新パッケージMPPC 温度依存性の測定 ２００６年１１月２０日 光検出器meeting 筑波大学 山崎秀樹 須藤裕司 測定項目 Gain 0.5pe Noiserate Crosstalk これらを温度とBias電圧を変えて、－２０ ～３０度で測定 Gainの測定 C Gain (VBias Vo ) e C : Pixel capacitance V0: Breakdown voltage e: 素電荷 Ｇａｉｎは線形に 変化している C,V0の温度依存性 C,V0の温度依存性 Ｖ０：温度に対して線形に変化する Ｃ： 温度によってバラバラ（fitによるものと思われる） NoiseRate (熱電子によるアバランシェ増幅) 温度によって～数１０ｋＨｚ辺りまでダークノイズが 抑えられる Closs-talk probability 2 pixel firedのeventをclosstalkと ほとんどのsampleでは する Rate( 1.5 p.e.) closstalk率に温度依存 Pcrosstalk Rate( 0.5 p.e.) 性は見られない 今後の測定まとめ まとめ • 新パッケージは旧パッケージと比べて熱電子 ノイズが少なくなった • 温度を下げると熱電子ノイズは少なくなる 今後の測定 •残る３つのsampleの測定にとりかかる •最終的には合計２０個のsampleでの測定をする Backup セットアップ：Gain セットアップ： ノイズレート / クロストーク • ノイズレートの測定は、 63倍のPMTアンプ x 10倍のNIMアンプ （ディスクリミネータのため） Ｇａｉｎ（温度依存性） Gain measurement Gain C (VBias Vo ) e C : Pixel capacity V0: Breakdown voltage ・30℃ ・25℃ ・20℃ ・15℃ ・10℃ ・0℃ ・-20℃ Noise Rate …熱電子によるダークカウント rate ・30℃ ・25℃ ・20℃ ・15℃ ・10℃ ・0℃ ・-20℃ Over voltage [V] = Vbias – V0(T) ・だいたい 100kHz～1MHz程度 ・温度、Over voltageが低い ⇒ ノイズが少ない Cross-talk Probability ・30℃ ・25℃ ・20℃ ・15℃ ・10℃ ・0℃ ・-20℃ Pcrosstalk Rate( 1.5 p.e.) Rate( 0.5 p.e.) ダークノイズによる、２ pixel fired signal をクロストークとした Over voltage [V] = Vbias – V0(T) バイアス電圧が2.5V以下では、 温度依存性がない
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