設備投資を決断するチャンス - リガクの分析装置は税制優遇の対象です - NG 生産性向上設備投資促進税制 即時償却または税額控除5% ［平成26年1月20日から平成28年3月末日まで］ 特別償却50% または税額控除4% ［平成28年4月1日から平成29年3月末日まで］ 生産性向上設備投資促進税制とは 平成26年1月20日に産業競争力強化法（生産性向上設備投資促進税制）が施行されまし た。国内で最新設備を導入すると、簡単な手続きで税制優遇が受けられることになりました。 リガクでは、日本分析機器工業会に認定された分析装置を取り揃えており、税制優遇が受けら れる証明書を送付させていただきます。 ★詳細は下記の経済産業省HPをご参照下さい。 http://www.meti.go.jp/policy/jigyou_saisei/kyousouryoku_kyouka/seisanseikojo.html 税制優遇の対象製品とは 「機械装置」及び一定の「工具」「器具備品」「建物」「建物付属設備」「ソフトウェア」のうち、 下記要件を全て満たすもの（リガク装置は「器具備品」に該当します） ①最新モデル ②生産性向上（年平均1%以上） ③最低取得価額以上（単品120万円/単品30万円かつ合計金額120万円を含む） ★リガク対象製品については次ページ以降を参照願います。 税制優遇の内容 ①対象設備を導入すると、下記の税制優遇が受けられます。 期間 平成26年1月20日から平成28年3月末日まで 平成28年4月1日から平成29年3月末日まで 税制優遇の内容 即時償却 または税額控除 5% 特別償却 50% または税額控除 4% ②資本金1億円以下の企業には「中小企業等に対する上乗せ措置」があります。 対象 資本金3000万円以下の法人等および 個人事業主 資本金3000万円超1億円以下の法人等および 個人事業主 税制優遇の内容 税制優遇の内容 即時償却 または税額控除 10％ 即時償却 または税額控除 7％ 申請の流れ お客様 ①証明書発行依頼 ④証明書の送付 リガク ⑤税務申告の際、確定申告書等 に証明書を添付することが可能 所轄の税務署 ※詳細については所轄の税務署へご相談下さい。 ②設備確認、証明書発行依頼 ③証明書発行 日本分析機器 工業会 リガク対象製品一覧 機種 Ｘ線回折 蛍光Ｘ線分析 熱分析 製品名 型式 デスクトップＸ線回折装置 MiniFlex300 デスクトップＸ線回折装置 MiniFlex600 試料水平型多目的Ｘ線回折装置 UltimaⅣ 全自動水平型多目的Ｘ線回折装置 SmartLab 微小部Ｘ線応力測定装置 AutoMATE Ⅱ デスクトップ単結晶Ｘ線構造解析装置 XtaLAB mini 湾曲イメージングプレートＸ線構造解析装置 RAPIDⅡ 分解能可変Ｘ線集光ミラー＆湾曲イメージングプレート X線構造解析装置 VariMax with RAPID ハイブリッドピクセル検出器搭載単結晶Ｘ線構造解析装置 XtaLAB P200 走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSXPrimus 走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSXPrimusⅡ 走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSXPrimusⅢ+ 波長分散小型蛍光Ｘ線分析装置 Supermini200 多元素同時蛍光Ｘ線分析装置 Simultix14 差動型示差熱天秤 Thermo plus EVO2/TG-DTA 高感度示差走査熱量計 Thermo pus EVO2/DSC8230 熱機械分析装置 Thermo plus EVO2/TMA 横型膨張計 Thermo plus EVO2/TDL 示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム Thermo Mass Photo Ⅹ線回折装置 粉末・薄膜・小角散乱・残留応力などの専用機まで、 さまざまな測定ニーズに応えるＸ線回折装置をラインナップしています。 デスクトップX線回折装置 MiniFlex600/300 ・上位機種に迫る角度分解能，角度精度を 有したデスクトップ型装置 ・X線作業主任者の選定不要 全自動水平型多目的回折装置 SmartLab ・幅広い材料に対する多彩な測定・評価を 1台の装置で実現可能 ・適切な測定条件を示すガイダンス機能搭載 試料水平型多目的X線回折装置 UltimaⅣ ・粉末専用のエントリーモデルからハイエンドの 薄膜測定システムまでをビルドアップ方式により 構築可能な試料水平型装置 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ ・非破壊製品評価を協力にサポート ・新型半導体検出器 、自動測定機能 、 大型試料にも対応可能 単結晶X線構造解析装置 誰でも簡単に測定できる卓上機から微小結晶が測定できる ハイエンド装置まで、さまざまな測定ニーズに応えるＸ線回折 装置をラインナップしています。 デスクトップ単結晶X線構造解析装置 湾曲イメージングプレートX線構造解析装置 XtaLAB mini ・組成式を入力するだけで、測定から 構造解析まで自動で実行できるモードを搭載 ・X線作業主任者の選定不要 分解能可変X線集光ミラー ＆湾曲イメージングプレートX線構造解析装置 VariMax with RAPID ・X線集光ミラー（VariMax）搭載により 微小結晶の測定が可能 ・高分解能、大面積、波長依存性のない イメージングプレート検出器搭載 RAPIDⅡ ・高分解能、大面積、波長依存性のない イメージングプレート検出器搭載 ハイブリット検出器搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB P200 ・X線集光ミラー（VariMax）搭載により 微小結晶の測定が可能 ・高分解能、感度ハイブリッドピクセル検出器搭載 ・シャッターレス測定により迅速測定可能 蛍光Ｘ線分析装置 波長分散型汎用機から専用機まで、幅広い元素分析ニーズに応える 各種蛍光Ｘ線分析装置をラインナップしております。 走査型蛍光X線分析装置 ZSXPrimusⅡ ZSXPrimus ZSXPrimusⅢ＋ ・超軽元素（B，C）分析可能 ・微小部/マッピング分析析可能（Primus・PrimusⅡ） ・方式：上面照射（PrimusⅡ・Ⅲ+） 下面照射（Primus） 波長分散型蛍光X線分析装置 Supermini200 ・卓上装置でありながら高出力200W X線管搭載 ・冷却水、液体窒素不要 多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix14 ・管理分析が迅速に可能 ・幅広い元素分析に対応可能な重/軽元素用の 走査型分光器搭載 熱分析装置 汎用型から超高温用熱分析装置、発生ガス分析装置や各種熱量計など、 さまざまな試料や測定目的などのニーズに応えます。 ～Thermo plus EVO2～ 差動型示差熱天秤 TG-DTA ・水平差動トリプルコイル方式を採用 ・各種アタッチメント：水蒸気発生装置（HUM）、 ガスフローユニット、オートサンプルチェンジャー ・各種ガスフローユニット接続可能 ・オートサンプルチェンジャー搭載可能 熱機械分析装置 TMA ・示差方式による高感度/高精度測定可能 ・各種測定方法に対応 （圧縮/引張荷重法・ペネトレーション法等） ・水蒸気発生装置（HUM）を搭載可能 高感度示差走査熱量計 DSC ・熱流束型方式を採用 ・オーバーシュートのないホールド温度制御可能 ・各種冷却アタッチメント装備 ・オートサンプルチェンジャー搭載可能 横型膨張計 TDL ・横型示差方式による横型膨張計高感度、 高精 度測定可能 ・各種ガスフローユニット接続可能 ・オートサンプルチェンジャー搭載可能 お問い合わせ先 東京支店 ／ 〒151-0051 渋谷区千駄ヶ谷4-14-4 ℡.03-3479-6011 Fax.03-3479-6171 大阪支店 ／ 〒560-1146 高槻市赤大路町14-8 ℡.072-696-3387 Fax.072-694-5852 名古屋営業所 ／ 〒461-0002 名古屋市東区代官町35-16 ℡.052-931-8441 Fax.052-931-2689 東北営業所 ／ 〒984-0022 仙台市青葉区大町1-2-16 ℡.022-264-0446 Fax.022-223-1977 九州営業所 ／ 〒802-0005 北九州市小倉北区堺町2-1-1 ℡.093-541-5111 Fax.093-541-5288
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