S-8206Aシリーズ 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) www.sii-ic.com Rev.1.1_00 © Seiko Instruments Inc., 2015 S-8206Aシリーズは、高精度電圧検出回路と遅延回路を内蔵したリチウムイオン / リチウムポリマー二次電池セカンドプ ロテクト用ICです。 特長 ・高精度電圧検出回路 過充電検出電圧 3.50 V ~ 5.00 V (5 mVステップ) 精度±20 mV 過充電解除電圧 3.10 V ~ 4.95 V *1 精度±50 mV ・検出遅延時間は内蔵回路のみで実現 (外付け容量は不要) ・出力論理を選択可能 : アクティブ "H"、アクティブ "L" ・出力形態を選択可能 : CMOS出力、Nchオープンドレイン出力 ・広動作温度範囲 : Ta = −40°C ~ +85°C ・低消費電流 動作時 : 1.5 μA typ., 3.0 μA max. (Ta = +25°C) ・鉛フリー (Sn 100%)、ハロゲンフリー *1. 過充電解除電圧 = 過充電検出電圧 − 過充電ヒステリシス電圧 (過充電ヒステリシス電圧は、0.05 V ~ 0.4 Vの範囲内にて50 mVステップで選択可能) 用途 ・リチウムイオン二次電池パック ・リチウムポリマー二次電池パック パッケージ ・SNT-6A ・HSNT-6 (1212) セイコーインスツル株式会社 1 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 ブロック図 1. CMOS出力、アクティブ "H" VDD DO 過充電検出 コンパレータ 制御ロジック 遅延回路 VSS 発振回路 CO VM 図1 2 セイコーインスツル株式会社 Rev.1.1_00 2. 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ CMOS出力、アクティブ "L" VDD DO 過充電検出 コンパレータ 制御ロジック 遅延回路 VSS 発振回路 CO VM 図2 セイコーインスツル株式会社 3 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ 3. Rev.1.1_00 Nchオープンドレイン出力 VDD DO 過充電検出 コンパレータ 制御ロジック 遅延回路 VSS 発振回路 CO VM 図3 4 セイコーインスツル株式会社 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 品目コードの構成 1. 製品名 S-8206A xx - xxxx U 環境コード U : 鉛フリー (Sn 100%)、ハロゲンフリー パッケージ略号とICの梱包仕様*1 I6T1 : SNT-6A、テープ品 A6T2 : HSNT-6 (1212)、テープ品 追番*2 AA ~ ZZまで順次設定 *1. *2. 2. テープ図面を参照してください。 "3. 製品名リスト" を参照してください。 パッケージ 表1 パッケージ名 パッケージ図面コード 外形寸法図面 テープ図面 リール図面 ランド図面 SNT-6A PG006-A-P-SD PG006-A-C-SD PG006-A-R-SD PG006-A-L-SD HSNT-6 (1212) PM006-A-P-SD PM006-A-C-SD PM006-A-R-SD PM006-A-L-SD セイコーインスツル株式会社 5 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ 3. Rev.1.1_00 製品名リスト 3. 1 SNT-6A 表2 製品名 過充電検出電圧 過充電解除電圧 過充電検出遅延時間*1 出力論理*2 出力形態*3 [VCU] [VCL] [tCU] S-8206AAA-I6T1U 4.500 V 4.150 V 2s アクティブ "H" CMOS出力 S-8206AAB-I6T1U 4.550 V 4.200 V 2s アクティブ "H" CMOS出力 S-8206AAC-I6T1U 4.150 V 4.000 V 2s アクティブ "L" CMOS出力 S-8206AAD-I6T1U 4.250 V 4.100 V 2s アクティブ "L" CMOS出力 S-8206AAE-I6T1U 4.150 V 4.000 V 2s アクティブ "H" Nchオープンドレイン出力 S-8206AAF-I6T1U 4.250 V 4.100 V 2s アクティブ "H" Nchオープンドレイン出力 *1. *2. 過充電検出遅延時間を1 s, 2 s, 4 sから選択可能 出力論理をアクティブ "H"、アクティブ "L" から選択可能 *3. 出力形態をCMOS出力、Nchオープンドレイン出力から選択可能 備考 上記検出電圧値以外の製品をご希望の場合は、弊社営業部までお問い合わせください。 3. 2 HSNT-6 (1212) 表3 製品名 過充電検出電圧 過充電解除電圧 過充電検出遅延時間*1 出力論理*2 出力形態*3 [VCU] [VCL] [tCU] S-8206AAA-A6T2U 4.500 V 4.150 V 2s アクティブ "H" CMOS出力 S-8206AAB-A6T2U 4.550 V 4.200 V 2s アクティブ "H" CMOS出力 *1. *2. 過充電検出遅延時間を1 s, 2 s, 4 sから選択可能 出力論理をアクティブ "H"、アクティブ "L" から選択可能 *3. 出力形態をCMOS出力、Nchオープンドレイン出力から選択可能 備考 6 上記検出電圧値以外の製品をご希望の場合は、弊社営業部までお問い合わせください。 セイコーインスツル株式会社 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 ピン配置図 1. SNT-6A 表4 端子番号 Top view 1 2 3 6 5 4 図4 端子記号 *1 端子内容 1 NC 2 CO 3 DO テスト信号入力端子 4 VSS 負電源入力端子 5 VDD 正電源入力端子 6 VM CO端子側負極電源端子 無接続 充電制御用FETゲート接続端子 (CMOS出力) *1. NCは電気的にオープンを示します。 そのため、VDD端子またはVSS端子に接続しても問題ありません。 2. HSNT-6 (1212) 表5 Top view 1 2 3 6 5 4 Bottom view 6 5 4 1 2 3 *1 *1. 網掛け部分の裏面放熱板は、基 端子番号 端子記号 *1 端子内容 1 NC 2 CO 3 DO テスト信号入力端子 4 VSS 負電源入力端子 5 VDD 正電源入力端子 6 VM CO端子側負極電源端子 無接続 充電制御用FETゲート接続端子 (CMOS出力) *1. NCは電気的にオープンを示します。 そのため、VDD端子またはVSS端子に接続しても問題ありません。 板に接続し電位をオープンまた はVDDとしてください。ただし、 電極としての機能には使用しな いでください。 図5 セイコーインスツル株式会社 7 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 絶対最大定格 表6 (特記なき場合 : Ta = +25°C) 項目 記号 適用端子 絶対最大定格 単位 VSS − 0.3 ~ VSS + 6 V VDD端子 − VSS端子間入力電圧 VDS VDD VM入力端子電圧 VVM VM VDD − 28 ~ VDD + 0.3 V DO入力端子電圧 VDO DO VSS − 0.3 ~ VDD + 0.3 V VCO CO VVM − 0.3 ~ VDD + 0.3 V CO出力端子電圧 許容損失 CMOS出力 Nchオープンドレイン出力 SNT-6A PD HSNT-6 (1212) VVM − 0.3 ~ VVM + 28 V − 400*1 mW − 480*1 mW 動作周囲温度 Topr − −40 ~ +85 °C 保存温度 Tstg − −55 ~ +125 °C *1. 基板実装時 [実装基板] (1) 基板サイズ : 114.3 mm × 76.2 mm × t1.6 mm (2) 名称 注意 : JEDEC STANDARD51-7 絶対最大定格とは、どのような条件下でも越えてはならない定格値です。万一この定格値を越えると、製品の劣 化などの物理的な損傷を与える可能性があります。 700 許容損失 (PD) [mW] 600 HSNT-6 (1212) 500 SNT-6A 400 300 200 100 0 0 50 100 150 周囲温度 (Ta) [°C] 図6 8 パッケージ許容損失 (基板実装時) セイコーインスツル株式会社 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 電気的特性 1. Ta = +25°C 表7 項目 記号 条件 (特記なき場合 : Ta = +25°C) 測定 Max. 単位 回路 Min. Typ. VCU − 0.020 VCU − 0.025 VCU VCU VCU + 0.020 VCU + 0.025 V V 1 1 VCL − 0.050 VCL VCL + 0.050 V 1 VCL − 0.025 VCL VCL + 0.020 V 1 1.5 − 6.0 V − 検出電圧 過充電検出電圧 VCU 過充電解除電圧 VCL 入力電圧 VDD端子 − VSS端子間 動作電圧 入力電流 動作時消費電流 出力抵抗 CO端子抵抗 "H" 1 CO端子抵抗 "L" 1 DO端子抵抗 "H" DO端子抵抗 "L" − Ta = −10°C ~ +60°C VCL ≠ VCU *1 VCL = VCU − VDSOP IOPE VDD = 3.4 V, VVM = 0 V − 1.5 3.0 μA 2 RCOH1 RCOL1 RDOH CMOS出力 − − 5 5 5 10 10 10 20 20 20 kΩ kΩ kΩ 3 3 3 3 RDOL − 5 10 20 CO端子抵抗 "H" 2 CO端子抵抗 "L" 2 出力電流 端子リーク電流 "L" 遅延時間 RCOH2 RCOL2 CMOS出力、アクティブ "L" CMOS出力、アクティブ "H" 1 1 4 4 − − kΩ MΩ MΩ ICOLL Ncnオープンドレイン出力 − − 0.1 μA 3 過充電検出遅延時間 tCU tCU × 0.7 tCU tCU × 1.3 − 4 *1. − 3 3 高温および低温での選別はしておりませんので、この温度範囲での規格は設計保証とします。 セイコーインスツル株式会社 9 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 測定回路 注意 1. 特に記述していない場合のCO端子の出力電圧 (V CO ) の "H", "L" の判定は、Nch FETのしきい値電圧 (1.0 V) とします。このとき、CO端子はVVM基準で判定してください。 2. Nchオープンドレイン出力はSWをON、CMOS出力はOFFに設定してください。 1. 過充電検出電圧、過充電解除電圧 (測定回路1) 1. 1 アクティブ "H" V1 = 3.4 Vに設定した状態からV1を徐々に上げ、VCO = "L" → "H" となるV1の電圧を過充電検出電圧 (VCU) と します。その後、V1を徐々に下げ、VCO = "H" → "L" となるV1の電圧を過充電解除電圧 (VCL) とします。VCU とVCLとの差を過充電ヒステリシス電圧 (VHC) とします。 1. 2 アクティブ "L" V1 = 3.4 Vに設定した状態からV1を徐々に上げ、VCO = "H" → "L" となるV1の電圧を過充電検出電圧 (VCU) と します。その後、V1を徐々に下げ、VCO = "L" → "H" となるV1の電圧を過充電解除電圧 (VCL) とします。VCU とVCLとの差を過充電ヒステリシス電圧 (VHC) とします。 2. 動作時消費電流 (測定回路2) V1 = 3.4 Vに設定した状態において、VDD端子に流れる電流 (IDD) を動作時消費電流 (IOPE) とします。 3. CO端子抵抗 "H" 1 (CMOS出力) (測定回路3) 3. 1 アクティブ "H" V1 = 5.1 V, V2 = 4.7 Vに設定した状態において、VDD端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "H" 1 (RCOH1) とし ます。 3. 2 アクティブ "L" V1 = 3.4 V, V2 = 3.0 Vに設定した状態において、VDD端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "H" 1 (RCOH1) とし ます。 4. CO端子抵抗 "L" 1 (測定回路3) 4. 1 アクティブ "H" V1 = 3.4 V, V2 = 0.4 Vに設定した状態において、VM端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "L" 1 (RCOL1) とし ます。 4. 2 アクティブ "L" V1 = 5.1 V, V2 = 0.4 Vに設定した状態において、VM端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "L" 1 (RCOL1) とし ます。 5. DO端子抵抗 "H" (測定回路3) V1 = 3.4 V, V3 = 3.0 Vに設定した状態において、VDD端子 − DO端子間抵抗をDO端子抵抗 "H" (RDOH) とします。 10 セイコーインスツル株式会社 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 6. DO端子抵抗 "L" (測定回路3) V1 = 1.8 V, V3 = 0.4 Vに設定した状態において、VSS端子 − DO端子間抵抗をDO端子抵抗 "L" (RDOL) とします。 7. CO端子抵抗 "H" 2 (CMOS出力、アクティブ "L") (測定回路3) V1 = 5.1 V, V2 = 0 Vに設定した状態において、VDD端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "H" 2 (RCOH2) とします。 8. CO端子抵抗 "L" 2 (CMOS出力、アクティブ "H") (測定回路3) V1 = 5.1 V, V2 = 5.1 Vに設定した状態において、VM端子 − CO端子間抵抗をCO端子抵抗 "L" 2 (RCOL2) とします。 9. CO端子リーク電流 "L" (Nchオープンドレイン出力) (測定回路3) 9. 1 アクティブ "H" V1 = 5.1 V, V2 = 28 Vに設定した状態において、CO端子に流れる電流 (ICO) をCO端子リーク電流 "L" (ICOLL) とします。 9. 2 アクティブ "L" V1 = 3.4 V, V2 = 28 Vに設定した状態において、CO端子に流れる電流 (ICO) をCO端子リーク電流 "L" (ICOLL) とします。 10. 過充電検出遅延時間 (測定回路4) 10. 1 アクティブ "H" V1 = 3.4 Vに設定した状態からV1を上昇させ、V1がVCUを上回ってからVCO = "H" となるまでの時間を過 充電検出遅延時間 (tCU) とします。 10. 2 アクティブ "L" V1 = 3.4 Vに設定した状態からV1を上昇させ、V1がVCUを上回ってからVCO = "L" となるまでの時間を過充 電検出遅延時間 (tCU) とします。 セイコーインスツル株式会社 11 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ R1 = 330 Ω IDD A VDD C1 = 0.1 μF VDD V1 S-8206Aシリーズ V1 Rev.1.1_00 S-8206Aシリーズ VSS VSS VM DO DO CO V VDO 図7 V VCO SW 測定回路1 図8 VDD 測定回路2 VDD V1 S-8206Aシリーズ VSS VM DO S-8206Aシリーズ VSS CO VM A IDO A ICO V3 V2 COM DO オシロスコープ CO SW オシロスコープ COM 図9 12 CO COM COM V1 VM 測定回路3 図10 セイコーインスツル株式会社 測定回路4 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 動作説明 備考 " バッテリー保護ICの接続例" を参照してください。 1. 過充電検出状態 S-8206Aシリーズは、VDD端子 − VSS端子間に接続された電池電圧を監視し、過充電を検出します。通常状態の電池 電圧が充電中に過充電検出電圧 (VCU) を越え、その状態を過充電検出遅延時間 (tCU) 以上保持した場合、CO端子か ら過充電検出信号を出力します。この状態を過充電状態と言います。CO端子にFETを接続することにより、充電制 御およびセカンドプロテクトが可能です。 2. テストモード S-8206Aシリーズは、DO端子を外部から強制的にVSS電位にすることでtCUを短縮できます。DO端子を外部から強制 的にVSS電位にした場合、tCUが約1/64になります。 セイコーインスツル株式会社 13 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 タイミングチャート 1. 過充電検出 VCU VCL (VCU − VHC) 電池電圧 VDD CO端子電圧 CMOS出力 アクティブ "H" VVM VDD CO端子電圧 CMOS出力 アクティブ "L" VVM VDD CO端子電圧 Nchオープンドレイン出力 アクティブ "H" High-Z VVM VDD CO端子電圧 Nchオープンドレイン出力 アクティブ "L" High-Z High-Z VVM 過充電検出遅延時間 (tCU) 状態 *1 (2) (1) *1. (1) : 通常状態 (2) : 過充電状態 図11 14 セイコーインスツル株式会社 (1) 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 バッテリー保護ICの接続例 CMOS出力、アクティブ "H" の製品を使用した場合の接続例を図12に示します。 プロテクタヒューズ EB+ R1 VDD C1 電池 DO S-8206Aシリーズ FET VSS VM CO EB− 図12 表8 記号 FET 部品 Nch MOS FET R1 抵抗 C1 容量 注意 1. 2. 目的 充電制御 ESD対策、 電源変動対策 電源変動対策 外付け部品定数 Min. Typ. Max. 備考 − − − − 150 Ω 330 Ω 1 kΩ − 0.068 μF 0.1 μF 1.0 μF − 上記定数は予告なく変更することがあります。 上記接続例以外の回路においては、動作確認されていません。また、上記接続例および定数は、動作を保証する ものではありません。実際のアプリケーションで十分な評価の上、定数を設定してください。 セイコーインスツル株式会社 15 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ 【SC PROTECTOR に関するお問い合わせ先】 デクセリアルズ株式会社 アドバンストプロセスデバイス事業部 〒141-0032 東京都品川区大崎 1-11-2 ゲートシティ大崎イーストタワー8 階 TEL 03-5435-3946 お問い合わせ http://www.dexerials.jp/ Rev.1.1_00 デバイス営業部 注意事項 ・IC内での損失がパッケージの許容損失を越えないように、入出力電圧、負荷電流の使用条件に注意してください。 ・本ICは静電気に対する保護回路が内蔵されていますが、保護回路の性能を越える過大静電気がICに印加されないよう にしてください。 ・弊社ICを使用して製品を作る場合には、その製品での当ICの使い方や製品の仕様また、出荷先の国などによって当IC を含めた製品が特許に抵触した場合、その責任は負いかねます。 16 セイコーインスツル株式会社 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 諸特性データ (Typicalデータ) 1. 消費電流 1. 1 IOPE − Ta 4.0 IOPE [A] 3.0 2.0 1.0 0.0 2. 40 25 0 25 Ta [C] 50 75 85 検出電圧 2. 1 VCU − Ta 2. 2 4.53 VCL [V] VCU [V] 4.51 4.49 4.47 4.45 0 25 Ta [C] 50 75 85 0 25 Ta [C] 50 75 85 4.21 4.19 4.17 4.15 4.13 4.11 4.09 4.07 40 25 0 25 Ta [C] 50 75 85 遅延時間 3. 1 tCU − Ta 5.0 4.0 tCU [s] 3. 40 25 VCL − Ta 3.0 2.0 1.0 40 25 セイコーインスツル株式会社 17 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ 4. Rev.1.1_00 出力抵抗 4. 1 RCOH1 − VCO 4. 2 30 RCOL1 [k] RCOH1 [k] 30 RCOL1 − VCO 20 10 0 20 10 0 0 1 2 3 4 0 1 2 VCO [V] 3 4 1 2 VDO [V] 3 4 VCO [V] RDOH − VDO 4. 4 RDOL − VDO 30 30 20 20 RDOL [k] RDOH [k] 4. 3 10 0 10 0 0 1 2 3 4 VDO [V] 18 セイコーインスツル株式会社 0 1セル用バッテリー保護IC (セカンドプロテクト用) S-8206Aシリーズ Rev.1.1_00 マーキング仕様 1. SNT-6A Top view 6 5 4 (1) ~ (3) : 製品略号 (製品名と製品略号の対照表を参照) (4) ~ (6) : ロットナンバー (1) (2) (3) (4) (5) (6) 1 2 3 製品名と製品略号の対照表 (1) 製品略号 (2) (3) S-8206AAA-I6T1U J N A S-8206AAB-I6T1U J N B S-8206AAC-I6T1U J N C S-8206AAD-I6T1U J N D S-8206AAE-I6T1U J N E S-8206AAF-I6T1U J N F 製品名 2. HSNT-6 (1212) Top view 6 5 4 (1) ~ (3) : 製品略号 (製品名と製品略号の対照表を参照) (4), (5) : ロットナンバー (1) (2) (3) (4) (5) 1 2 3 製品名と製品略号の対照表 (1) 製品略号 (2) (3) S-8206AAA-A6T2U J N A S-8206AAB-A6T2U J N B 製品名 セイコーインスツル株式会社 19 1.57±0.03 6 1 5 4 2 3 +0.05 0.08 -0.02 0.5 0.48±0.02 0.2±0.05 No. PG006-A-P-SD-2.0 TITLE SNT-6A-A-PKG Dimensions No. PG006-A-P-SD-2.0 SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. +0.1 ø1.5 -0 4.0±0.1 2.0±0.05 0.25±0.05 +0.1 1.85±0.05 5° ø0.5 -0 4.0±0.1 0.65±0.05 3 2 1 4 5 6 Feed direction No. PG006-A-C-SD-1.0 TITLE SNT-6A-A-Carrier Tape PG006-A-C-SD-1.0 No. SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. 12.5max. 9.0±0.3 Enlarged drawing in the central part ø13±0.2 (60°) (60°) No. PG006-A-R-SD-1.0 TITLE SNT-6A-A-Reel No. PG006-A-R-SD-1.0 SCALE UNIT QTY. mm Seiko Instruments Inc. 5,000 0.52 1.36 2 0.52 0.2 0.3 1. 2. 1 (0.25 mm min. / 0.30 mm typ.) (1.30 mm ~ 1.40 mm) 0.03 mm SNT 1. Pay attention to the land pattern width (0.25 mm min. / 0.30 mm typ.). 2. Do not widen the land pattern to the center of the package ( 1.30 mm ~ 1.40 mm ). Caution 1. Do not do silkscreen printing and solder printing under the mold resin of the package. 2. The thickness of the solder resist on the wire pattern under the package should be 0.03 mm or less from the land pattern surface. 3. Match the mask aperture size and aperture position with the land pattern. 4. Refer to "SNT Package User's Guide" for details. 1. 2. (0.25 mm min. / 0.30 mm typ.) (1.30 mm ~ 1.40 mm) No. PG006-A-L-SD-4.1 TITLE SNT-6A-A-Land Recommendation PG006-A-L-SD-4.1 No. SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. 0.40 1.00±0.05 0.38±0.02 0.40 4 6 3 1 +0.05 0.08 -0.02 1.20±0.04 The heat sink of back side has different electric potential depending on the product. Confirm specifications of each product. Do not use it as the function of electrode. 0.20±0.05 No. PM006-A-P-SD-1.0 TITLE HSNT-6-B-PKG Dimensions PM006-A-P-SD-1.0 No. SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. 2.0±0.05 +0.1 ø1.5 -0 4.0±0.1 0.25±0.05 +0.1 ø0.5 -0 0.50±0.05 4.0±0.1 1.32±0.05 5° 3 1 4 6 Feed direction No. PM006-A-C-SD-1.0 TITLE HSNT-6-B-C a r r i e r Tape No. PM006-A-C-SD-1.0 SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. +1.0 9.0 - 0.0 11.4±1.0 Enlarged drawing in the central part ø13±0.2 (60°) (60°) No. PM006-A-R-SD-1.0 HSNT-6-B-Reel TITLE PM006-A-R-SD-1.0 No. SCALE UNIT QTY. 5,000 mm Seiko Instruments Inc. 1.04min. Land Pattern 0.24min. 1.02 0.40±0.02 0.40±0.02 (1.22) Caution It is recommended to solder the heat sink to a board in order to ensure the heat radiation. PKG Metal Mask Pattern Aperture ratio Aperture ratio Caution Mask aperture ratio of the lead mounting part is 100%. Mask aperture ratio of the heat sink mounting part is 40%. Mask thickness: t0.10mm to 0.12 mm 100% 40% t0.10mm ~ 0.12 mm No. PM006-A-L-SD-2.0 TITLE HSNT-6-B-Land Recommendation No. PM006-A-L-SD-2.0 SCALE UNIT mm Seiko Instruments Inc. www.sii-ic.com ● 本資料の内容は、製品の改良に伴い、予告なく変更することがあります。 ● 本資料に記載されている図面等の第三者の工業所有権に起因する諸問題については弊社はその責任を負いかねます。 また、応用回路例は製品の代表的な応用を説明するものであり、量産設計を保証するものではありません。 ● 本資料に掲載されている製品が、外国為替及び外国貿易法に定める規制貨物(又は役務)に該当する場合は、同法に 基づく日本国政府の輸出許可が必要です。 ● 本資料の内容を弊社に断ることなしに、記載または、複製など他の目的で使用することは堅くお断りします。 ● 本資料に記載されている製品は、弊社の書面による許可なくしては、健康機器、医療機器、防災機器、ガス関連機器、 車両機器、車載機器、航空機器、宇宙機器、及び原子力関連機器等、人体に影響を及ぼす機器または装置の部品とし て使用することはできません。 ● 本資料に記載されている製品は、耐放射線設計はされておりません。 ● 弊社は品質、信頼性の向上に努めておりますが、半導体製品はある確率で故障や誤動作する場合があります。故障や 誤動作により、人身事故、火災事故、社会的損害などを生じさせないような冗長設計、延焼対策設計、誤動作防止設 計などの安全設計に十分ご留意ください。
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