DIS-5200A 5 8CH非耐G型衝突試験計測装置ひずみゲージ，ひずみゲージ式変換器，ピエゾレジスティブ式変換器，電圧，ポテンショメータ式変換器，その他直流電圧に変換できるセンサ，デジタル信号などを接続して測定ができます。センサからのデータは，増幅， A-D変換されて大容量メモリに格納されます。全体仕様使用温湿度範囲電源外形寸法質量使用温度範囲：0∼50℃ 使用湿度範囲：−10∼80％RH以内（結露なきこと） AC100V∼AC240V（50Hz／60 Hz） 327（Ｗ） 44（H） 180（Ｄ）mm（突起部含まず） 2kg以下 LED表示器 ●チェック機能個別仕様 ●８非耐型衝突試験計測装置 ●1ユニット8チャネル ●大容量フラッシュメモリ搭載（10kHzサンプリングでメモリ時間75秒） ●インタフェースはLAN(イーサネット)100BASE-TXを採用 ●ひずみゲージおよび半導体ゲージとその変換器，電圧，デジタル信号の計測が可能 ●コントローラはパソコン ●ローパスフィルタ（下記の何れかを選択可能）固定フィルタ SAE規格 CFC1000準拠（ISO6487-2002/SAE J211-1-2007）オーバシュート5％未満可変フィルタ伝達特性：5次バタワースカットオフ周波数：50Hz∼20kHzの範囲で設定可能（50，100，200，400，1k，2k， 4k，10k，20kの9段）カットオフ点の振幅比：−3dB 2dB 減衰特性：−30dB/oct ●A-Ｄ変換器分解能 16-bit サンプリング方式全チャネル同時サンプリング周波数 100，200，500， 1k，2k，5k，10k，16k，20k，50k， 100kHz，200kHz S/N比 50dB以上（固定フィルタ設定時） ●デジタル入力入力チャネル数 16 測定対象無電圧接点入力形式絶縁入力 ●データ集録部データ集録用メモリ 750kワード/チャネルSRAM （10kHzサンプリング時，約75秒記録可能）保持時間 3時間程度（電源OFF時スーパーキャパシタによるバックアップ）データ保存用メモリ 64MB FLASHメモリ ●トリガ外部トリガ無電圧接点入力 2点（絶縁入力）トリガ1及びトリガ2 レベルトリガ任意の3チャネルのレベルにより動作カスケードトリガユニット間または従来器のトリガ出力にて動作ソフトウェアトリガ外部コンピュータからのコマンドにより動作上記のイベントを検出し、その前後のデータを集録 ●同期機能ケーブル接続最大接続台数：16台（本器複数台をケーブルで接続） ●ＴＥＤＳ機能 IEEE1451.4(Mixed Mode Transducer interace Class2)対応読み込み（全エリア），書き込み（ユーザーエリアのみ） ●インタフェース 100ＢAＳＥ-ＴＸ準拠 ●表示器・ブザー状態表示用LED LED 自動車試験機器ダミー検定，コンポーネント試験等のデータを集録 -42 CH G Ready for Trigger Triggered Error Overflow 本器の状態を8文字の英数字で表示センサチェック／断線チェック／ゲインチェック／ブリッジ電源電圧チェック／メモリチェック本体操作ログを本体に記録 44 180 （189） ●ログ機能 ●アナログ入力 ■外形寸法図入力チャネル数 8 入力コネクタ 3ＲＴ01-ＲＷ7Ｆ（多治見無線電機社製適合プラグ 3ＲＴ01-ＰＢ7M）入力形式平衡差動入力（335）入力抵抗ブリッジ式センサ測定時：約（10MΩ＋10MΩ） 327 電圧測定時：約（100kΩ＋100kΩ）入力電圧範囲 20V ゲイン 0．1∼0．9（ 0．1ステップ） 1∼5000（ 1ステップ）ゲイン精度 0．2％ＦＳ以内平衡調整範囲ゲイン 0． 1∼0．9 ： 10V ： 1V 1∼19 ： 50mV 20∼99 100∼5000 ： 10mV 他機能入力短絡機能搭載（オフセット電圧除去用） ●ブリッジ電源印加方式チャネル独立（ＯN/ＯＦＦコントロール可）電源電圧 DC10V/5V/2V/OFF ブリッジ構成 2ゲージ法／4ゲージ法 DIS-5200A ブリッジ抵抗 120Ω∼5kΩ 精度 0.1％以内組合せ推奨品最大電流 30mA以上解析ソフトDIAdem → 4-11 衝突試験用解析ソフトウェア → 5-44 5-42