37. 維持率改善型キセノン水銀ランプ - ウシオ電機

光技術情報誌「ライトエッジ」No.14(1998年10月発行)
平成10年度照明学会・全国大会(1998年7月29日∼31日)
平成10 年度照明学会第31 回全国大会
37. 維持率改善型キセノン水銀ランプ
大西安夫 富永健二 戸田光 若畑康彦 杉岡儀陸 中野真知子
(ウシオ電機株式会社)
1.はじめに
キセノン水銀ランプと集光系を組み合わせた装置は、紫外線硬化や半導体の周辺露光などに広く使
用されている。特に集光ミラーの焦点とランプ陰極輝点の位置を高精度で固定した装置は、近年の主
流である。この装置の光出力の劣化の原因は、①ランプ陰極の溶融損耗により、陰極輝点の位置が集
光ミラーの焦点からずれること、②ランプ陰極損耗による陰極輝点の広がりが陰極輝点輝度を低下さ
せること、③陰極溶融損耗物が蒸発して発光管内面に付着し、紫外線透過率を下げることである。従
って、ThO2-W 陰極よりも動作温度が約1000℃低いBaO 系-W 陰極1)にすること、及び長時間エミッタ
が安定して供給可能な構造にすることで上記① ② ③の問題を解決した。その結果2000 時間の連続使
用で、装置の365nm 光出力の劣化がないキセノン水銀ランプを
完成したので報告する。
2.測定方法
図1 に測定系を示す。集光ミラーと直径5mm の光ファイバを
組み合わせた紫外線照射装置(ウシオ電機製スポットキュア)
に、陰極を下にして垂直にとりつけた。光ファイバ出口の365、
254nm の光出力を測定した。
3.ランプ構造
陰極の基体構造は穴加工されたW 棒の中でBa0 系-W が焼結さ
れた構造である(図2)。陰極輝点が広がらないようにするため
と、陰極からのエミッタ蒸発を少なくするために陰極先端径と
エミッタ供給路の径を同一にした。また消耗したエミッタを補
給するために、エミッタ供給路よりもエミッタ濃度の高いプー
ル部を設けた。また動作温度をさげるため、ThO2-W 陰極よりも
陰極体積を大きくしている。
図3 に今回開発した250W キセノン水銀ランプの概略図を示す。
4.ランプ寿命特性
図4 に図1 の測定系においての365、254nm の光出力の維持率
を示す。365nmでは2000 時間において維持率100±4%であった。
254nm では2000 時間において維持率90±4%であった。
5.おわりに
今回開発したキセノン水銀ランプは、2000 時間連続使用で、
装置出口におけ365nm 光出力がほとんど劣化しないものであり、
さらに長寿命も期待できる。
参考文献
1)大西安夫 他2:輝度高安定型キセノンランプ用陰極
平成2 年度照明学会全国大会要旨集 38(1990)
Xenon mercury lamps with improved luminance mainteance
Y.Ohnishi K.Tominaga H.Toda Y.Wakahata Y.Sugioka M.Nakano
学会発表
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光技術情報誌「ライトエッジ」No.14(1998年10月発行)
平成10年度照明学会・全国大会(1998年7月29日∼31日)
維持率改善型キセノン水銀ランプ
参考資料
図5 紫外線照射装置の概要
図6
図7 ランプの概略図
図8
従来型ThO2-Wプール型BaO-W陰極の概略図
寿命テストと光出力評価
図9 キセノン水銀ランプの分光分布
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