依頼試験機器・開放機器
蛍光X線分析装置 （膜厚測定対応、エネルギー分散型）
本装置は、試料にX線を照射し、そのとき放
出される特性X線を検出することで、めっきの
膜厚を測定する装置です。電解式膜厚計や顕微
鏡による断面観察を用いる方法と異なり、試料
を非破壊的でかつ短時間（100秒程度）で測定
することができます。
本装置は、最小φ0.1mmのコリメータを備え
ており、微小部分のめっき厚さについても測定
が可能なほか、最大4層までの多層めっき膜厚
測定、合金めっき皮膜の組成分析にも対応して
います。
【適用例】
・亜鉛めっきボルト(鉄素材/亜鉛めっき)
・金めっき端子(銅素材/ニッケル/金めっき)
・金具(亜鉛ダイカスト/銅/ニッケル/クロムめっき)
SII株式会社製 SEA5120
・はんだめっきのPb含有（RoHS・ELV対策）
・測定可能試料 ： 測定箇所が最表面にあり、縦80mm×横80mm×高さ30mmの範囲に収まる試料
・測定元素 ： 原子番号11(Na)～92(U)
・分析スポット ： φ0.1mm または1.8mm
・試料台移動範囲： 縦75mm×横75mm
・厚さ測定範囲： 数十nm～20μmまで（対象元素による）
・依頼試験料金 ： 5,600円/1試料・1測定
・機器使用料金 ： 10,800円/半日 （指導料別途要）
・問い合わせ先： 林（2640）、長瀧（2730）

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