SiC パワーデバイスの超高耐圧化・高チャネル移動度化技術の開拓

2015年2月13日 筑波大学物理工学域専攻セミナー(3F800セミナー室、15:00~)
SiC パワーデバイスの超高耐圧化・高チャネル移動度化技術の開拓
岡本 大
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
要旨:
電力需要の急激な増加が予測されており、電力の有効利用を担う電力変換器とそのシ
ステムの技術革新が求められている。電力変換に用いられるパワー半導体デバイスの損失
の主要因は、オン時のジュール熱であり、それを低減するためには、定格電流をできるだ
け低いオン電圧で達成することが重要である。そこで、従来の Si パワーデバイスに代わり、
優れた物性値を持つ SiC を用いたパワーデバイスの開発が盛んに行われている。
パワーデバイスにおいては、耐圧とオン抵抗が主要な性能となる。講演者はこれまで、
SiC デバイスの性能を向上することを目的とし、ゲート酸化膜界面へのリン(P)導入による高
移動度 SiC MOSFET の実証、超高耐圧 PiN ダイオードの量産プロセス確立、界面(B)導入に
よる高移動度 SiC MOSFET の実証などに取り組んできた。
本セミナーにおいては、講演者が独自に提案したシーズ技術である酸化膜界面への P
および B の導入による SiC MOSFET チャネル移動度の向上を中心に述べる。SiO2/SiC 界面
への P 導入により Si 面において電界効果移動度 89 cm2/Vs を、B導入により 102 cm2/Vs と
いう高い値を達成した。また、超高耐圧 SiC デバイスの開発においては、TIA-nano SiC デバ
イス量産試作ラインを活用して 13 kV 級 SiC PiN ダイオードの量産技術を確立し、高い歩留
りを有する大面積 PiN の開発に成功した。講演においては、これらの最近の研究成果を紹
介するとともに、今後の研究開発の展望について述べる。