Charge identification

2005.8.8
Charge identification
in Dec. 2004 chamber
歳藤利行
親粒子Z=6
40℃
38℃
pl100
pl98
gain(パルスハイトのピーク値)
がばらついている
pl97
要補正
プレートごと、エリアごと
pl96
pl
Pl83より上流はconstant
pl
Pl90より上流はconstant
補正前
補正後
深さ依存性
f(pl)=0.041*pl2-8.2*pl+const
vph40+vph38-f(pl)
pos=pl*10+n
vph40+vph38-f(pl) pl>60
10→20プレートの平均
He
570
Li
680 750 800
Be B C
40℃
vph40-f(pl)/2
38℃
vph38-f(pl)/2
40℃
38℃
C
B
Be
Li
He
Plate>70
Likelihood function
パルスハイト
( P  P0 ) 2


L(Z , T )  e

Po(パルスハイト分布の平均)
σ(パルスハイト分布の拡がり)
L(Z )  L(Z ,38o C)  L(Z ,40o C)
電荷(Z)の期待値
2  L(2)  3  L(3)  4  L(4)  5  L(5)  6  L(6)
 Z 
L(2)  L(3)  L(4)  L(5)  L(6)
ビーム
2次粒子
0.01<Θ<0.1
2次粒子
Θ<0.4
反応に関する
トラックすべて

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