卓上走査電子顕微鏡 ™ NeoScope ●より直感的な操作を実現 ● 豊富な機能 ●クイックレスポンス ● Easy メンテナンス 倍率 ×10 ∼ 60,000 真空モード 高真空／低真空 画像モード 二次電子像 反射電子像 加速電圧 15 kV ／ 10 kV ／ 5 kV EDS 機能 オプション 日本電子から新しいSEMのスタイル タッチパネルで簡単操作 In TouchScope JSM-6010PLUS/LA JSM-6010PLUS/LV ●オールインワン ●コンパクト ● 高性能 高真空モード 4 nm （20 kV） 8 nm （3 kV） 15 nm （1 kV） 低真空モード 5 nm （20 kV） 倍率 ×5 ∼ 300,000 画像モード 二次電子像、REF像 組成像、凹凸像、立体像 加速電圧 0.5 kV ∼ 20 kV (43段) 最大試料寸法 150 mm径 EDS機能 JSM-6010PLUS/LA （標準装備） JSM-6010PLUS/LV （オプション） High throughput Analytical SEM JSM-IT300series NEW High quality さらなる微細構造の観察 新電子光学系による高画質観察 新作動排気系による極低真空モード High-Throughput 優れた高速処理能力を支える 次世代操作環境 直感操作が可能なタッチパネル操作 High-Throughput Chamber EDS Integration ワンタップ分析 High extensibility マルチポートで拡がる解析 マルチパーパスチャンバー 豊富なアタッチメント EDS、Twin detector EDS、WDS、 EBSD、多数の予備ポート 分解能 高真空モード 3.0nm(30kV) 15.0nm(1.0kV) 低真空モード 4.0nm(30kV BED) 倍率 5 ∼ 300,000 倍 加速電圧 0.3kV ∼ 30kV 最大試料寸法 200mm 径 80mm 高さ（WD10mm） 画像モード 二次電子像、REF 像、 組成像、凹凸像、立体像 ＊記載内容および装置写真にはオプション機能が含まれています。 詳細は仕様書を参照ください。 ＊外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
© Copyright 2024 ExpyDoc
