試験分析料金表 （公財）神奈川科学技術アカデミー 1 受託分析（消費税等5%を含みます） 平成25年 4月 1日 （1）電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM / EDS） 単位：円 項 目 観察倍率 5万倍未満 観察倍率 5万倍以上10万倍未満 表面微細形態・構造観察 単 位 1条件につき 金 額 18,900 1条件追加につき 4,200 1条件につき 27,300 1条件追加につき 8,400 1条件につき 48,300 1条件追加につき 13,650 エネルギー分散型X線分析装置（EDS） 1条件につき 13,650 （FE-SEMで撮影したものに限る） 1条件追加につき 観察倍率 10万倍以上 4,200 面分析1条件につき（5元素まで） 面分析1元素追加につき 14,700 2,100 （2）集束イオンビーム装置（FIB） 項 目 FIB FIB（連続自動加工） 単 位 金 額 1時間以内 31,500 追加1時間あたり 27,300 追加1時間あたり（但し、設定可能なものに限る） 15,750 FIBオプション（上記FIBの料金に加算） カーボン膜デポジション 10分あたり 2,100 タングステン膜デポジション 10分あたり 2,100 マイクロプロービングシステム 1時間あたり 16,800 アルゴンイオンミリング 30分あたり 10,500 SEM 1時間以内 23,100 追加1時間あたり 18,900 点分析1視野1箇所につき 15,750 SEMオプション（上記SEMの料金に加算） EDS分析測定 点分析同一視野内で1箇所追加につき 線分析1視野1箇所につき 線分析同一視野内で1箇所追加につき 面分析1視野につき(5元素まで) マニピュレーターによるサンプリング レーザーマーキング 5,250 21,000 7,980 31,500 面分析1元素追加につき 2,100 各種データ処理1条件につき 5,250 1試料につき 5,040 15分以内 4,620 追加15分あたり 3,780 1/6 （3）電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM / EDS） （ア）TEM観察 単位：円 項 目 倍率 10万倍以下 倍率 50万倍以下 微細構造撮影 結晶構造撮影 倍率 200万倍以下 倍率 201万倍以上 試料傾斜調整 単 位 1視野につき 金 額 16,800 1視野増すごとに 8,400 1視野につき 22,050 1視野増すごとに 12,600 1視野につき 30,450 1視野増すごとに 16,800 1視野につき 44,100 1視野増すごとに 26,250 1条件ごとに 11,550 （イ）電子線回折 項 目 単 位 金 額 制限視野回折 1視野につき 14,700 微小領域回折 1視野につき 26,250 明視野像 1視野につき 16,800 暗視野像 1視野につき 30,450 （ウ）エネルギー分散型X線分析装置（EDS） 項 目 単 位 1試料1測定点につき 点分析 同一試料において1測定点追加につき 1試料1測定点につき 定量分析 同一試料において1測定点追加につき 金 額 25,200 5,250 21,000 6,300 線分析 1測定5元素までごとに 63,000 面分析 1視野5元素ごとに、または2時間につき 97,650 （エ）試料調製 項 目 分散法 単 位 金 額 ふりかけ法 1試料につき 5,250 懸濁法 1試料につき 10,500 1試料につき 24,150 電解研磨法 イオンミリング法 易 1試料につき 94,500 中 1試料につき 189,000 難 1試料につき 283,500 低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） 1試料1条件につき 12,600 樹脂包埋 1試料につき 12,600 ミクロトーム法 切削 1試料につき 21,000 （高分子材料） 染色 1試料につき 25,200 1試料につき 76,650 1条件追加につき 27,300 FIB-リフトアウト法 低加速ガリウムイオン仕上げ FIB-マイクロプロービング法 1試料につき 105,000 1試料につき（試料作製のみ） 121,800 1条件追加につき 1試料につき アルゴンイオンミリング仕上げ 1試料につき（試料作製のみ） 1条件追加につき 2/6 27,300 118,650 135,450 27,300 （4）画像観察 単位：円 項 目 単 位 金 額 金属組織写真撮影 写真1枚につき 9,240 写真焼増し 写真1枚につき 420 外観写真撮影 写真1枚につき 4,620 マクロ組織写真 写真1枚につき 7,560 写真撮影1ヶ所増すごとに 同一試料で1ヶ所増すごとに 2,730 光学顕微鏡試料調製（第1種）：容易なもの 1試料につき 1,680 光学顕微鏡試料調製（第2種）：比較的容易なもの 1試料につき 3,150 光学顕微鏡試料調製（第3種）：比較的複雑なもの 1試料につき 6,300 光学顕微鏡試料調製（第4種）：非常に複雑なもの 1試料につき 9,240 デジタルマイクロスコープ 画像1枚につき 3,990 走査型プローブ顕微鏡（SPM） 1箇所測定につき 同一箇所倍率変更測定ごとに マイクロフォーカスX線検査装置 18,900 7,350 30分以内 6,300 追加15分あたり 2,730 25,200 超音波顕微鏡観測 1試料1ヶ所1条件につき 超音波顕微鏡観測（条件増） 同一試料1ヶ所､または1条件増すごとに 8,400 1試料につき 3,990 追加1試料につき 2,940 触針式表面粗さ計 （5）表面・成分分析装置 項 目 単 位 金 額 1試料1ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） 25,200 追加1試料1ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） 19,950 1試料1条件につき（ワイドおよびナロースキャン） 45,150 1条件増すごとに（面分析、状態分析加算等） 10,500 1試料1条件につき（主成分のみ、深さ0.2μmまで） 80,850 1条件増すごとに 10,500 1試料1ヶ所につき 31,500 1試料1条件につき 81,900 条件増 1条件増すごとに 18,900 簡易な測定 1試料につき 14,700 1試料につき 19,950 X線回折試験（XRD） 1試料につき 21,000 微小部蛍光X線分析（XRF） 1試料1条件につき 7,350 1条件追加につき 3,150 表面分析 X線光電子分光分析（XPS） 深さ方向分析 表面分析 オージェ電子分光分析（SAM） 深さ方向分析 フーリエ変換赤外分光分析 （FT-IR） 面分析1条件につき（5元素まで） 面分析1条件追加につき （6）光触媒JIS試験 12,600 2,100 単位：円 項 目 単 位 金 額 光触媒の窒素酸化物除去性能試験 1試料につき 60,900 光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 1試料につき 44,100 光触媒のトルエン除去性能試験 1試料につき 40,950 光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験 1試料につき 55,650 湿式分解性能の測定 1試料につき 42,000 水接触角の測定 1試料につき 61,950 水接触角の測定（光触媒JIS試験以外） 1試料1点につき 4,200 1点追加につき 1,050 光触媒のセルフクリーニング性能試験 3/6 （7）材料強度試験 単位：円 項 目 単 位 金 額 引張・圧縮・曲げ試験（1）：簡単な試験 1試料1条件につき 2,310 引張・圧縮・曲げ試験（2）：比較的簡単な試験 1試料1条件につき 3,780 引張・圧縮・曲げ試験（3）：標準的な試験 1試料1条件につき 5,250 引張・圧縮・曲げ試験（4）：やや複雑な試験 1試料1条件につき 6,720 引張・圧縮・曲げ試験（5）：複雑な試験 1試料1条件につき 9,030 高温引張試験 1本につき 12,600 常温衝撃試験 1本につき 1,260 低温衝撃試験 1本につき 2,100 硬さ試験 1点につき 1,050 硬さ試験試料調整（第1種）：容易なもの 1試料につき 1,680 硬さ試験試料調整（第2種）：比較的容易なもの 1試料につき 3,150 薄膜硬度測定装置 1試料1ヶ所につき 1ヶ所増すごとに 17,850 8,400 （8）温湿度環境試験 項 目 単 位 金 額 17,850 恒温恒湿槽（中） 24時間まで 恒温恒湿槽（中） 24時間増 24時間増すごとに 恒温恒湿槽（小） 24時間まで 恒温恒湿槽（小） 24時間増 24時間増すごとに 恒温恒湿槽（中） サイクル 24時間まで 恒温恒湿槽（中） サイクル24時間増 24時間増すごとに 恒温恒湿槽（小） サイクル 24時間まで 恒温恒湿槽（小） サイクル24時間増 24時間増すごとに 6,090 恒温槽 24時間まで 9,870 恒温槽 24時間増 24時間増すごとに 5,250 プレッシャークッカー試験 24時間まで 17,850 プレッシャークッカー試験 24時間増 24時間増すごとに 11,550 冷熱衝撃試験 （大） 8時間まで 9,240 冷熱衝撃試験 （大） 8時間増 8時間増すごとに 4,830 冷熱衝撃試験 （小） 8時間まで 8,400 冷熱衝撃試験 （小） 8時間増 8時間増すごとに 4,200 7,350 14,700 5,250 22,050 8,190 18,900 （9）試料前処理 （前項までの依頼試験を実施するものに限る） 項 目 試料前処理（切断、導電処理等） 単 位 処理時間30分につき 1試料につき ターゲット断面試料作製システム(EM TXP)による試料前処理 1条件追加につき 画像1枚につき 1試料につき 断面試料作製用イオンミリング装置 金 額 1,470 11,550 5,250 2,100 19,950 クライオの使用 1試料につき 5,040 1条件追加につき 5,040 4/6 2 試験分析結果報告書の作成 （消費税等5%を含みます） 項 目 単 位 金 額 データ処理（難易度により加算あり） 基本単位 5,250 考察（難易度により加算あり） 基本単位 10,500 複本作成（写真を焼き増しする場合は別に加算する） 1通につき 複本作成の写真焼増 630 FE-TEM 写真1枚につき 1,050 FE-TEM以外 写真1枚につき 420 3 機器使用料 （消費税等5%を含みます） 機 器 名 項 目 FE-SEM / EDS 単位：円 単 位 日立ハイテクノロジーズ S-4800 金 額 1時間以内 42,000 追加1時間あたり 36,750 1時間以内 57,750 追加1時間あたり 53,550 低エネルギーイオン研磨装置 リンダ社 Model IV5（ジェントルミル） 1時間につき 10,500 集束イオンビーム装置（FIB） FEI社 FIB200 1時間以内 15,750 追加1時間あたり 11,550 FE-TEM / EDS トプコン EM-002BF FIB・オムニプローブ 30分につき 4,620 集束イオンビーム装置（FIB） SII社 XVision200TB 1時間以内 54,600 追加1時間あたり 47,250 TEM用グリッド 1個につき 3,570 マニピュレーター ナリシゲ SISA-30TI-2 30分につき 2,730 レーザーマーカ HOYA LR2100ST 30分以内 4,200 追加30分あたり 2,730 フーリエ変換赤外分光光度計 日本電子 JIR-5500 1時間につき 7,980 X線回折装置 1時間につき 10,500 理学電機 RINT1500 追加1時間あたり 6,510 微小部蛍光X線分析装置 SII社 SEA6000VX HSFinder 1時間につき 5,250 金属顕微鏡 オリンパス光学工業 BX-51 1時間につき 1,470 デジタルマイクロスコープ キーエンス VHX-600 30分以内 2,940 追加30分あたり 1,470 走査型プローブ顕微鏡 デジタルインスツルメント社 NanoScope IV マイクロフォーカスX線検査装置 メディエックステック MXT-160UU 1時間につき 32,550 30分以内 3,570 追加15分あたり 1,470 表面粗さ形状測定機 東京精密 サーフコム550A 1時間につき 1,260 薄膜硬度測定装置 HYSITRON社 TRIBOSCOPE 1時間以内 6,720 追加30分あたり 2,520 エスペック PVH-110M 1時間につき 420 恒温恒湿槽（小）：-40～150℃ 楠本化成 ETAC TH411HA 1時間につき 630 恒温恒湿槽（中）：-40～150℃ 楠本化成 ETAC FX424P 1時間につき 840 恒温槽：室温～300℃ 恒温恒湿槽：-40～100℃ エスペック PL-3FPW 1時間につき 840 プレッシャークッカー 楠本化成 ETAC PM420 1時間につき 840 冷熱衝撃試験機（小） 楠本化成 ETAC TS100 1時間につき 1,050 冷熱衝撃試験機（大） エスペック TSA-71H 1時間につき 1,260 1時間につき 840 超低温恒温恒湿槽：-70～150℃ エスペック PSL-2KPH 5/6 機 器 名 項 目 電波暗室 単 位 TDK製（3m法） （測定帯域 30MHz～1GHz） 電波暗室 TDK製（3m法） （測定帯域 1GHz～18GHz） EMI測定システム アドバンテスト R3172他 インピーダンス安定化回路網（ISN） TESEQ社 ISN T8,T8CAT6 1時間以内 7,770 追加30分あたり 3,360 1時間以内 8,820 追加30分あたり 3,990 1時間以内 4,200 追加30分あたり 1,680 1時間以内 1,890 追加30分あたり 電源高調波電流測定器 Voltec PM3000ACE他 1時間以内 追加30分あたり 簡易放射イミュニティ試験器 パルスイミュニティ試験器 静電気試験器 伝導イミュニティ試験器 ノイズシミュレータ 電磁波妨害源探査装置 サーモフィシャー G-strip サーモフィシャー EMC-Pro ノイズ研究所 ESS-S3011>-30R SCHAFFNER NSG2070 ノイズ研究所 INS-4040 ノイズ研究所 EPS-M1 金 額 630 2,730 840 1時間以内 4,410 追加30分あたり 1,890 1時間以内 5,250 追加30分あたり 2,100 1時間以内 4,200 追加30分あたり 2,100 1時間以内 5,460 追加30分あたり 2,100 1時間以内 4,410 追加30分あたり 2,100 1時間以内 4,830 追加30分あたり 2,100 ノイズ発生器 ヨーク社 CNEⅢ 1時間につき 840 オシロスコープ レクロイ WaveRunner62Xi 1時間につき 2,310 カーブ・トレーサ ソニーテクトロニクス 571型 1時間につき 630 ダブルブリッジ 横河電機 2752型 1時間につき 630 ホイーストンブリッジ 横河電機 2768型 1時間につき 420 エレクトロニック検流計 横河電機 2709型 1時間につき 420 ACミリオームハイテスター 日置電機3560 1時間につき 630 マルチフリケンシLCRメータ YHP 4284A、4285A 1時間につき 840 超絶縁計 日置電機SM-8220 1時間につき 210 交流耐電圧試験器 日置電機3158 1時間につき 210 接触角計 協和界面科学 DM300 1時間あたり 3,150 紫外可視分光光度計 島津製作所 UV-1800 1時間あたり 2,730 万能材料試験機：100トン 前川 MR型 1時間につき 3,990 耐圧試験機 東京衡機 CM-100T 1時間につき 420 旋盤 ワシノ LR55A 1時間につき 420 フライス盤 フリードリッヒデッケル・FP-1 1時間につき 1,890 切断機 ニシムラ・NM-60 1時間につき 1,050 ボール盤 並木機械・NBD-340LR 1時間につき 210 立会人1人、15分あたり 機器操作指導料 （開放利用時に適用） 6/6 2,520
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