徳山高専地域支援シーズ集地域支援可能シーズのタイトル：半導体材料の光物性評価と半導体光デバイスの性能評価（ふりがな）むろたにひであき E-mail murotani 氏名室谷英彰電話番号 FAX 番号 0834-29-6309 0834-29-6309 職名助教学位・資格博士（工学）所属学会・協会応用物理学会地域支援可能シーズの名称および概要ワイドギャップ半導体材料の光物性評価に関する実験的研究を行っています。半導体材料の発光および非発光再結合過程を実験的に解明することより，発光ダイオードや半導体レーザーといった半導体光デバイスの性能向上のための設計指針の確立と，新規な光機能性を有するデバイス構造の提案を目指して研究を進めています。１）半導体材料の光学的特性評価レーザー光を光源としたフォトルミネッセンス（ＰＬ）分光測定およびラマン散乱分光測定、キセノンアークランプを光源とした反射スペクトル測定による物性評価と関連事項についての技術相談に対応可能です。２）半導体光デバイスの性能評価発光ダイオード，太陽電池等の半導体光デバイスの性能評価と関連事項についての技術相談に対応可能です。３）半導体光デバイスの応用製品の開発発光ダイオード，半導体レーザー，フォトダイオード，太陽電池といった半導体光デバイスを応用した製品の開発に関する技術相談に対応可能です。また，試作品の性能評価等にも可能な範囲で対応致します。適用実績提供可能な設備・機器・解析ソフト・教材・ビデオ・PPT 等の名称・型番（メーカー）及び概要金文光波 HeCdレーザー (325 nm) 電子冷却ＣＣＤ検出器(50cm分光器に接続) COHERENT 全固体レーザー (405 nm) 小型ＣＣＤ分光器（380∼800 nm, 0.5nm分解能）小型分光器（300∼800 nm, 0.5 nm分解能）住友重工ＧＭ式冷凍機（4 300 K） 50 cm 分光器 (150, 600, 2400ｇ/mm回折格子) キセノンアークランプ（150Ｗ） Tokuyama Kosen-SEEDS