ヘッド/ディスク浮上特性評価装置 HDF-2015

●減圧環境下において、ヘッド・ディスクI/Fの総合的な信頼性試験を行うことができます。
(ヘッドアームに取り付けたAEセンサ出力をモニタリング)
TOPテスト: スピンスタンド内の圧力を変化させ、ヘッドがディスクに接触する圧力を計測 TOHテスト: デイスク回転数を変化させ、ヘッドがディスクに接触する回転数を計測
TOCテスト: DFH電流又はWrite電流を変化させ、ヘッドがディスクに接触する電流値を計測
LTRテスト: スピンドルOn/OffとSeek動作を組み合わせた長期信頼性試験
SAFテスト: 減圧環境下での連続シーク試験
User-Definedテスト: ユーザが任意にテストシーケンス(動作・計測・判定)をプログラミング
TOC Cycle テスト: TOCテスト(DFH電流)の長期サイクルテスト(最大100万回)
●汎用スピンスタンドとして以下の制御/計測が可能
(制御)①回転数制御、②減圧制御、③DFH電流制御、④MRバイアス電流制御、
⑤トラック・フォローイング動作、⑥Seek & Load/Unloadセンサ動作(加速/減速条件可変)
(計測)①気圧、②温度、③湿度、④AEセンサ出力、⑤TA、⑥Frictionセンサ出力、⑦MR抵抗変化、
⑧ディスク全面のAEセンサ/TA出力マッピング、⑨Seek/Load/Unload中のAEセンサ出力 等
■ 実機HDDの部品を使用(VCM、スピンドル、ランプ…)
・実機ドライブに近い環境下でテストが可能
・コンパクト、高信頼性 & 安価
■ 高速・高精度な計測&制御
・圧力制御: 76 – 760 Torr (精度: +/- 5 torr)
・ディスク回転数: 1000rpm – 15000rpm (分解能:1 rpm)
・シーク周波数: 0.0001 – 20 Hz
・ヘッド位置決め精度: +/- 0.1mm
・DFH電流制御: 0 – 100mA (最大印加電圧 10V)
■ 拡張性・柔軟性に優れたシステム
・最大8台のスピンスタンドを同時駆動可能。
(それぞれ異なるディスク・サイズでもOK。)
・お客様のご要望に応じて、スピンスタンドをカスタム設計致します。
■ 操作性に優れたソフトウエア
・最大8台の自動テスト、自動データ保存機能
・きめ細かで、柔軟性に富んだテストパラメータの設定機能
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