ワイドダイナミックレンジアンプの開発 片寄祐作 池田博一 田中真伸 横浜国大・工 JAXA/ISAS KEK 1. 研究の背景 2. 0.5μmCMOSプロセスによる ASIC開発 3. 0.25μmCMOSプロセスによる ASIC開発 4. まとめ 2010年 7月 1日オープンソースコンソーシアム ワークショップ @KEK 研究の背景 -GeVからTeV領域の高エネルギー宇宙線観測実験- 最近の実験と検出器の例 BESS Fermi LAT 20GeV ~ 1TeV ATIC < 数十TeV CREAM 10GeV ~ 100TeV CALET 1GeV- 1000TeV ● ATIC BGO + PMT(Anode+Dynodes) + ASIC ( BGO 22X0 、10MeV – 20TeV ) ● CREAM TRD, Tungsten-Scintillating fiber + HPD+VA32HDR2 (1fC以下 – 15000fC) ● Fermi LAT CsI(Tl) + Dual PIN PD + ASIC (W:1.5X0+CsI:8.6X0、5桁の読み出し) ● CALET PbWO4 + PD,APD + Hybird IC ( W:3X0+PbWO4:27X0、0.5 ~106粒子) ワイドダイナミックレンジアンプASIC開発 要求性能 4桁のダイナミックレンジでの測定 1fC以下から数十pC 低消費電力、多チャンネル、放射線耐性 ● 0.5μmCMOSプロセスによるASIC開発 2008年 「ASICデザイン講習および製作実習」に参加 KEK ASICライブラリー(FE2006)を使用。 ● 0.25μmCMOSプロセスによるASIC開発 2009年9月~ OPEN-IP(JAXA 、池田氏)を使用 0.5μmCMOSプロトタイプASICのブロック図 時定数:500nsec 時定数:1μsec~10μsec カットオフ周波数:30MHz 電源電圧:±2.5V 積分用コンデンサの容量:12pF PZC:High gain ×8, Low-gain ×1/2 LPF: 多重帰還型ローパスフィルター 1ch分の回路構成 Charge amp. PZC(Low gain) PZC(High gain) LPF(Low gain) Buffer LPF(Low gain) Buffer ライブラリー FE2006 シミュレーションによって決定した回路図。 各パートのボックスはKEKで開発された回路で CMOSとコンデンサ、抵抗で構成されている。 回路周りのCMOS、抵抗はバイアス電源。 0.5μmCMOSプロセスによる試作回路 TSMC社 0.5μmCMOS 性能評価:リニアリティ 正入力 負入力 約1300fC(<5%) High gain 約26000fC(<5%) Low gain High gain 約700fC(<5%) Low gain 約8600fC(<5%) 16倍 性能評価 ノイズスロープ 宇宙線ミュー粒子測定 CsI(Tl)+Si PIN-PD (18×18mm2) Peak=7.8 fC FWHM[fC]= 3.2×10-4[fC/pF]×C + 0.27[fC] まとめ 0.5μmCMOSプロセスにより光センサーに用い るワイドダイナミックレンジなASICを開発した。 KEK ライブラリー FE2006を使用。 性能 ●最大レンジ:約26pC ●消費電力:28.6mW(+2.5V)、37.7mW(-2.5V) ●ノイズレベル: ~0.3fC@100pF 0.25μmCMOS ワイドレンジアンプASICのブロック図 ・ASICの微細化→ 低消費電力、 TID対策 ・多チャンネル化 ・ADCの実装 ・ゲイン切り替え 回路デザイン:Charge amp. OPEN-IP(JAXA) Shaper回路部分 直流帰還調整電圧入力 回路デザイン:Shaping amp. PZC 回路デザイン:Charge amp. +Shaping amp. Charge amp. Sharping amp. Capacitor部分 C:4pF +4pF(SW)+8pF(SW) 共通回路 PZC 1pF amp. 漏れ電流補償回路 4pF 16pF Registor部分 64pF 回路デザイン:Shaping amp.+ADC COMMON内部 Shaping amp. ADC ウィルキンソン(Wilkinson)型ADC スイッチ信号 ADC出力 ランプ電圧 (パルス幅) (コンパレータ入 シェーパーアウト信号 SPICEによるWDAMPの性能評価 リニアリティー Lowest-gain LG0,LG1:on Vth=100mV コーナー条件:TT Digital control inputs Highest-gain LG0,LG1:off Vth=100mV コーナー条件:TT デジタル制御 制御レジスタ:CONTROL_CCR 、 CONTROL_LCR コントロール用外部入力と関係した出力信号 INPUT RESTORE1 : Preamp. レストア 信号 RESTORE2 : Shaping amp. レストア信号 HOLDB : Shaping amp. out ホールド信号 INITB : 制御レジスタ リセット信号 DIN : 制御レジスタデータ WCK : レジスタ書き込み用クロック WR : レジスタ書き込み許可信号 SELCK : レジスタセレクト信号用クロック SELIN : レジスタセレクト信号 OUTPUT DOUT : レジスタデータ出力 SELOUT : -> SELIN WIDTH0-3 : ADC出力 MONOUT : preamp. out(MONOUT0)/shaping amp. out(MONOUT1) AOUT : ホールド出力 回路デザイン 全体図 Analog monitor out Digital control inputs. ADC 出力 16ch =4ch/amp.×4amps 入力 4ch 0.25μmCMOSプロセスによるレイアウト図 Analog部 Digital部 Bias電源回路 +register CSA+S.A.+ADC +register ADC 出力 16ch 入力 4ch 空きエリア VSS シリコンアーティスト テクノロジー社 電源ライン Analog部 Digital部 まとめ 宇宙線カロリメータに使用する ワイドダイナミッ クレンジアンプの開発を行っている。 ・ 0.5μmCMOSプロセスのASICを開発し、 性能を評価した。 [KEK ライブラリー使用] ・ 0.25μmCMOSプロセスによるASIC開発中 [JAXA Open-IPを使用] レイアウト図まで完成。
© Copyright 2024 ExpyDoc