No.1のグローバルシェアと圧倒的な論文引用数グローバルで7,000台以上の実績があり、国内外で多くのお客様にご使用いただいています。＊引用文献数は34,000件を超えています。＊ラボでもオフィスでも使えるフリーのソフトウェア制限なしでソフトウェアをインストールできるので、ラボ以外の場所からでも測定データを確認できます。マルバーンの豊富な測定知識がソフトウェアにデータベース化されているので、測定結果に対してのアドバイス機能も搭載しています。 2 www.malvern.jp ＊2013年6月現在粒子径測定一次粒子・凝集体の評価独自のNIBS ® 技術により、希釈や溶媒の置換不要で粒子径を測定電子顕微鏡で見えないコーティングの厚みや修飾の広がり方を評価ブラウン運動はコーティング部分も伴うため、修飾部分を含んだ粒子径の評価が可能熱安定性の判断・製品保存の加速試験温度トレンド試験により変性温度を算出 POINT ナノ粒子のサイズ測定に最適な動的光散乱法(DLS法) ブラウン運動の速度（拡散係数）から、ストークスアインシュタイン方程式を用いて粒子径を計算します。粒子からの散乱光がブラウン運動によりゆらぎを生じることから、散乱光量の時間的な変化を求めることにより拡散係数を算出します。散乱光の経時的変化は自己相関関数に変化され、キュムラント法やNNLS法等の計算手法で粒子径や粒度分布に展開します。散乱光を取得（粒子モデル図）粒子（60nmポリスチレンラテックス）自己相関関数に変換ストークスアインシュタイン方程式から計算 POINT 高濃度・低濃度サンプルに対応するための高感度NIBS ® 技術（Non-Invasive Back Scatter） ●サンプル濃度にあわせて焦点位置と光学条件を自動で設定。多重散乱の心配がある高濃度サンプルにも対応。低濃度サンプルも高感度で測定可能 ●非接触のためコンタミネーションを排除 ●ppmオーダーの希薄系から数10％の濃　厚系サンプルまで対応可能低濃度サンプル低濃度サンプル（散乱強度が高い）（散乱強度が高い）セル高濃度サンプル高濃度サンプル（散乱強度が低い）（散乱強度が低い）セルセルセルレンズレンズレンズレンズレーザーレーザーレーザーレーザーディティクターディティクターディティクターディティクターサンプルセルの中心の散乱光を取得。サンプルセルの中心の散乱光を取得。セル壁面のノイズを除去。セル壁面のノイズを除去。セル壁面近くの散乱光を取得。セル壁面近くの散乱光を取得。多重多重散乱の影響を軽減。散乱の影響を軽減。 3 Performance, Simplicity, Versatility ゼータ電位測定分散安定性の評価ゼータ電位から分散状態を予測電気泳動に影響する電気浸透流を考慮した測定 M3-PALS ® 技術により、高精度なデータを短時間で算出生体高分子などの表面電位を予測解析ソフトウェアを用いて電気泳動移動度から計算 POINT 電気泳動光散乱法（Electrophoretic Light Scattering）液中に分散している粒子の電気泳動移動度* は、その粒子のゼータ電位に依存します。ゼータサイザーナノシリーズでは、粒子にレーザー光を照射し、その散乱光周波数変化から電気泳動移動度を求め、ヘンリーの式を用いてゼータ電位を算出します。ゼータ電位は、粒子の静電的な反発力の指標として、分散の安定性評価や粒子の表面状態を簡便に推測する方法として広く用いられています。 *電気泳動の速度電気的二重層 Stern層拡散層すべり面粒子表面電位ゼータ電位 mV 粒子表面からの距離 POINT 高精度測定を可能にしたマルバーンの独自技術キャピラリ表面荷電 M3-PALS® キャピラリ壁近辺＝負極方向の流れ ●M3技術 ● キャピラリ中央正極方向の流れ −電極静止面（電解液速度＝0）＝電場の切り替え速度を落とし、ゼータ電位測定の分解能を向上させて分布を表示＋電極 ● 電場をすばやく切り替えることで、電気浸透流を排除した正確なゼータ電位測定 ●PALS技術 ● わずかな電気泳動移動度でも正確に検出有機溶媒サンプル、高塩濃度溶媒中のサンプルも対応高塩濃度サンプル向けシーケンス ● 熱の発生を最小限にし、サンプルへのダメージを軽減 ● 生体高分子等デリケートなサンプルにも対応 4 www.malvern.jp 電気浸透流の影響を除去電気泳動による粒子の移動 Phase (rad) ● 散乱光の周波数シフトを位相差として取得 SFR （電場をゆっくり切り替え） FFR （電場を細かく切り替え） Time (s) 電気泳動移動度をヘンリーの式からゼータ電位に Total Counts ● Zeta Potential (mV) 分子量測定分子量マーカーを使わない絶対分子量測定溶媒の置換を必要としないのでネイティブに近い状態での評価が可能第二ビリアル係数（A2）を算出デバイプロットの傾きを第二ビリアル係数とし、溶媒と分子の親和性、結晶化のし易さを予測粒子径測定からも分子量を算出可能サンプリングのスクリーニングに POINT 静的光散乱法(SLS法) 分子が溶媒中に分散しているとき、散乱光量はその分子の分子量と濃度に依存します。そこで種々の濃度での散乱光量を計測し、デバイプロットを作成して分子量と第二ビリアル係数を求めます。 8E-5 KC/R (mo1/g) 散乱光量分子量 0%NaCl 9E-5 サンプル濃度 2%NaCl 4%NaCl A2 ＞ 0.8×10−4 [ Too soluble] 5%NaCl Ⅰ 7E-5 Ⅱ 6E-5 5E-5 A2 ＜ −0.8×10−4 [ Too insoluble] 4E-5 0 0.002 Ⅲ 0.004 0.006 0.008 [Lysozyme](g/mL) 0.01 各溶媒中のリゾチームのデバイプロット Ⅰ：溶媒の親和性が高い状態 → 安定して分散し続ける Ⅱ：溶媒の親和性があまり高くない状態 → 結晶化が起こりやすい Ⅲ：溶媒の親和性が低い状態 → 結晶化せず凝集を起こすタンパク質解析機能（カリキュレータ）粒子径・ゼータ電位・分子量の測定結果の組み合わせ計算が可能 ●粒子径と分子量から　→ 分子の形状予測 ●粒子径から　→ 粒子濃度、粒子個数を予測 ●ゼータ電位と分子量から　→ 粒子間距離を予測 5 Performance, Simplicity, Versatility 様々なサンプルに対応、幅広いセルラインナップ高濃度サンプルや有機溶媒サンプルといったサンプル状態と測定項目に合わせて様々なセルをご用意しました。キャピラリーセル品番：DTS1070 測定対象：ゼータ電位粒子径 12mm 角ガラスセル品番：PCS1115 測定対象：粒子径分子量 12mm角ポリスチレンセル品番：DTS0012 測定対象：粒子径分子量有機溶媒対応ユニバーサルディップセル品番：ZEN1002 測定対象：ゼータ電位小容量石英バッチセル（12µL）品番：ZEN2112 測定対象：粒子径分子量小容量・高濃度ゼータ電位セル品番：ZEN1010 測定対象：ゼータ電位粒子径小容量プラスチックセル（40µL）品番：ZEN0040 測定対象：粒子径分子量 pHや添加材料のトレンド測定を自動化自動滴定装置MPT-2［オプション］滴定液の数最大3種類（同時接続）最小サンプル量 3mL（粒子径フローセル時） 5.5mL（pHプローブ、キャピラリーセルおよび攪拌機を使用時） pHプローブ液体充填ガラス複合電極 pH範囲 1～13 電源 100～240V、50～60Hz、45VA 180ｍｍ× 400mm×260mm（幅×奥行×高さ）（注）高さ370mm（pHプローブ付）寸法 6kg Zeta Potential (mV) 重量 Isoelectric Titration Graph 60 pH 4.37 40 pHによりゼータ電位が変化する様子や等電点などがわかります。 20 0 −20 ゼータ電位 −40 等電点 2 3 4 pH 5 6 7 MPT-2によるコーヒーフレッシュのゼータ電位測定結果固体・膜表面のゼータ電位測定平板ゼータ電位測定ユニット［オプション］ ●フィルタや医療材料の表面ゼータ電位測定 ●サンプルコーティングの評価 Apparent Zeta Potential (mV) ●フィルムの表面加工条件の検討サンプルサイズ 4ｍｍ×7ｍｍ×1.5ｍｍ（幅×長さ×厚さ）対応pH 3～11 対応塩濃度～50mS トレーサ粒子既定なし Apparent Zeta Potential vs Displacement 20 サンプル表面から離れることで 10 変化していくゼータ電位を測定 0 し、最後にトレーサ粒子のゼータ −10 電位を差し引いてサンプル表面 4mm のゼータ電位を算出します。 −20 サンプルフォルダ −30 −40 0 100 200 300 Surface Displacement（μm） 400 平板ゼータ電位測定ユニットによるPTFEプレートの測定結果 6 7mm www.malvern.jp 500 既存のクロマトグラフィー装置に接続し連続測定フローモード測定機能［オプション］クロマトグラフィーで分離したサンプルを連続的に測定 ●お手持ちのクロマトグラフィーに接続可能 ●UV・RI信号と同期させ、結果をよりわかりやすく動的光散乱法による低粘度材料の粘弾性測定マイクロレオロジー測定機能［オプション］プローブ粒子のブラウン運動より粘弾性パラ＊メータ、η ,Ｇ’, Ｇ’’を算出します。 ●壊れやすい構造体の評価 ●微量、12µlからサンプル評価 ●低粘度サンプルのレオロジー評価粘性体（溶媒）通常のブラウン運動粘弾性体（プロテイン・ポリマー）粘弾性により変化したブラウン運動 40年以上の歴史を支える確かな信頼性あるサービスとサポートスペクトリス株式会社マルバーン事業部は、 1 9 6 7 年に創業した英国本社 M a l v e r n Instrumentsの日本事業部です。粒度分布、粒子形状、ゼータ電位、分子量、流動性、粘弾性などの特性評価を行う科学分析装置の老舗メーカーです。電話1本で対応可能なヘルプデスクの設置、定期的なユーザー研修の開催、ホームページからダウンロード可能な技術資料や測定事例、ウェブ上で行うウェブセミナーなど、装置ご購入前からご購入いただいた後まで、あらゆる面でお客様をサポートいたします。 0120-57-17-14 http: //w w w. ma lve r n .j p / 年間保守契約ダウンロード可能な技術資料や測定事例集性能保証のための標準粒子の提供ユーザー研修セミナーヘルプデスクデモンストレーションサンプル測定 7 仕様ゼータサイザーナノシリーズゼータサイザーナノZSP ゼータサイザーナノZS ゼータサイザーナノZS90 測定項目粒子径，ゼータ電位，分子量，第二ビリアル係数粒子径，ゼータ電位，分子量，第二ビリアル係数粒子径，ゼータ電位，分子量，第二ビリアル係数レーザー出力 10mW，633nm（HeNe） 4mW，633nm（HeNe） 4mW、633nm（HeNe）粒子径ゼータ電位分子量 ZSP ○ ○ ○ ZS ○ ○ S ○ ディテクタ APD APD APD コリレータ 25ns - 8000s，最大4000チャネル 25ns - 8000s，最大4000チャネル 25ns-8000s、最大4000チャネル測定原理動的光散乱法動的光散乱法動的光散乱法 ZS90 ○ 測定範囲 0.3nm - 10µm * 0.3nm - 10µm * 0.3nm - 5µm * S90 ○ 最小サンプル量 12µL（小容量セル使用時） 12µL（小容量セル使用時） 20µL（小容量セル使用時）最大感度（タンパク質として） 0.1mg/mL 15kDa protein 0.1mg/mL 15kDa protein 10mg/mL 15kDa protein 最小濃度 0.1ppm 0.1ppm 最大濃度 40% w/v * 40% w/v * ディテクタ角度 13° +173° 13° +173° 13° ＋90° 測定原理電気泳動光散乱法電気泳動光散乱法電気泳動光散乱法測定感度 1mg/mL　15kDa protein 10mg/mL　66kDa protein 10mg/mL 66kDa protein 測定範囲（電気泳動移動度として） > +/− 20µ.cm/V.s > +/− 20µ.cm/V.s >+/-20µ.cm/V.s 最大濃度 40% w/v* 40% w/v* 40% w/v* 最小サンプル量 20µL（拡散隔壁法利用時） 20µL（拡散隔壁法利用時） 20µL（拡散隔壁法利用時） Z 粒子径測定ーーゼータ電位測定分子量測定測定原理静的光散乱法静的光散乱法静的光散乱法測定範囲（光散乱） 980Da - 2×107Da * 980Da - 2×107Da * 9,800Da-2×107Da* ソフトウェア SOP （標準操作手順）対応オプション ○ ○ ○ 21CFR Part11 21CFR Part11 21CFR Part11 マイクロレオロジー測定機能　マイクロレオロジー測定機能　タンパク質解析機能（カリキュレータ）タンパク質解析機能（カリキュレータ）ーアクセサリ（オプション）自動滴定装置（MPT-2） ○ ○ 高出力レーザ対応 (50mW, 532nm) ○ ○ ○ 高温オプション対応（120℃） ○ ○ 緒元温度制御 0ºC - 90ºC +/− 0.1ºC ** 結露制御乾燥空気（窒素）パージによる寸法（w×d×h） 320mm×600mm×260mm 重量 19kg 電源 AC100 - 240V，50/60Hz，消費電力100W，1A 運転環境温度：10 - 35℃，湿度：10 - 90% Windows7 Professional 32ビットもしくは64ビット（ノートパソコン利用可）オペレーションシステムズ * サンプルに依存 ** 0.1℃（25℃），0.2℃（0℃），0.5℃（90℃）取扱店お問合せ先スペクトリス株式会社マルバーン事業部事業本部東京営業所 URL http://www.malvern.jp/ 〒650-0047 兵庫県神戸市中央区港島南町5-5-2 神戸国際ビジネスセンター北館511 電話：078-306-3806 FAX：078-306-3807 ●オフィス〒101-0048 東京都千代田区神田司町2-6司町ビル5F 電話：03-5207-3461 FAX：03-3258-1160 ●ラボ〒101-0048 東京都千代田区神田司町2-2-7 パークサイド１電話：03-5207-3461 FAX：03-3258-1160 英国本社 Malvern Instruments Limited Grovewood Road, Malvern Worcestershire, WR14 1XZ,UK 電話：+44（0）1684 892456 FAX：+44 （0）1684 892789 こないーないーよ 0120-57-17-14 Malvern Instrumentsは、精密計装・制御機器メーカーSpectris plcのグループ会社です。スペクトリスおよびスペクトリスのロゴは、Spectris plcの商標です。Malvern、緑の山のロゴ、 ZetasizerはMalvern Instrumentsが所有する国際商標です。外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがありますのでご了承ください。特許取得技術 Non-Invasive Back Scatter(NIBS) EP0884580,DE19725211,US6016195,JP2911877 Multi-frequency electrophoresis(M3-PALS) UK2361772,EP1154266,US09/843339,JP2001-134510 MRK1839J-01 ○ ○ ○ ○ ○ ○