2009.3.17 第12回若手科学者によるプラズマ研究会 JT-60Uにおける 中性子-ガンマ線弁別多視線計測 石井啓一、 岡本敦、 篠原孝司 A、 石川正男 A、 馬場護 B、磯部光孝 C、 北島純男、 笹尾眞實子 東北大学大学院 工学研究科 量子エネルギー工学専攻 日本原子力研究開発機構 A 東北大学 サイクロトロン・RIセンター B 核融合科学研究所 C 1 背景 JT-60Uでは重水素プラズマによる実験が行われ、以下に 示すような放射線が主に発生する DD反応による2.5 MeV中性子 DT反応による14 MeV中性子 壁材料との核反応によるg線 荷電粒子による制動放射線 中性子発生率の空間分布計測を行うことにより、様々な情報 を得ることができる JT-60Uのように、中性粒子ビームとバルクのプラズマによる核融合 反応が支配的な環境における高速イオンの挙動 中性子発生率の空間分布から自己加熱源となるa粒子の発生分布 2 JT-60Uにおける中性子分布計測 7本のコリメータアレイを用い、中性子発生率の線積分値を計測 ポロイダル断面に対して斜め視線6本、垂直視線1本 中性子検出器にはスチルベン結晶 (f 1 in×t1 in)を使用 E49786 7.2s シンチレーション光の放出 反跳陽子(中性子) 電子(g線) Chord 2 Chord 7 Chord 3 Chord 4 Chord 5 Chord 6 Chord 1 スチルベンは中性子だけでなくg線も感度が あるため、中性子とガンマ線の弁別(n-g弁 別)が必要 3 アナログ回路を用いたn-g弁別 光電子増倍管(PMT)の下流に設置されたアナログ弁別回路を用いてn-g弁別が 行われてきた ⇒ ~1×105 cpsで飽和現象が見られる この問題を解決するため、2006年よりデジタル信号処理を用いた中性子計測を 開始した[1] Photomultiplier 計数率の飽和 [1] M. Ishikawa et al., Rev. Sci. Instrum.77, 10E706 (2006). Circuit for discrimination Stilbene crystal 4 Digital Signal Processors system 光電子増倍管のアノード信号を高速のアナログ-デジタルコンバータ (Flash ADC)に直接取り込む(縦軸分解能10 bit) アノードからのアナログ信号を一定のサンプリングでデジタイズ Flash ADCのメモリにデータが蓄積された後、PCに転送 JT-60Uにおける通常の計測時 データサイズ : 7 GB (1 GB×7 chord) サンプリング : 200 MS/s (最大8 GS/s) 計測時間 : 約2.7 s (200 MS/s 時) 5 デジタルデータ解析用ソフトウェア 記録されたデータは、ソフトウェアに よりオフラインで解析 E49813 chord 1 2 GS/s ソフトウェアを用いたn-g弁別には電 荷積分法を採用 波形解析のために要求される機能 連続波形からのパルスピーク検出 ⇒ デジタイズされたデータの最大値 を”height”として記録 ⇒ ピークが検出された時刻情報を保持 “Qfast” “Qslow” 検出した各パルスに対して3つの領 域にて積分を実行 ⇒ “Qfast”, “Qslow”, “Qtotal” パイルアップ事象の除去 パルスの減衰時間 中性子 g線 : 長い : 短い 中性子由来、g線由来のパルスの減衰時間 が異なることを利用して弁別 6 n-g弁別のための2次元プロット(1) 1放電につき、~106個程度のイベントが発生 height vs. Qslow/(Qfast+Qslow)空間に1パルスにつき1点をプロット ⇒ 2次元プロットを n-g 弁別に使用 中性子とg線の2つのピーク群を確認 200 MS/s g DT 低波高部において、2つのピークが 完全に分離していない Height g n DD Qslow/(Qslow + Qfast) 中性子の領域にg線が混入する恐れがある 7 n-g弁別のための2次元プロット(2) 200 MS/s g 2次元プロットの新たなパラメータを提案 ⇒ 全積分値Qtotalで規格化したQslow vs. Qfast n 中性子とg線グループが明確に分離 従来の弁別と新しい弁別方法を比較 1) 新たな2次元プロットにて中性子のグループを選択 200 MS/s 2) 選択したパルスのみを従来の2次元プロットに再変換 低波高部分での中性子とg線の分離に成功 新たな2次元プロットには、一部の高エネルギー g線が中性子のグループに混入 ⇒ 再変換後には容易に分離が可能 8 g線混入の原因 新しい弁別において、高エネルギーのg線が混入する原因を調査 ⇒ 高サンプリング(2 GS/s)データを使用して、パルス波形を解析 2 GS/s 2 GS/s 高波高g線 低波高g線 高波高、低波高の2つの領域からg線の パルス波形を取得 ⇒ 20パルスの平均値を対数表示 波高により、パルス形状が異なる 高波高では傾きが2つ ⇔ 低波高では3つの傾き 9 2重n-g弁別 2つの2次元プロットの特長を生かし、より精度の高いn-g弁別を実現 従来の弁別方法 ⇒ 高エネルギー部に最適 新しい弁別方法 ⇒ 低エネルギー部に最適 1. 新しい2次元プロットを使用して中性子を選択 2. 従来の2次元プロットに変換し、高エネルギーg線を除去 10 トリトン燃焼 DD中性子 D + D → 3He + n (2.5 MeV) ~50 % D + D → p + T (1 MeV) ~50 % D + T → 4He + n (14 MeV) DT中性子 DT中性子を計測することにより、トリトンの閉じ込め に関する情報が得られる 11 中性子発生率の時間変化 波高分布において2つの領域を設定 ⇒ DD中性子、DT中性子それぞれに 対する発生率の時間変化が得られる 200 MS/s DD中性子、DT中性子発生率の時間変化を 同一の検出器で同時計測することが可能 DT中性子が定常となるまでの時間がDD 中 性子よりも遅れていることを確認 1 MeVトリトンの減速時間との比較が必要 12 ELMによる中性子発生率の変化 端部局在モード(ELM)の発生に同期した 中性子発生率の変動を観測 ⇒ 高計数率での計測が可能となり、時間分 解能が向上したため 周辺視線(Chord5,6)にて顕著 中心視線ではChord 2のみ顕著 300 ms間における中性子計数率の平均 値からの変動を評価 中心視線(Chord 2)と周辺視線(Chord 5)には計数率の減少に位相差が存在 中心視線の減少は周辺視線よりも~5 ms 程度の遅れ 今後の解析により、高速イオンの影響を 検討 ⇒ ELMに伴いバルクプラズマの密度も減少 しているため、切り分けが必要 13 検出器の較正 E49786 7.2s Chord 7 Chord 3 Chord 5 Chord 1 http://www.naka.jaea.go.jp/etc/h20/gaiyou_fns.html 日本原子力研究開発機、核融合中性子源施設(FNS)にて7本の検出器 の絶対較正を予定 4本の検出器に関して、DT中性子にてデータを取得 ⇒ 解析中 14 まとめと今後の課題 デジタル信号処理を用いたn-g弁別について、Qtotaldにて規格化したQfast、 Qslowをパラメータとした2次元プロットを導入した。従来の2次元プロットと 併用した2重弁別によって精度の高い弁別が可能になった。 DSPシステムにおいて弁別精度が向上したことにより、同一の検出器で 信頼性の高いDD中性子、DT中性の同時計測が可能となった。 DT中性子発生率の時間変化がDD中性子よりも遅れることが観測されて おり、今後1MeVトリトンの減速時間やシミュレーションとの比較・検討が 必要である。 DSPシステムの導入により、高計数率環境下における計測が可能となっ た。これに伴って中性子発生率の時間分解能が向上し、ELMに同期した 変動が観測された。 7本の検出器は感度較正が行われていないため、来年度JAEA核融合中 性子源施設(FNS)において較正実験を行う。既に一部の検出器に関して データを取得しており、今後解析を進める。 15 ELMによる中性子発生率の変化(2) 中性子発生率の変動率を増加分に ついても評価 増加・減少ともに同程度の変動率 Haのスパイクは中性子発生率の 減少フェーズと同期 周辺視線(Chord 5)の方が中心視線 (Chord 2)よりも2倍程度高い変動率 Chord 2は中性子発生率の高い中 心部を見込んでいるため、周辺部の 影響が現れにくい可能性 ⇒ 時間遅れについて説明できない ELMに伴い、周辺部から中心部に 向かって不純物が侵入している 可能性 16 最大波高値の変動 高計数率環境下での計測において、PMTから出力されるパルスの最大 波高値が変動する現象が観測 DD中性子の波高はほとんど変化が見られない 最大波高値の低下 波高変動は高波高部のみに起こる可能性 g線のピークが2本存在 DD中性子の 最大波高 ピークの形状が変化していることからゲイン変 動時にパルスが相似でなくなることを示唆 17 波高変動を含むデータの解析 最大波高の変動を含むデータでは、通常の方法で弁別することが出来ない ⇒ 最大波高の変動が無視できる程度の時間幅に区切る 時間幅を区切ることで、2次元プロットを 用いたn-g弁別が可能 ⇒ 全時間に対して弁別することで、発生率 の経時変化が得られる 計数率の時間変化が小さければピーク 形状はほぼ不変 0.0 ≦ time ≦ 0.2 0.9 ≦ time ≦ 1.4 1.4 ≦ time ≦ 1.5 18 解析の自動化 n-g弁別の解析手法が確立したことにより、解析の自動化を検討 E48824の放電で選択した中性子領域 を、E48826のデータに適用 ⇒ ピーク位置がずれたことにより、 一部中性子の取りこぼしが発生 別放電(E48824)で選択した領域 ピーク位置のずれに関する特徴 ピーク位置がずれる放電と、ずれない 放電とが存在する 同一の実験シリーズであっても、ピーク 位置のずれが突如として生じることが ある ピーク位置がずれる原因を調査中 ピーク位置のずれが生じる問題を解決 することにより、自動解析を実現可能 別放電(E48824)で選択した領域 19 積分領域の変更 7本の検出器すべてが同じパルス波形 であると仮定 ⇒ 全ての検出器に対して同一の積分領域 で電荷積分法を実行 一部の検出器において、DT中性子とg線との 分離が不明確 積分領域の変更 各検出器ごとに積分領域を変更する 必要がある ⇒ 積分領域変更後、DT中性子が明確に分離 7本全ての検出器に対して、同一の 検出器にてDD中性子、DT中性子を 同時検出可能 20
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