＊操作講習会も随時開催しております。日時：4 月 24 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時場所：地域共同研究センター1 階汎用実験室電界放射型走査電子顕微鏡日本電子（株）製 JSM-6700（EDS JED-2200 付）電子を利用して試料表層から発生する二次電子により，試料表面の形態，微細構造を観察できます。フィールドエミッション型で電子線を極細く絞ることができるため，熱電子型よりも高倍率まで観察できます。分解能：1.0nm（加速電圧 15kV 時）加速電圧：0.5～ 30kV 倍率：×25～650,000 日時：5 月 1 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時場所：富山市新産業支援センター1 階機器分析室集束イオンビーム加工観察装置（株）日立ハイテクノロジーズ製 FB-2100 イオンビームで X-Y の二次元方向に走査を行い，試料を深さ方向にエッチングし，TEM 用の切片試料，SEM 用の断面試料を作製することができます。加速電圧：10～40kV 可変 (5kV ステップ) 最大ビーム電流：60nA 以上最大ビーム電流密度：50A／cm2 以上日時：5 月 8 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時場所：富山市新産業支援センター1 階機器分析室 TG-DTA （株）リガク製 ThermoPlus2 脱水・分解・酸化・還元などの化学変化と昇華・蒸発・吸脱着など質量変化を伴う物理変化の検出に利用できます。事前連絡不要です。測定温度範囲：室温～ 1,350℃ 該当日時のご都合よう時間に、装置のほうへお越しください。測定雰囲気：大気、窒素ガス＊観察・分析をご希望の試料がある場合は、事前にご連絡をお願いします。事前連絡不要です。上記の時間帯で、ご都合のよい時間に装置のほうへお越しください。対象機器の分析相談にも応じます。＊観察・分析をご希望の試料をお持ちの場合は、事前に連絡をお願いします。問合せ先・連絡先：機器分析施設平田暁子（内線：6715 e-mail：[email protected]）