The moment “I think“ becomes “I know“. This is the moment we work for. // TECHNOLOGY Made By Zeiss Einladung ZEISS Crossbeam - XRM Workshop & Future Technology Forum / 19. - 21. Mai 2015 Sehr geehrte Damen und Herren, wir laden Sie herzlich zu unserem ZEISS Crossbeam - XRM Workshop nach Oberkochen ein, welcher in diesem Jahr mit dem „Future Technology Forum“ kombiniert wird. Der Schwerpunkt des Treffens liegt darin, die neuen Möglichkeiten der Systeme und Workflows direkt an den Geräten zu erleben und zu diskutieren. Vorträge und Diskussionsrunden runden das Programm und vermitteln Ihnen einen aktuellen Wissensstand für Forschung und Entwicklung. Der Technologieworkshop wird Ihnen darüber hinaus eine Übersicht über die neuesten und zukünftigen Entwicklungen von ZEISS Microscopy geben, welche Sie direkt mit der Geschäftsführung und Vertretern aus Produktmanagement, Global Marketing und Entwicklung diskutieren werden. Aus organisatorischen Gründen bitten wir Sie sich im Voraus online unter folgendem Link: www.zeiss.de/schulungundfortbildung zu registrieren. Veranstaltungsort: ZEISS Forum Conference - Event - Museum Carl-Zeiss-Strasse 22 D-73447 Oberkochen Die Teilnahme an den Workshops ist wie immer kostenlos. Aufgrund der Diskussionsrunden an den Systemen muss der Crossbeam-Röntgenmikrokopie-Workshop leider auf 90 Teilnehmer begrenzt werden. Wir freuen uns, Sie in Oberkochen begrüßen zu dürfen und wünschen Ihnen eine sichere Anreise. Mit freundlichen Grüßen Ihr ZEISS Microscopy Team AGENDA 19. Mai 2015 - Future Technology Forum Beginn Thema 17:15 Begrüßung & Vorstellung Strategische Perspektiven ZEISS Microskcopy 18:00 Finger Food und Austausch 18:45 The new expectations of a Scanning Electron Microscopy user 19:30 „Technologie Spaziergang“ MultiSEM, IMT Demo Center & ZEISS Museum der Optik 21:00 Ende Markus Weber ZEISS Microscopy Laurent Maniguet Grenoble Institute of Technology 20. Mai 2015 - Crossbeam & XRM Workshop Beginn Thema 08:30 Begrüßung Christian Jäger ZEISS Microscopy 08:45 ZEISS Crossbeam als universelles Instrument in der Mikroskopielandschaft Ingo Schulmeyer ZEISS Microscopy 09:10 Die faszinierenden Möglichkeiten der Röntgenmikroskopie (XRM) Lars-Oliver Kautschor ZEISS Microscopy 09:35 ATLAS 5: Eine neue Annäherung an die Mikroskopie Marlene Thaler ZEISS Microscopy 10:00 TEM-Lamellenpräparation mit dem Helium-Ionen-Mikroskop Peter Gnauck ZEISS Microscopy 10:25 Kaffeepause 10:40 News in 3D SEM Imaging – More Volume in Less Time Jörg Lindenau ZEISS Microscopy 11:05 Anwendungen der cryo-FIB-SEM Mikroskopie in den Biowissenschaften Andreas Schertel ZEISS Microscopy 11:30 3D Abbildung nativ gefrorener biologischer Proben mit cryo FIBSEM Wiebke Möbius Max-Planck-Institut Göttingen 11:55 Advances in structural analysis of multicellular organisms by cryo electron tomography Andres Kaech University of Zurich 12:20 Mittagspause & Transfer 13:45 Workshops & Hands-On 19:00 Abendveranstaltung im ZEISS Forum 21. Mai 2015 - Crossbeam & XRM Workshop Beginn Thema 08:30 Neuigkeiten in der TEM-Lamellenpräparation Hubert Schulz ZEISS Microscopy 08:55 Methode zur Charakterisierung von dünnen Schichten mittels Leitfähigskeitsmessungen Bernhard Sartory Material Center Leoben 09:20 Crossbeam-XRM-Workflow: eine umfassende und Multiskalen Charakterisierung Mohsen Samadi-Koshkhoo ZEISS Microscopy 09:45 Multiskalige XCT an vertikal gestapelten Chips Jürgen Gluch Fraunhofer Institute IKTS Dresden 10:15 Kaffeepause 10:30 FIB Anwendungen in der Teilchenphysik Matthias Hagner Universität Konstanz 10:55 Use cases for correlative microscopy in the micro and nanoscale in materials Timo Bernthaler Hochschule Aalen 11:20 Crossbeam-Technik zu Untersuchung von Schadensmechanismen an Stählen Dieter Willer Universität Stuttgart 11:45 Zusammenfassung/Diskussion Ingo Schulmeyer / Christian Jäger ZEISS Microscopy 12:00 Mittagspause & Transfer 13:15 Workshops & Hands-On 17:30 Ende Hands-On Sessions und Workshop Themen Hands-On Sessions Ultraschnelle Probenpräparation mittels Crossbeam Laser Crossbeam-Cryo Applikationen an nativen Proben Hochauflösende Tomographie von großen Probenvolumina Zerstörungsfreie Probenanalyse mittels Röntgenmikroskopietechnik TEM-Lamellenpräparation und Ultrafeinstrukturierung mittels HIM Neueste Entwicklungen in der STEM-Technologie Array Tomography - automatisierte Bildgebung an Serienschnitten Korrelative Mikroskopie - gezielte Tomographie mittels Fluoreszenzmarkierung Workshop - Themen Technik-Trends im Crossbeam Bereich Service Veränderungen und Customer Care Schwerpunkte in der Korrelativen Mikroskopie Neue TEM-LiftOut Techniken 3D-Rekonstruktion und Analyse ATLAS 5: Innovative Erweiterung der Applikationsmöglichkeiten