π-d 系物質(EDT-TTFBr2)2FeBr4 の 低温電子状態 東工大院理工 西條純一,宮崎章,榎敏明 都立大理 渡邉良二,桑谷善之, 伊与田正彦 Introduction π-d 系物質(EDT-TTFBr2)2FeBr4 S S S Br S S S Br アニオンを引き付ける 強いπ-d 相互作用 EDT-TTFBr2 b o c ドナー-アニオン間接触(Br-Br) (3.66 Å, van der Waals: 3.9 Å) ドナー-アニオン間接触(S-Br) (3.69 Å, van der Waals: 3.8 Å) b o a 長いアニオン間距離 4.01 Å 5.09 Å Magnetic susceptibility 1.4 TN H || a H || b H || c χ /emu mol-1 0.10 0.08 0.06 1.2 0.04 H || a H || b H || c 0.8 0.6 0.4 H=1T 0.02 0.00 T=2K 1 M / µB 0.12 0 20 40 60 80 0.2 0 100 HSF 0 T/K 1 2 3 4 H/T 5 6 高い反強磁性転移温度 TN = 11 K 強いπ-d 相互作用 Resistivity ρ (Ωcm) 10 30 TN 0 20 10-1 10-2 10 0 10 20 T (K) 30 0 40 ∆ln(ρ/Ωcm) / ∆(1/T) (K) 101 低温では絶縁化 TN に異常 7 Magnetoresistance H || easy-axis, I || stacking axis 0.05 0.00 GaBr4- ∆ R / R0 -0.05 -0.10 FeBr4- -0.15 HSF -0.20 T = 1.5 K -0.25 0 5 H/T 10 15 負の磁気抵抗 スピンフロップ磁場で異常 研究の目的 ・低温における電子状態の解明 ・負の磁気抵抗の起源の解明 Experimental ・非磁性 GaBr4- 塩の EPR ・Tight-Binding 計算 EPR of the GaBr4- salt Susceptibility Line width 8 4 2 TMI 0 0 100 H||a-axis H||b-axis H||c-axis 200 T/K ∆Hpp / mT χspin /10-4 emu mol-1 6 300 6 4 H||a axis H||b axis H||c axis 2 0 TMI 0 100 200 T/K 絶縁相:スピンが存在,より低温で反強磁性 ・Mott 絶縁化? 電荷秩序状態? 室温では均一1次元鎖 電荷秩序状態か 300 負の磁気抵抗の起源 d -電子系:主にπ -電子系だけと相互作用 しているとみなせる 絶縁相におけるπ -電子系の反強磁性の周期と d -電子系の反強磁性の周期が一致 π d 周期的磁気ポテンシャルが絶縁相を安定化 (抵抗の増加) 高磁場領域:周期的磁気ポテンシャルの消失 抵抗の減少(負の磁気抵抗) モデルの検証 π-電子系のスピン配置 d-電子系のスピン配置 π-d 相互作用の大きさの見積もり 負の磁気抵抗の再現 π 電子系のスピン構造 バンド構造:擬 1 次元的.2 倍周期で絶縁化 X M EF Q Γ X 4 8 3 a M + + 2 1 + Y Γ 予想される電荷・スピン 構造(倍周期を仮定) : ドナー 7 6 + Y 5 b U, V を含めた Tight-Binding 計算もこれを支持 d 電子系のスピン構造 4 a 8 3 d3 2 d7 1 ? d4 ? d8 7 ? d2 ? d6 6 d1 5 π-d 相互作用 (S-Br 接触) ?:隣接ドナー層と の相互作用で 向きが決まる ? d5 b 1 次元鎖の磁気モデル Jπd Jππ × 2 Jπd Jππ : GaBr4- 塩の 磁化率より,およそ Jππ = -290 K 分子場によるπ-d 相互作用の見積もり 1.4 H || a H || b Mean Field (hard) Mean Field (easy) 1.2 M / µB 1 Fitting parameters Jπd ~ -44.5 K anisotropy ~ 0.9 K 0.8 0.6 0.4 0.2 0 0 1 2 3 4 H/T 5 6 7 磁場中でのスピン構造 π d Hex < HSF π d Hex > HSF ・d 電子の影響:π電子と平行な成分のみ ・磁化率と上記モデルから磁気ポテンシャル が計算可能 Tight-Binding 計算 電子移動 on-site Coulomb π-d 相互作用項 inter-site Coulomb Zeeman 項 U : 1.0 eV V : U/2 = 0.5 eV を仮定 tij : ij 間のトランスファー積分 nπiσ : i 番目のサイトのスピンσの電子密度 270×270 k-point で,自己無撞着になるよう 繰り返し計算 計算結果と実測値との比較 357 計算されたギャップ: 実験を定性的に再現 ∆E / meV 356 355 354 定量的には 変化が大きすぎる 353 352 351 0 5 10 15 H/T Fitting parameter の導入(∆E' = a × ∆E ) 0 実験をよく再現 ∆R/R0 -0.1 負の磁気抵抗の起源 -0.2 -0.3 -0.4 0 exp. calc. a = 0.01 5 10 15 H/T d スピンによる 絶縁相の安定化 Conclusion π-d 系物質(EDT-TTFBr2)2FeBr4 ドナーがアニオンを引き付け強いπ-d が実現 絶縁相:電荷秩序状態が示唆される Jπd ~ −44.5 K (磁化過程より見積もり) 負の磁気抵抗の起源 低磁場:d 電子のポテンシャルが絶縁相を 安定化(高抵抗) 高磁場:d 電子のポテンシャルが弱まる 抵抗増加分が消失→負の磁気抵抗 Tight-Binding 計算で定性的に再現 今後の課題 : 計算の定量性の問題 実験と計算で 2 桁ものずれ ∆E = ∆ln(ρ/Ωcm) / ∆(1/T) / K ∆E = ∆ln(ρ/Ωcm) / ∆(1/T) / K TMI 80 FeBr4- TN 60 0 kbar 40 3.8 kbar 5.8 kbar 7.4 kbar 20 0 10.1kbar 13.8 kbar 0 10 120 T s 20 T/K 30 40 GaBr4- TMI TMI (EPR) 0 100 4.3 80 6.7 60 8.1 40 11.0 20 0 13.4 0 50 100 T/K 150 100 100 10-1 ρ (Ωcm) ρ (Ωcm) 10 TN 1 10-1 10-2 0 10-2 0 100 10-2 0 ρ (Ωcm) ρ (Ωcm) 10-1 200 T (K) 300 0 kbar 4.3 kbar 6.7 kbar 8.1 kbar 13.4 kbar 100 10-1 10-2 0 FeBr4- 10 20 30 40 50 T (K) 101 101 100 0 kbar 3.8 kbar 5.8 kbar 7.4 kbar 10.1 kbar 13.8 kbar 10 20 30 40 T (K) 100 200 T (K) 300 GaBr4- 0.05 Ga 0 kbar ∆ R / R0 0.00 -0.05 13.8 kbar 10.1 kbar -0.10 7.4 kbar -0.15 5.8 kbar 3.8 kbar HSF -0.20 T = 1.5 K -0.25 0 5 H/T 10 0 kbar 15 2.020 H||a-axis H||b-axis H||c-axis g-value 2.015 GaBr4- 2.010 2.005 2.000 0 100 200 T/K 300
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